光学检测

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  • XRV-100数码相机幻影 光学检测

    XRV-100数码相机幻影

    美国
    分类:光学检测
    厂家:Logos Systems
    准确性: 0.2mm 重复性: ±0.02mm (典型值) 矢量Theta/Phi重复性: ±0.05度 (典型值) 光学系统分辨率: 1280×960像素,缩放至640×480像素 捕获速率: 1-30帧/秒

    XRV-100是一款用于质子和X射线束检测的数字相机模型,结合了高能辐射检测和精密计量技术,能够实现完全电子化的束测量。

  • YXLON FF35 CT高分辨CT检测系统面板4343 CT 光学检测

    YXLON FF35 CT高分辨CT检测系统面板4343 CT

    美国
    分类:光学检测
    最大能量: 225kV 最大功率: 320W 细节可见性: ≥4μm TXI: 是 最大能量(可选/可改装): 190kV

    YXlon FF35 CT是一款多功能、高分辨率的计算机断层扫描(CT)检测系统,专为精密和中型零件的检测而设计。

  • YXLON UX20通用X射线和CT检查系统 Y.Panel 2323 HB 光学检测

    YXLON UX20通用X射线和CT检查系统 Y.Panel 2323 HB

    美国
    分类:光学检测
    机柜宽度: 2550mm 机柜深度: 1770mm 操作高度: 2350mm 运输高度: 2150mm 重量: 160kV: 4300kg, 225kV: 5300kg

    UX20是一款通用的X射线和CT检测系统,专为中型至大型铸件设计,提供高效的2D和3D检测能力。

  • YXLON Cheetah EVO为X射线检查定制的标准件 光学检测

    YXLON Cheetah EVO为X射线检查定制的标准件

    美国
    分类:光学检测
    尺寸(宽×深×高): 1650×1400×2050mm 重量: 2200kg 电源连接: 230V±10% AC, 50/60Hz, 1 Phase, neutral and ground conductor 保险丝保护: 16A 最大功耗: 2.5kVA

    Cheetah EVO是一款定制化的X射线检测系统,专为表面贴装技术(SMT)、半导体和实验室应用设计,提供高精度的计算机断层扫描和自动化检测功能。

  • XRV-2000猎鹰摄影幻影机 光学检测

    XRV-2000猎鹰摄影幻影机

    美国
    分类:光学检测
    厂家:Logos Systems
    束中心精度: 0.2mm 重复性: ±0.04mm (typical) 光束直径: 1.0mm 光学系统分辨率: 1280x960 pixels with 8 and 12-bits per pixel 捕获帧率: 1-30 frames/sec (typical)

    XRV-2000 Falcon Beam Profiler是一款结合高能辐射检测与二维测量技术的设备,提供完全电子化的替代方案,用于基于胶片的测量。它能够以无与伦比的速度和精度测量辐射束的XY位置和轮廓,适用于单束和质子能量层图案。

  • XRV-124检测器幻影 光学检测

    XRV-124检测器幻影

    美国
    分类:光学检测
    厂家:Logos Systems
    准确性: XYZ Beam Center: 0.3mm (hi-res), Repeatability: ±0.03mm (typical), Vector Theta/Phi: 0.3 degree (hi-res), Repeatability: ±0.1 degree (typical) 光学系统: 1280×960 pixels or 640×480 pixels, Capture Rate: 1-30frames/sec, Cone Angle: 45degree, Usable Cone Area: 140mm over 360degree, Width: 30-60mm 镜头MTF: Megapixel resolution 相机接口: USB3 相机屏蔽: 12.7mm thick bismuth and polymer composite, -1,500×X-ray beam hours

    XRV-124是一款用于质子和X射线束计量的3D数字相机模型,结合了高能辐射检测的精密计量技术,提供了完全电子化的替代方案。

  • vcprobe-nir-stg-2 光学检测

    vcprobe-nir-stg-2

    法国
    分类:光学检测
    厂家:Eldim

    VCPROBE-NIR-STG是测量小孔径近红外光源的理想选择,为LED和激光器等近红外光源提供了一种高效的测量解决方案。该系统可在±70°视角锥内进行全图测量,具有出色的角分辨率,工作距离为4mm非接触式测量。建议用于2.5 mm出射光瞳发射器。DXY+/-1 mm容差,相对于位置的可重复性优于1%,便于在线定位。VCPROBE-NIR-STG在940 nm波长下校准,可为研发和大规模生产/质量控制应用提供高速和精确的测量。如果您需要一个类似的系统用于特殊项目或大规模生产,我们可以建立一个符合您要求的系统。

  • 两轴或三轴的纯视频系统 光学检测

    两轴或三轴的纯视频系统

    美国
    分类:光学检测
    厂家:Acu-Gage Systems
    标准尺寸: 12"×12", 24"×24", 36"×36", 36"×48", 300mm×300mm, 600mm×600mm, 900mm×900mm, 1200mm×1200mm Z轴范围: 6"至12",以1英寸为增量,150mm至300mm 分辨率: 0.0005mm (1/2 micron) 或 0.0001mm (tenth micron) 编码器类型: Heidenhain线性编码器 光学系统: 黑白或彩色摄像头,7:1变焦镜头

    Acu-Gage的两轴或三轴视频测量系统是一种耐用的测量工具,采用稳固的桥式结构设计,光学元件独立于测量平台移动,适用于多种工业领域的精密测量需求。

  • NLIR光谱仪 光学检测

    NLIR光谱仪

    丹麦
    分类:光学检测
    厂家:NLIR
    光源功率: 30W 曝光时间: 20ms 光谱读取频率: 50Hz 最大光谱读取频率: 400Hz 光谱范围: 2.0–5.0μm

    NLIR光谱仪是一款用于中红外光传输测量的设备,能够以20ms的曝光时间捕获单次数据。

  • XPLOR-100三维光学检测站 光学检测

    XPLOR-100三维光学检测站

    美国
    分类:光学检测
    XYZ定位精度: +/-0.001mm 相机分辨率: 1280x1024 像素尺寸: 5.3μmx5.3μm 测量区域: 100mmx100mmx100mm 位深度: 10Bits

    XPLOR 100是一款全自动计量设备,专为可见光和近红外波段光学基板中的气泡和夹杂物的测量和分析而设计。

  • WP640成像色度计 光学检测

    WP640成像色度计

    加拿大
    分类:光学检测
    传感器型号、对角线尺寸、像素间距: True Sense KAI-04022, 21.4mm, 7.4μm 传感器型号、对角线尺寸、像素间距: Sony ICX814, 16.0mm, 3.69μm 传感器型号、对角线尺寸、像素间距: Sony ICX834, 15.8mm, 3.1μm 传感器类型: 16-bit, interline transfer CCD image sensor with microlens 传感器像素: 4.2

    WP640/WP690/WP6120系列成像色度计提供2D亮度和色度测量,具有高分辨率和精确的CIE三刺激值匹配滤光片,适用于多种光电测量场景。

  • VisiSight微型光电传感器 光学检测

    VisiSight微型光电传感器

    美国
    分类:光学检测
    认证: cULus Listed and CE Marked for all applicable directives 冲击: 30g with 11ms pulse duration, meets or exceeds IEC 60947-5-2 振动: 10...55Hz, 1mm amplitude, meets or exceeds IEC 60947-5-2 外壳防护等级: IP67 工作温度: -40°C至+60°C (-40°F至+140°F)

    VisiSight系列是Allen-Bradley公司推出的微型光电传感器,具有高性能和多功能性,适用于多种工业自动化应用。

  • 用于三维IC-TSV过程控制的TMAP-AP计量解决方案 光学检测

    用于三维IC-TSV过程控制的TMAP-AP计量解决方案

    法国
    分类:光学检测
    厂家:FOGALE Nanotech

    TMAP-API是用于3D IC/TSV工艺控制的完整计量解决方案,在性能、产量和拥有成本(COO)之间实现了较佳平衡。TMAP-AP可测量多层堆栈,并按其放置顺序进行区分。即使在高度扭曲的条件下,TMAP系列的先进设计也能在您需要的时间和地点提供可靠的测量。

  • TMAP NST3D非接触式全场计量解决方案 光学检测

    TMAP NST3D非接触式全场计量解决方案

    法国
    分类:光学检测
    厂家:FOGALE Nanotech

    TMAP NSTIS是一种基于光学显微镜的非接触式全场计量解决方案,能够在纳米尺度上进行表面形貌测量。TMAP NSTI突破了传统显微镜的界限,其性能超越了接触轮廓术,进入了AFM领域。

  • 用于人体发热检查的Thermoscreen热成像系统 光学检测

    用于人体发热检查的Thermoscreen热成像系统

    美国
    分类:光学检测
    厂家:OptoTherm Inc

    Optotherm公司正在申请专利的技术提供了较准确的方法来大规模筛查可能表明发烧的面部皮肤温度升高。因为它既快速又无创,所以ThermoScreen是保护行人流量高的区域的较佳方法。ThermoScreen较初是为了应对2003年严重急性呼吸综合征爆发期间对大量潜在发热个体进行筛查的需要而开发的。热屏在无需远距离接触的情况下扫描受试者,提供了一种谨慎而安全的方法来检测潜在的发烧个体。每小时可检查超过1,000人,以免限制行人流量。ThermoScreen作为一个完整的、经过全面测试的系统出售,包括一台预装了硬件和软件的计算机。

  • si255 - 光学传感仪器 光学检测

    si255 - 光学传感仪器

    美国
    分类:光学检测
    厂家:Luna Innovations

    Si255是一款工业级无风扇光学传感询问器。Si155具有静态和动态全光谱分析功能,可对4、8或16个平行、160 nm宽通道上的数百个传感器进行长期、可靠和精确的测量。Si255具有高功率、低噪声、超宽扫描波长激光器,每次扫描都能保证绝对精度,这是通过微米光纤法布里-珀罗滤波器和波长参考技术实现的。Si255所基于的Hyperion平台具有突破性的功能,包括高性能DSP和实时FPGA板载处理。这使得光纤布拉格光栅(FBG)、长周期光栅、Fabry-Perot(FP)和Mach-Zehnder(MZ)传感器的快速、全光谱数据采集和灵活的峰值检测算法成为可能,并且对闭环反馈应用的数据访问具有低延迟。Hyperion平台现在与传感分析软件Enlight兼容,Enlight为光学传感器网络的数据采集、计算和分析提供了一套工具,有关更多信息,请参见http://www.micronoptics.com/products/sensingsolutions/software/。Hyperion平台还包括全面的应用程序编程接口(API)和用LabVIEW、Python、MATLAB、C++和C#编写的示例。

  • 选择器环境室+备件 光学检测

    选择器环境室+备件

    英国
    分类:光学检测
    厂家:Specac Inc
    工作温度范围: 最高800°C 工作压力范围: 0.001Torr至500psi 腔体材质: 316不锈钢 窗口材料: ZnSe(可选其他材质)

    Specac提供的环境腔体设计用于与Selector™漫反射附件一起使用。该环境腔体通过允许在真空(0.001Torr)至500psi的压力下以高达800°C的温度研究漫反射样品,扩展了Selector™的采样能力。固体或粉末样品被放置在一个采样杯中,进行可控气氛的DRIFTS光谱分析。

  • OpTest和LensCheck测量系统 光学检测

    OpTest和LensCheck测量系统

    分类:光学检测
    光谱范围: UV至LWIR 空间分辨率: 线对/毫米 视场角: 覆盖物体空间和图像空间的角视场 入口光瞳直径: 根据测试系统需求 工作F数或数值孔径: 适用于无限共轭或有限共轭系统

    OpTest® Lens Measurement System是一款用于光学镜头和成像质量测试的综合测量系统,提供高精度和高效的镜头和相机系统测量工具。

  • vcprobe-nir-dsd 光学检测

    vcprobe-nir-dsd

    法国
    分类:光学检测
    厂家:Eldim

    该系统具有非接触式测量功能,可在单次测量中产生±40°的视角,从而提供0.05°的出色角度分辨率。该系统针对单个VCSEL进行了优化,工作距离为30mm。VCPROBE-NIR-DSD可为研发和大规模生产/QC应用提供高速和精确的测量。如果您需要用于特殊项目或大规模生产的类似系统,我们可以构建满足您要求的系统。

  • vcprobe-nir-stg-1 光学检测

    vcprobe-nir-stg-1

    法国
    分类:光学检测
    厂家:Eldim

    VCPROBE-NIR-STG是测量小孔径近红外光源的理想选择,为LED和激光器等近红外光源提供了一种高效的测量解决方案。该系统可在±70°视角锥内进行全图测量,具有出色的角分辨率,工作距离为4mm非接触式测量。建议用于2.5 mm出射光瞳发射器。DXY+/-1 mm容差,相对于位置的可重复性优于1%,便于在线定位。VCPROBE-NIR-STG在940 nm波长下校准,可为研发和大规模生产/质量控制应用提供高速和精确的测量。如果您需要一个类似的系统用于特殊项目或大规模生产,我们可以建立一个符合您要求的系统。