光束分析仪

相关分类

光电查为您提供42个产品。 下载资料,获取报价,实现功能、价格及供应的优化选择。

  • 光电查
    分类:光束分析仪
    厂商:DataRay Inc.
    传感器类型: Microbolometer可衡量的来源: CW, Pulsed波长范围: 2000 - 16000 nm# 像素(宽度): 640# 像素(高度): 480

    WinCAMD-IR-BB激光光束轮廓仪是一种用于中波红外和远红外范围激光的成像解决方案。WinCAMD-IR-BB光束轮廓仪具有17µm像素、2-16µm波长范围和集成快门,可提供无与伦比的光束轮廓能力。WinCAMD-IR-BB的信噪比超过1000:1,可进行符合ISO11146标准的光束测量。基于微测辐射热计的相机具有非常高的灵敏度,集成的快门允许全自动非均匀性校正。WinCAMD-IR-BB激光束剖面仪由Dataray的全功能、高度可定制、以用户为中心的软件提供支持,该软件无许可费、无限制安装和免费软件更新。该软件支持使用我们的M2DU阶段进行M^2测量。对于更高功率的激光器,Dataray提供了一系列采样、吸收和反射衰减器,用于超过相机较大功率的光束。功率限制。

  • 光电查
    分类:光束分析仪
    厂商:DataRay Inc.
    传感器类型: CMOS可衡量的来源: CW, Pulsed波长范围: 355 - 1150 nm# 像素(宽度): 2048# 像素(高度): 2048

    Dataray WinCAMD-LCM CMOS激光束分析仪提供USB 3.0传输速率和高分辨率1英寸。探测器适用于从OEM集成到R&D的各种应用。这款光束轮廓仪可在190至1605 nm范围内使用,在2048×2048有效面积内提供5.5µm像素,更新速率高达60 Hz,并具有光学/TTL(晶体管-晶体管逻辑)触发器。CMOS探测器消除了彗星拖尾,全局快门和触发使能脉冲捕获。USB 3.0接口配有专有的可定制软件。该激光束剖面仪的应用包括CW和脉冲激光剖面仪、激光系统的现场维修、光学组件、仪器校准、光束漂移和记录、质量控制以及使用可用的200 mm平移台进行m²测量。

  • 光电查
    分类:光束分析仪
    厂商:DataRay Inc.
    传感器类型: CMOS可衡量的来源: CW, Pulsed波长范围: 350 - 1150 nm# 像素(宽度): 2048# 像素(高度): 2048

    这款来自Dataray Povidesa的激光束轮廓仪是OEM、工业和科学应用中的THz激光束测量解决方案。WinCAM-THz配备了一个完整的用户友好的软件套件,用于激光束轮廓测量。

  • 光电查
    分类:光束分析仪
    厂商:DataRay Inc.
    传感器类型: CMOS可衡量的来源: CW波长范围: 355 - 1605 nm# 像素(宽度): 1280# 像素(高度): 1024

    DATARAY公司的基于CMOS的激光束轮廓仪系统该光束轮廓仪可用于从紫外到红外光谱范围的各种激光器。

  • 光电查
    分类:光束分析仪
    厂商:DataRay Inc.
    传感器类型: CMOS可衡量的来源: CW波长范围: 190 - 1350 nm# 像素(宽度): 2048# 像素(高度): 1536

    DATARAY公司的基于CMOS的激光束轮廓仪系统该光束轮廓仪可用于从紫外到红外光谱范围的各种激光器。

  • 光电查
    美国
    分类:光束分析仪
    厂商:Logos Systems
    传感器类型: CCD可衡量的来源: CW, Pulsed波长范围: 0.01 - 10 nm# 像素(宽度): 1280# 像素(高度): 960

    XRV系列X射线和质子束检测系统将精密计量与高能辐射检测相结合,形成了基于胶片测量的完全电子替代方案。现在可以以无与伦比的速度和精度测量铅笔般细的辐射束的XYZ位置和矢量。可以在几秒而不是几小时内获得波束矢量、轮廓和发散度。自动化脚本可用于记录射束形状、强度、位置和方向随时间的变化,以便在以后的分析或3D体积重建中使用。XRV系统验证立体定向放射外科子系统(机器人、准直器、直线加速器和kV成像仪)协同工作,以准确地将辐射输送到不规则形状的病变体积。在治疗之前或之后,可以快速验证这些系统中使用的机械叶片准直器的正确操作。光束测量精度为0.2 mm,测量重复性通常为0.02 mm。矢量和波束观察软件可实现捕获数据的实时任意角度观察。所有操作均由随探测器体模提供的笔记本电脑或台式电脑控制。XRV的标准配置是3-30米(较大100英尺)的USB电缆系统,因此系统PC和操作员可以安全地远离治疗室。探测器模型重约8千克(17磅)。

  • 光电查
    美国
    分类:光束分析仪
    厂商:Logos Systems
    传感器类型: CCD可衡量的来源: CW, Pulsed波长范围: 0.01 - 10 nm# 像素(宽度): 1280# 像素(高度): 960

    XRV系列X射线和质子束检测系统将精密计量与高能辐射检测相结合,形成了基于胶片测量的完全电子替代方案。现在可以以无与伦比的速度和精度测量铅笔般细的电离辐射束的XYZ位置和矢量。可以在几秒而不是几小时内获得波束矢量、轮廓和发散度。自动化脚本可用于记录射束形状、强度、位置和方向随时间的变化,以便在以后的分析或3D体积重建中使用。XRV系统验证质子和X射线治疗子系统(机器人、准直器、放射源和kV成像仪)是否协同工作,以准确地将辐射输送到不规则形状的病变体积。光束位置测量精确到0.3mm,测量重复性通常为0.04mm。矢量和波束观察软件可实现捕获数据的实时任意角度观察。可以以高达每秒30帧的速率实时捕获多达4,000帧的视频。

  • 光电查
    美国
    分类:光束分析仪
    厂商:Logos Systems
    传感器类型: CCD可衡量的来源: CW, Pulsed波长范围: 0.01 - 10 nm# 像素(宽度): 1280# 像素(高度): 960

    XRV-2000 Falcon光束剖面仪将高能辐射探测与精密二维计量相结合,形成了基于胶片测量的完全电子替代方案。XRV-2000 Falcon以无与伦比的速度和精度测量辐射束的XY位置和轮廓。尺寸高达19×19cm的单束和质子能量层图案可以从垂直和水平方向指向闪烁体表面以进行测量。自动化脚本可用于捕捉光束形状、强度和位置随时间的变化。XRV系统校准质子和放射外科系统或工业辐射源,这些辐射源必须向3D空间中的目标区域提供精确的辐射量。在这些系统中使用的笔形束扫描或机械叶片准直器的正确操作可以被快速验证。光束FWHM直径测量精确到±0.1mm,质心位置精确到±0.2mm。光束观察软件能够实时从任何角度观察捕获的轮廓数据,并进行实时半影和对称式测量。捕获的图像可以导出到ImageJ或其他图像分析软件。所有操作均由随相机幻影提供的笔记本电脑或台式电脑控制。XRV配有一根30米(100英尺)的USB3光纤供电延长电缆,以便系统PC和操作员可以安全地远离辐射源。数码相机Phantom重约3.5千克(7.7磅),存放在作为系统一部分提供的Pelican箱子中。

  • 光电查
    分类:光束分析仪
    厂商:DataRay Inc.
    传感器类型: CMOS可衡量的来源: CW, Pulsed波长范围: 355 - 1150 nm# 像素(宽度): 2048# 像素(高度): 2048

    25 X 25 mm CMOS光束轮廓仪系统,355至1150 nm

  • 光电查
    美国
    分类:光束分析仪
    传感器类型: CMOS可衡量的来源: CW, Pulsed波长范围: 350 - 1150 nm# 像素(宽度): 2048# 像素(高度): 1088

    11BEAMAGE系列激光束仿形相机。11BEAMAGE-3 CMOS光束仿形相机是先进款用于激光束仿形的USB 3.0相机。这款基于CMOS的新型相机配备了完全重新设计的软件,具有高度直观的用户界面和强大的数据分析工具。

  • 光电查
    美国
    分类:光束分析仪
    传感器类型: CMOS可衡量的来源: CW, Pulsed波长范围: 1495 - 1595 nm# 像素(宽度): 2048# 像素(高度): 1088

    11BEAMAGE系列激光束仿形相机。11BEAMAGE-3 CMOS光束仿形相机是先进款用于激光束仿形的USB 3.0相机。这款基于CMOS的新型相机配备了完全重新设计的软件,具有高度直观的用户界面和强大的数据分析工具。

  • 光电查
    德国
    分类:光束分析仪
    厂商:Metrolux GmbH
    传感器类型: CCD可衡量的来源: CW波长范围: 340 - 1100 nm# 像素(宽度): 1388# 像素(高度): 1036

    LPM200设计用于激光的自动测定和监控。以及具有长瑞利长度的激光束的光束参数,其中标准光束轮廓仪不能提供足够的功能。LPM200系统包括用于对激光束焦散成像的光学系统以及用于扫描该图像的线性平台。两种不同放大率的选择以及各种光学滤波器完成了这个紧凑的测量系统。•数据的采集和分析由经过验证的BeamLux软件使用附带的M²工具进行处理,该工具根据标准ISO 11146进行了测量优化。直接或通过定制的BLFE软件前端远程提供用户控制。该系统与用于Metrolux测量设备的SAMM控制和评估模块相结合,可快速轻松地配置和集成到生产过程中。

  • 光电查
    分类:光束分析仪
    厂商:DataRay Inc.
    传感器类型: CMOS可衡量的来源: CW, Pulsed波长范围: 190 - 1150 nm# 像素(宽度): 2048# 像素(高度): 2048

    线激光剖面测量系统(LLPS)是一套完整的解决方案,用于分析长达200 mm、宽至55µm的线激光。通过使用我们的200 mm线性载物台在光束长度上扫描Dataray的旗舰WinCAMD-LCM4光束轮廓相机,全功能免费软件将显示线激光强度分布的完整图像,以及垂直质心图、线宽图和其他几个有用的测量结果。线激光仿形–长达200毫米线激光仿形系统由Dataray的全功能、高度可定制、以用户为中心的软件支持,该软件无许可费、无限制安装和免费软件更新。软件控制载物台的移动,自动配置线激光扫描的较佳曝光时间,并提供线的分析。

  • 光电查
    分类:光束分析仪
    厂商:DataRay Inc.
    传感器类型: CMOS可衡量的来源: CW, Pulsed波长范围: 190 - 1150 nm# 像素(宽度): 2048# 像素(高度): 2048

    线激光剖面测量系统(LLPS)是一套完整的解决方案,用于分析长达200 mm、宽至55µm的线激光。通过使用我们的200 mm线性载物台在光束长度上扫描Dataray的旗舰WinCAMD-LCM4光束轮廓相机,全功能免费软件将显示线激光强度分布的完整图像,以及垂直质心图、线宽图和其他几个有用的测量结果。线激光仿形–长达200毫米线激光仿形系统由Dataray的全功能、高度可定制、以用户为中心的软件支持,该软件无许可费、无限制安装和免费软件更新。软件控制载物台的移动,自动配置线激光扫描的较佳曝光时间,并提供线的分析。

  • 光电查
    德国
    分类:光束分析仪
    厂商:Metrolux GmbH
    传感器类型: CCD可衡量的来源: Pulsed波长范围: 340 - 1100 nm# 像素(宽度): 1388# 像素(高度): 1036

    激光束源的精确表征和规格对于在激光生产中提供和保持高产品质量是至关重要的。系统集成商可以根据国际标准中定义的参数选择要使用和集成的光束源。Metrolux测量系统是为激光束参数的快速高精度测量而设计的。图像处理软件的远程可控性简化了与生产流程的集成。

  • 光电查
    分类:光束分析仪
    厂商:DataRay Inc.
    传感器类型: CMOS可衡量的来源: CW, Pulsed波长范围: 355 - 1150 nm# 像素(宽度): 2048# 像素(高度): 2048

    大光束仿形系统是一种完整的解决方案,通过用光束照射旋转的漫反射表面,并使用高质量透镜将强度分布重新成像到相机传感器上,从而测量大光束。LBPS剖面仪通过消除散斑的影响、计算精确的像素倍增因子以及校正几何光束失真,克服了该方法的典型问题。大型光束仿形-直径可达200 mm。LBPS与Dataray的全功能、高度可定制、以用户为中心的软件兼容,该软件无许可费、无限制安装和免费软件更新。LBPS中使用的传感器是Dataray的旗舰产品WinCAMD-LCM4光束仿形相机。LBPS扩展了其测量大型波束的能力。

  • 光电查
    以色列
    分类:光束分析仪
    厂商:Duma Optronics
    传感器类型: CCD可衡量的来源: CW波长范围: 350 - 1600 nm# 像素(宽度): 1040# 像素(高度): 1392

    LAT(激光分析望远镜)是一种功能强大的测量仪器,能够直接测量激光束或其他光源。LAT将分析并显示入射激光束的角度方向,分辨率低至1微弧度,精度为1毫度(~20微弧度)。内置的后过滤器滑块允许控制撞击探测器区域的激光水平。此外,特殊版本将允许检查十字形准直目标的角度测量。所提供的软件可清晰地显示结果。

  • 光电查
    加拿大
    分类:光束分析仪
    厂商:World Star Tech
    传感器类型: Other可衡量的来源: CW, Pulsed波长范围: 400 - 1000 nm# 像素(宽度): 1280# 像素(高度): 1024

    使用World Star Tech激光束轮廓仪,全面了解系统的光学性能。光束轮廓仪可让您在微观尺度上看到激光束的确切形状和特征。它专为可重复和可靠的数据采集而设计,是制造、维修和装配应用的理想选择。无窗130万像素1/2传感器捕捉光束轮廓,没有标准图像传感器存在的边缘效应。查看小至5.2µm的复杂光束特征。通过实时椭圆计算可视化光束,并通过曲线拟合查看横截面。在易于使用的Windows软件界面上显示感兴趣的关键波束宽度参数,如半高全宽(FWHM)和1/E2。使用具有可自定义测试持续时间和采样率的光束漂移可视化工具,跟踪光束质心随时间的稳定性。将结果导出为各种图像格式或PDF报告。

  • 光电查
    加拿大
    分类:光束分析仪
    厂商:Gentec-EO
    传感器类型: CMOS可衡量的来源: CW, Pulsed波长范围: 350 - 1150 nm# 像素(宽度): 2048# 像素(高度): 2048

    Gentec-EO推出新型BEAMAGE-4M。其圆滑的超薄设计使Beamage-4M能够安装在紧密的光学组件之间。它的USB 3.0连接和改进的算法允许非常快的帧速率。新的4.2百万像素CMOS传感器具有大的1光学格式和小的5.5μm像素间距,可实现高分辨率。较重要的是,创新和改进的PC-BEAMAGE-4M软件对于任何新的或专业的光束仿形用户来说都是简单而直观的。

  • 光电查
    德国
    分类:光束分析仪
    厂商:Metrolux GmbH
    传感器类型: CCD可衡量的来源: Pulsed波长范围: 248 - 1100 nm# 像素(宽度): 1388# 像素(高度): 1036

    由于其多功能性,FM100已经用于显示器和半导体工业中激光束的常规质量控制,以及汽车工业中的材料加工。除了集成的高功率衰减器外,FM100还有两个滤波器插槽,用于灵活衰减激光功率。该配置可以针对所有激光波长进行优化,以保证较佳的测量结果。

  • 1
  • 2
  • 3

相关内容