TMS-500 TopMap Pro.Surf精密零件表面特性分析系统

ContourX-500光学轮廓仪是世界上较全面的自动化台式系统，用于快速、非接触式3D表面计量。可测量的ContourX-500拥有无与伦比的Z轴分辨率和精度，并以更小的尺寸提供布鲁克白光干涉（WLI）落地式模型的所有行业公认的优势。从精密加工表面和半导体工艺的质量保证/质量控制（QA/QC）计量到眼科和MEMS器件的研发表征，Profiler可针对较广泛的复杂应用轻松定制。

TREVISTA CAM缩小了智能相机的简单应用与苛刻的表面检测任务之间的差距。它基于获得专利的TREVISTA照明，并结合了功能强大的智能相机，预装了Teledyne Dalsa的Inspect或Sherlock机器视觉软件。CVS TREVISTA Cam非常适合需要检查零件的地形和纹理细节的应用，即使它们是具有挑战性的光滑/弯曲表面或装饰零件。预先配置的系统意味着您可以立即打开包装并开始测试。

这款较新的便携式车间轮廓系统以Talysurf系列的形式提供了32mm的宽范围，以适应典型组件上的较大功能，并具有足够的分辨率来检测较小的轮廓偏差（120nm）（超精度模式在6.4mm范围内提供25nm）。20mm范围拾取选项提供75nm分辨率（在4mm范围内提供15nm）。

Aylor Hobson Stylus光学轮廓仪：Form Talysurf PGI Matrix易于设置、测试和分析单个或多个零件。该仪器是一种完美的光学表面形状测量系统，可快速准确地测试直径达200毫米的光学元件。模块化系统，可适应不同的预算和技术需求。Form Talysurf PGI Matrix是一款完美的全方位仪器，适用于从小型手机镜头到大型天文光学的全自动2D和3D光学计量。当测量速度和吞吐量是必须时，我们的生产力工具套件为批量测试提供了独特的优势。集成的PGI测量仪技术与复杂的自动化软件和硬件相结合，现在为用户提供了测量自由曲面光学器件的能力，这在以前是不可能的。

NanoCam SQ动态光学轮廓仪可测量超光滑光学和精密表面的表面粗糙度。非接触式NanoCam SQ是对传统工作站光学轮廓仪所需的杂乱复制方法的巨大改进，并为测量大型光学器件提供了出色的便携性。通过启用机器上的粗糙度计量，NanoCam SQ提高了产量。通过消除运输昂贵的关键任务光学器件的需要，NanoCam降低了损坏的风险。NanoCam SQ光学轮廓仪采用动态干涉测量法（Dynamic Interferometry®），集成了高速光学传感器，测量速度比传统光学轮廓仪快数千倍。由于采集时间非常短，NanoCam SQ可以在振动的情况下进行测量，因此可以将仪器安装在抛光设备、台架或机器人末端执行器上。NanoCam SQ结构紧凑，重量轻，可直接放置在大型光学器件上。有了这种定位的自由度，NanoCam可以测量大型光学器件上任何位置的表面光洁度。NanoCam SQ动态光学轮廓仪包括4Sight高级分析软件。业界领先的4Sight报告ISO 25178表面粗糙度参数（S参数），并提供广泛的2D和3D分析选项、数据过滤、屏蔽、数据库和导入/导出功能。