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专业选型
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正规认证
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品质保障
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激光束剖面仪
厂家：World Star Tech
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BEAMAGE-M2自动测量系统
厂家：Gentec-EO
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4象限激光位置感应探测器 QUAD-4TRACK
厂家：Gentec-EO
光电查为您提供49个产品。下载资料，获取报价，实现功能、价格及供应的优化选择。
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STANDA - 11WFS-Prime - Shack-Hartmann波前传感器
波长范围（nm）: 400...1100 传感器孔径(格式): 1/3"(1/2") - 4.5×2.8 (6.4×4.8) 相机分辨率: 744×480 pixels 微透镜阵列参数(间距,mm-焦距,mm): 0.15 - 6 (for base version) 微透镜数量: 30×18 (42×32)11WFS-prime Shack-Hartmann波前传感器是一款低噪声、宽波长范围的实时测量设备，能够测量波前、光束强度和光束质量，适用于自适应光学系统。
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STANDA - 11Beamage-3 - CMOS光束测绘相机
传感技术: CMOS 有效孔径: 11.3×6.0mm 波长范围: 350–1150nm 波长范围: 1495–1595nm 像素数量: 2.2MPixels11Beamage-3是一款基于CMOS技术的光束分析相机，具有高分辨率和大面积传感器，支持USB3.0接口，适用于光束轮廓测量和分析。
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STANDA - 11Beamage-3-IR - CMOS光束测绘相机
传感技术: CMOS 有效孔径: 11.3×6.0mm 波长范围: 350–1150nm 波长范围: 1495–1595nm 像素数量: 2.2MPixels11Beamage-3是一款高分辨率CMOS光束分析相机，支持USB 3.0接口，适用于光束轮廓测量和分析。
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斑驳的USB2.0
探测器类型: Dual-axis Si with glass cover 探测器类型: Dual-axis Si resin no glass 探测器类型: 4XSi sectors separated by 10μm gap, glass cover 探测器类型: 4XSi sectors separated by 30μm gap, no glass cover 尺寸: 10mmx10mm该光电探测器具有多种型号，适用于精确的光束位置测量和功率检测。
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激光分析自动准直仪
瞄准精度: 2sec/10μrad 发散测量能力: 0.4-20mrad (0.25mrad for 1/3'' CCD option) 激光最大平均功率: 5mW 视场: 40°(2400sec of arc) 视场: 80°(4800sec of arc)一种精确的USB 2.0设备，结合了自动准直仪和对准望远镜的功能，并具有激光束分析能力。
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用于高功率光束分析仪的反射光束采样器
光谱范围: 250-2000nm 采样衰减因子: 0.0016 采样衰减因子: 1.1×10^-5 尺寸: 40mm直径×31mm长度 重量: 40gDuma Optronics推出了一款新的反射光束采样器，适用于高精度、高功率光束分析仪和光束定位系统。该光学采样器通过两个正交表面反射光束，每个表面反射约4%的入射光束，同时保持光束的形状和偏振特性。
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光束定位和测量系统SPOTANA9
电源电压: ±15V 输入电压: ±15V 工作温度: 0°C-50°C 电流消耗: ≤15mA 最大工作激光功率（HeNe）: 1μW-250μW（高增益模块）/10μW-2500μW（低增益模块）SpotOn Analog是一款光束位置和功率测量系统，采用模拟版本，能够快速、精准地测量激光位移和功率。
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激光传播监视器LPM200
传感器类型: 2/3" CCD 分辨率: 1388×1036 pixels 像素尺寸: 6.45μm×6.45μm 光敏区域: 9.0mm×6.7mm 数字输出: 12 BitLPM200是一款用于激光束质量控制的激光传播监测器，能够自动测量激光的聚焦能力和光束质量参数M²，适用于工业应用。
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光束定位和测量系统SPOTANA4
电源电压: ±15V 输入电压: ±15V 工作温度: 0°C-50°C 电流消耗: ≤15mA 最大工作激光功率（HeNe）: 1μW-250μW（高增益模块）/10μW-2500μW（低增益模块）SpotOn Analog是一款光束位置和功率测量系统，采用模拟版本，能够快速、精准地测量激光位移和功率。
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M2光束多轴刀口扫描激光束
光束传播参数: 支持 光束腰位置: 支持 光束直径: 支持 发散角[mrad]: 支持 瑞利范围: 支持多轴刀口扫描激光束分析仪，支持M²参数测量，适用于高精度光束分析。
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LPM200 - 激光传播监视器200
传感器类型: 2/3" CCD 分辨率: 1388×1036 pixels 像素尺寸: 6.45μm×6.45μm 光敏区域: 9.0mm×6.7mm 数字输出: 12 BitLPM200是一款用于激光束质量控制的激光传播监测仪，能够自动测定激光的聚焦能力和光束质量参数M²，适用于工业应用。
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gRay位置感应装置 - B05-PC
感应面积: 25 感应面积: 25 感应面积: 25 感应面积: 25 最大功率: 5gRAY系列热激光功率探测器提供快速、准确的激光功率测量，适用于多种激光系统和应用场景。
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激光分析望远镜
光谱响应: 350-1600nm (用户可选) 视场角: ±5mrad 清晰光圈: 100mm 增益控制: 1-24dB 快门速度: 39μs至20秒创新型光学激光测量望远镜，用于角度分析。
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gRay位置感应装置 - C50-PC
探测面积: 25 最大功率: 5 最小可探测功率: 5 响应时间: 0.2 最大功率密度: 1.5gRAY系列激光功率探测器提供快速、准确的激光功率测量解决方案，适用于多种激光系统和功率计集成。
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4象限激光位置感应探测器 QUAD-9-MT-P-D0
最大平均功率: 200mW 噪声等效功率: 1μW 光谱范围: 0.1-3000μm 典型上升时间: 0.02s 最大功率密度: 100mW/cm²四象限激光位置传感探测器，适用于连续波激光器（使用切光器）。
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BM8304 - 光束监测仪8304
波长范围: 340–1100nm 传感器类型: CCD 2/3" 光束尺寸: 70μm–6.5mm 像素尺寸: 6.45μm 图像传感器像素: 1.4MPBM8304是一款紧凑型光束分析仪，包含BPC8304ML光束分析相机和Beamlux图像处理软件，适用于所有市场的标准光束分析。
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用于1-200Nm的X射线的光束分析和光束成像
在X射线中可视化和测量光束的目标具有新的重要性。Star Tech Instruments开发了新的系统来分析这些光束的功率/能量、均匀性、高分辨率光束轮廓和图像分析。型号µBIP10X是一款真空兼容（1x10-10 Torr）光束轮廓仪和光束成像系统，设计用于1-10 nm的高分辨率。该系统适用于200nm。10倍MAG。1.5 mm的场具有0.6µm的分辨率，并且对非常低的能级敏感。该系统设计用于1.3 X 1.3传感器，但可以针对其他相机格式进行修改。可根据要求提供不同的放大倍率和相机。μBIP系列是STI较新的成像系统，专为使用软X射线而设计-#91；1-2 nm-#93；不应将其用于准分子激光器的较长波长，如193nm或248nm，这将导致严重的内部损伤。较重要的是，该系统设计用于高真空室，使用我们的定制真空法兰组件将光学系统连接到真空室。法兰的额定压力为10-8托。
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角度计LA 50mm PSD9 USB
重量: 990g (传感器头和镜头) 光谱范围: 350-1100nm 电源电压: ±18V (PSD版本) 传感器类型: 双轴横向效应传感器 (PSD) 或 CMOS 传感器尺寸: 4.7x3.4mm (CMOS), 4x4mm (PSD), 9x9mm (PSD)AngleMeter Wide Aperture是一款用于监测激光束偏差的高精度光学测量设备，能够实时测量激光束角度和功率的微小变化，适用于实验室和生产环境。
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锥型散射计
接口类型: USB 3.0 重量: 13kgConoscopic Scatterometer是一款用于实时测量光散射的高精度设备，支持BRDF、BTDF、半球反射率或透射率、PSD和角分辨散射等多种测量模式。
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角度计LA 50mm PSD4模拟式
重量: 990g（传感器头和镜头，3m长电缆） 光谱范围: 350-1100nm 电源电压: ±18V（PSD版本） 传感器类型: 双轴横向效应传感器（PSD或CMOS） 传感器尺寸: 4.7x3.4mm（CMOS版本），4x4mm（PSD版本），9x9mm（PSD版本）AngleMeter是一款用于监测激光束偏移的光电设备，通过监测光束角度的变化来测量与外壳的偏移（单位mRad）。该设备适用于实验室和生产车间的各种光学测试需求，配备大输入孔径镜头和高精度检测能力（由CMOS或PSD型探测器提供），能够在较大的视场范围内测量微小偏移。