光束分析仪

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  • 光电查
    以色列
    分类:光束分析仪
    厂商:Duma Optronics
    传感器类型: CCD可衡量的来源: CW, Pulsed波长范围: 350 - 1310 nm最大全帧率: 25HzADC: 12-bit

    µBEAM是一种光束诊断测量系统,用于实时测量和显示亚微米范围内的小型CW或脉冲激光器、光纤和激光二极管光束轮廓。主要功能包括:测量小于0.5µm(FWHM)的光束,处理CW或脉冲,具有长工作距离,使用高分辨率CCD响应范围,用于快速光束搜索的光学变焦。µBeam应用于CD拾音器、激光二极管、拾音器透镜和光学元件的调整、各种光束参数的评估和测试。使用SAM3-HP光束采样器,还可提供高功率版本的µBeam。

  • 光电查
    以色列
    分类:光束分析仪
    厂商:Duma Optronics
    传感器类型: CCD可衡量的来源: CW, Pulsed波长范围: 350 - 1310 nm# 像素(宽度): 1040# 像素(高度): 1392

    µBeam HP是一种光束诊断测量系统,用于实时测量和显示亚微米范围内的小型CW或脉冲激光器、光纤和激光二极管光束轮廓。主要功能包括:测量小于0.5µm(FWHM)的光束,处理CW或脉冲,具有长工作距离,使用高分辨率CCD响应范围,光学变焦用于快速光束查找。在当今的技术中,越来越多的工业高功率激光器被设计成具有几个微米的微观范围。在较重要的焦点测量这些激光束是一项艰巨的任务,其密度水平超过每平方毫米10兆瓦。新款µBeam HP配有气冷式光束采样器。这使得能够以1nm的分辨率测量微小光束。

  • 光电查
    德国
    分类:光束分析仪
    厂商:Metrolux GmbH
    传感器类型: CCD可衡量的来源: Pulsed波长范围: 340 - 1100 nmADC: Other

    低S/N比和高传感器响应线性度是该Metrolux光束剖面仪中采用的传感器的主要特性。该软件提供了国际标准EN-ISO 11145、11146、11670和13694所需的功能,涵盖了激光表征的各个方面。Beam Profiler相机BPC8304使用1.4 Mpixel CCD传感器,方形像素大小为6.45µm。340至1100 nm的波长范围允许分析所有常见的激光波长。数据接口为千兆以太网(GigE)。由于大多数计算机已经提供了GigE接口(与FireWire相反),因此通常不需要添加单独的接口卡。电缆长度可轻松达到100米,便于集成到生产系统中。

  • 光电查
    美国
    分类:光束分析仪
    传感器类型: Other可衡量的来源: CW波长范围: 1 - 200 nmADC: Other

    在X射线中可视化和测量光束的目标具有新的重要性。Star Tech Instruments开发了新的系统来分析这些光束的功率/能量、均匀性、高分辨率光束轮廓和图像分析。型号µBIP10X是一款真空兼容(1x10-10 Torr)光束轮廓仪和光束成像系统,设计用于1-10 nm的高分辨率。该系统适用于200nm。10倍MAG。1.5 mm的场具有0.6µm的分辨率,并且对非常低的能级敏感。该系统设计用于1.3 X 1.3传感器,但可以针对其他相机格式进行修改。可根据要求提供不同的放大倍率和相机。μBIP系列是STI较新的成像系统,专为使用软X射线而设计-#91;1-2 nm-#93;不应将其用于准分子激光器的较长波长,如193nm或248nm,这将导致严重的内部损伤。较重要的是,该系统设计用于高真空室,使用我们的定制真空法兰组件将光学系统连接到真空室。法兰的额定压力为10-8托。

  • 光电查
    加拿大
    分类:光束分析仪
    厂商:Gentec-EO
    传感器类型: CMOS可衡量的来源: CW, Pulsed波长范围: 350 - 1150 nm# 像素(宽度): 2048# 像素(高度): 1088

    BEAMAGE-4M激光束轮廓仪基于CMOS相机,并与CW和脉冲激光束特性一起使用。

  • 光电查
    加拿大
    分类:光束分析仪
    厂商:Gentec-EO
    传感器类型: CMOS可衡量的来源: CW, Pulsed波长范围: 1495 - 1595 nm# 像素(宽度): 2048# 像素(高度): 1088

    BEAMAGE-4M激光束轮廓仪基于CMOS相机,并与CW和脉冲激光束特性一起使用。

  • 光电查
    加拿大
    分类:光束分析仪
    厂商:Gentec-EO
    传感器类型: CMOS可衡量的来源: CW, Pulsed波长范围: 350 - 1150 nm# 像素(宽度): 2048# 像素(高度): 1088

    BEAMAGE-4M激光束轮廓仪基于CMOS相机,并与CW和脉冲激光束特性一起使用。

  • 光电查
    加拿大
    分类:光束分析仪
    厂商:Gentec-EO
    传感器类型: CMOS可衡量的来源: CW, Pulsed波长范围: 350 - 1150 nm# 像素(宽度): 2048# 像素(高度): 1088

    Gentec-EOCMOS光束投影相机。

  • 光电查
    加拿大
    分类:光束分析仪
    厂商:Gentec-EO
    传感器类型: CMOS可衡量的来源: CW, Pulsed波长范围: 1495 - 1595 nm# 像素(宽度): 2048# 像素(高度): 1088

    Gentec-EOCMOS光束仿形相机

  • 光电查
    加拿大
    分类:光束分析仪
    厂商:Gentec-EO
    传感器类型: CMOS可衡量的来源: CW, Pulsed波长范围: 350 - 1100 nmADC: 8-bit, 10-bit, 12-bit

    Gentec-EO自动M2测量系统。

  • 光电查
    以色列
    分类:光束分析仪
    厂商:Duma Optronics
    传感器类型: CCD可衡量的来源: CW, Pulsed波长范围: 190 - 1310 nm# 像素(宽度): 720# 像素(高度): 576

    用于激光束分析的完整系统,由一个CCD摄像头、一套外壳中的3xNG Schott彩色滤光片(NG4、NG9、NG10)、一个USB 2.0附件、CD盘上的软件、手提箱和用户手册组成。Beamon系统是一种用于实时测量连续或脉冲激光束的光束诊断测量系统。它测量激光束的参数,如:强度分布,光束宽度,形状,位置和功率。软件还提供梁分析设置和结果的报告功能(参见下载中的示例)。Beamon配有USB附件和软件驱动设备,可通过高速USB 2.0端口连接到笔记本电脑(或台式机),并在Windows 7操作系统(32位和64位)和Windows 8上运行。CCD轮廓仪克服了相机型光束轮廓仪有限的动态范围,每次测量都以不同的衰减或电子快门速度进行。Duma专利技术使用户能够查看小于激光束较大功率密度1%的特征。

  • 光电查
    以色列
    分类:光束分析仪
    厂商:Duma Optronics
    传感器类型: CCD可衡量的来源: CW, Pulsed波长范围: 350 - 1310 nm# 像素(宽度): 1040# 像素(高度): 1392

    Duma'的高功率激光测量设备是一种强大的一体化仪器,内置较先进的空气冷却光束收集器,使用350-1600 nm激光工作。它将测量M²,BPP(光束传播参数),在其焦点位置的光束尺寸小于100微米。独特的功能允许以每秒5次的速率测量功率变化。特殊的用户友好软件将在工业计算机上显示结果,或使用客户计算机的USB接口显示结果。

  • 光电查
    以色列
    分类:光束分析仪
    厂商:Duma Optronics
    传感器类型: CCD可衡量的来源: CW, Pulsed波长范围: 350 - 1310 nm# 像素(宽度): 576# 像素(高度): 750

    Beamon HR系统是一种用于实时测量连续或脉冲激光束的光束诊断测量系统。它提供激光束参数,例如:光束宽度、形状、位置、功率和强度分布。软件还提供梁分析设置和结果的报告功能(参见下载中的示例)。

  • 光电查
    以色列
    分类:光束分析仪
    厂商:Duma Optronics
    传感器类型: CCD可衡量的来源: CW, Pulsed波长范围: 350 - 1310 nm# 像素(宽度): 1200# 像素(高度): 1920

    Beamon Long-Bow是一个由CCD型光束剖面仪组成的测量站,辅以高倍率光学和计算技术。这是一个功能强大的光束诊断测量系统,用于实时测量和显示连续或脉冲激光。该系统是一种用于检测反射光束的成像光束剖面仪,Beamon Long-Bow可用于远距离目标反射的朗伯光束,以及各种光束参数的评估和测试。测量的主要参数有:光强分布、光束宽度、光束位置和光束形状。该系统配备了强大的变焦光学和校准功能。

  • 光电查
    以色列
    分类:光束分析仪
    厂商:Duma Optronics
    传感器类型: CMOS可衡量的来源: CW波长范围: 350 - 1600 nm# 像素(宽度): 1200# 像素(高度): 1920

    Beamon U3由于其独特的功能,实际上是一个各种激光束的总测量站,其235万像素的高分辨率探测器具有12位的动态范围和350-1600 nm的光谱响应,通过全套附件,该设备的通用性大大提高,可以测量高功率和低功率激光以及大光束和极小光束。USB带宽的进步提供了测量波束的高更新率。对于极端的功率水平,可以很容易地连接加压空气冷却光束采样器,以提供几千瓦的激光束测量。

  • 光电查
    美国
    分类:光束分析仪
    厂商:DataRay
    传感器类型: CMOS可衡量的来源: CW波长范围: 190 - 1150 nm# 像素(宽度): 1280# 像素(高度): 1024

    Dataray公司的基于CMOS相机的激光束轮廓仪BladeCam系列仅为46x46x11.5 mm,是市场上较小的光束轮廓仪!这些CMOS相机可以处理从190到1605nm的波长(取决于型号)。

  • 光电查
    美国
    分类:光束分析仪
    厂商:DataRay
    传感器类型: CMOS可衡量的来源: CW波长范围: 190 - 1150 nm# 像素(宽度): 2048# 像素(高度): 1536

    Dataray公司的基于CMOS相机的激光束轮廓仪BladeCam系列仅为46x46x11.5 mm,是市场上较小的光束轮廓仪!这些CMOS相机可以处理从190到1605 nm的波长(取决于型号)

  • 光电查
    德国
    分类:光束分析仪
    厂商:Metrolux GmbH
    传感器类型: CCD可衡量的来源: CW波长范围: 340 - 1100 nm# 像素(宽度): 1392# 像素(高度): 1040

    低S/N比和高传感器响应线性度是该Metrolux光束剖面仪中采用的传感器的主要特性。该软件提供了国际标准EN-ISO 11145、11146、11670和13694所需的功能,涵盖了激光表征的各个方面。Beam Profiler相机BPC8304使用1.4 Mpixel CCD传感器,方形像素大小为6.45µm。数据接口为千兆以太网(GigE)。由于大多数计算机已经提供了GigE接口(与FireWire相反),因此通常不需要添加单独的接口卡。电缆长度可轻松达到100米,便于集成到生产系统中。

  • 光电查
    日本
    分类:光束分析仪
    传感器类型: CCD可衡量的来源: CW波长范围: 193 - 1100 nmADC: Other

    紫外激光光束轮廓仪在工业应用中有着良好的记录,可用于半导体和显示器行业中加工激光材料的准分子激光器,以及Nd:YAG激光器的三次、四次和五次谐波。该产品的基本系统由基于UV探测器的相机和先进的BeamLux II软件组成。根据有效面积,可以测量从10um到100mm的光束直径。

  • 光电查
    日本
    分类:光束分析仪
    传感器类型: CCD可衡量的来源: CW波长范围: 157 - 308 nmADC: Other

    紫外激光束轮廓仪在工业应用中有着良好的记录,可用于半导体和显示器行业中加工激光材料的准分子激光器,以及Nd:YAG激光器的三次、四次和五次谐波。该产品的基本系统由基于紫外探测器和高级BeamLux II软件的相机组成。根据有效面积,可以测量从10um到100mm的光束直径。

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