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  • 用于微观光束的µBeam分析仪 光束分析仪
    以色列
    分类:光束分析仪
    厂商:Duma Optronics
    传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 350 - 1310 nm 最大全帧率: 25Hz ADC: 12-bit

    µBEAM是一种光束诊断测量系统,用于实时测量和显示亚微米范围内的小型CW或脉冲激光器、光纤和激光二极管光束轮廓。主要功能包括:测量小于0.5µm(FWHM)的光束,处理CW或脉冲,具有长工作距离,使用高分辨率CCD响应范围,用于快速光束搜索的光学变焦。µBeam应用于CD拾音器、激光二极管、拾音器透镜和光学元件的调整、各种光束参数的评估和测试。使用SAM3-HP光束采样器,还可提供高功率版本的µBeam。

  • 高功率µBeam 光束分析仪
    以色列
    分类:光束分析仪
    厂商:Duma Optronics
    传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 350 - 1310 nm # 像素(宽度): 1040 # 像素(高度): 1392

    µBeam HP是一种光束诊断测量系统,用于实时测量和显示亚微米范围内的小型CW或脉冲激光器、光纤和激光二极管光束轮廓。主要功能包括:测量小于0.5µm(FWHM)的光束,处理CW或脉冲,具有长工作距离,使用高分辨率CCD响应范围,光学变焦用于快速光束查找。在当今的技术中,越来越多的工业高功率激光器被设计成具有几个微米的微观范围。在较重要的焦点测量这些激光束是一项艰巨的任务,其密度水平超过每平方毫米10兆瓦。新款µBeam HP配有气冷式光束采样器。这使得能够以1nm的分辨率测量微小光束。

  • 光束监视器 BM8304 光束分析仪
    德国
    分类:光束分析仪
    厂商:Metrolux GmbH
    传感器类型: CCD 可衡量的来源: Pulsed 波长范围: 340 - 1100 nm ADC: Other

    低S/N比和高传感器响应线性度是该Metrolux光束剖面仪中采用的传感器的主要特性。该软件提供了国际标准EN-ISO 11145、11146、11670和13694所需的功能,涵盖了激光表征的各个方面。Beam Profiler相机BPC8304使用1.4 Mpixel CCD传感器,方形像素大小为6.45µm。340至1100 nm的波长范围允许分析所有常见的激光波长。数据接口为千兆以太网(GigE)。由于大多数计算机已经提供了GigE接口(与FireWire相反),因此通常不需要添加单独的接口卡。电缆长度可轻松达到100米,便于集成到生产系统中。

  • 用于1-200Nm的X射线的光束分析和光束成像 光束分析仪
    美国
    分类:光束分析仪
    传感器类型: Other 可衡量的来源: CW 波长范围: 1 - 200 nm ADC: Other

    在X射线中可视化和测量光束的目标具有新的重要性。Star Tech Instruments开发了新的系统来分析这些光束的功率/能量、均匀性、高分辨率光束轮廓和图像分析。型号µBIP10X是一款真空兼容(1x10-10 Torr)光束轮廓仪和光束成像系统,设计用于1-10 nm的高分辨率。该系统适用于200nm。10倍MAG。1.5 mm的场具有0.6µm的分辨率,并且对非常低的能级敏感。该系统设计用于1.3 X 1.3传感器,但可以针对其他相机格式进行修改。可根据要求提供不同的放大倍率和相机。μBIP系列是STI较新的成像系统,专为使用软X射线而设计-#91;1-2 nm-#93;不应将其用于准分子激光器的较长波长,如193nm或248nm,这将导致严重的内部损伤。较重要的是,该系统设计用于高真空室,使用我们的定制真空法兰组件将光学系统连接到真空室。法兰的额定压力为10-8托。

  • BEAMAGE-3.0 - CMOS测绘相机 光束分析仪
    加拿大
    分类:光束分析仪
    厂商:Gentec-EO
    传感器类型: CMOS 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 350 - 1150 nm # 像素(宽度): 2048 # 像素(高度): 1088

    BEAMAGE-4M激光束轮廓仪基于CMOS相机,并与CW和脉冲激光束特性一起使用。

  • BEAMAGE-3.0-IR - CMOS测绘相机 光束分析仪
    加拿大
    分类:光束分析仪
    厂商:Gentec-EO
    传感器类型: CMOS 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 1495 - 1595 nm # 像素(宽度): 2048 # 像素(高度): 1088

    BEAMAGE-4M激光束轮廓仪基于CMOS相机,并与CW和脉冲激光束特性一起使用。

  • BEAMAGE-4M - CMOS测绘相机 光束分析仪
    加拿大
    分类:光束分析仪
    厂商:Gentec-EO
    传感器类型: CMOS 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 350 - 1150 nm # 像素(宽度): 2048 # 像素(高度): 1088

    BEAMAGE-4M激光束轮廓仪基于CMOS相机,并与CW和脉冲激光束特性一起使用。

  • BEAMAGE-4M-FOCUS CMOS测绘相机 光束分析仪
    加拿大
    分类:光束分析仪
    厂商:Gentec-EO
    传感器类型: CMOS 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 350 - 1150 nm # 像素(宽度): 2048 # 像素(高度): 1088

    Gentec-EOCMOS光束投影相机。

  • BEAMAGE-4M-IR CMOS测绘相机 光束分析仪
    加拿大
    分类:光束分析仪
    厂商:Gentec-EO
    传感器类型: CMOS 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 1495 - 1595 nm # 像素(宽度): 2048 # 像素(高度): 1088

    Gentec-EOCMOS光束仿形相机

  • BEAMAGE-M2自动测量系统 光束分析仪
    加拿大
    分类:光束分析仪
    厂商:Gentec-EO
    传感器类型: CMOS 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 350 - 1100 nm ADC: 8-bit, 10-bit, 12-bit

    Gentec-EO自动M2测量系统。

  • BeamOn 光束分析仪
    以色列
    分类:光束分析仪
    厂商:Duma Optronics
    传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 190 - 1310 nm # 像素(宽度): 720 # 像素(高度): 576

    用于激光束分析的完整系统,由一个CCD摄像头、一套外壳中的3xNG Schott彩色滤光片(NG4、NG9、NG10)、一个USB 2.0附件、CD盘上的软件、手提箱和用户手册组成。Beamon系统是一种用于实时测量连续或脉冲激光束的光束诊断测量系统。它测量激光束的参数,如:强度分布,光束宽度,形状,位置和功率。软件还提供梁分析设置和结果的报告功能(参见下载中的示例)。Beamon配有USB附件和软件驱动设备,可通过高速USB 2.0端口连接到笔记本电脑(或台式机),并在Windows 7操作系统(32位和64位)和Windows 8上运行。CCD轮廓仪克服了相机型光束轮廓仪有限的动态范围,每次测量都以不同的衰减或电子快门速度进行。Duma专利技术使用户能够查看小于激光束较大功率密度1%的特征。

  • BeamOn HP 高功率光束分析 光束分析仪
    以色列
    分类:光束分析仪
    厂商:Duma Optronics
    传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 350 - 1310 nm # 像素(宽度): 1040 # 像素(高度): 1392

    Duma'的高功率激光测量设备是一种强大的一体化仪器,内置较先进的空气冷却光束收集器,使用350-1600 nm激光工作。它将测量M²,BPP(光束传播参数),在其焦点位置的光束尺寸小于100微米。独特的功能允许以每秒5次的速率测量功率变化。特殊的用户友好软件将在工业计算机上显示结果,或使用客户计算机的USB接口显示结果。

  • BeamOn LA IPL和大型激光束 光束分析仪
    以色列
    分类:光束分析仪
    厂商:Duma Optronics
    传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 350 - 1310 nm # 像素(宽度): 576 # 像素(高度): 750

    Beamon HR系统是一种用于实时测量连续或脉冲激光束的光束诊断测量系统。它提供激光束参数,例如:光束宽度、形状、位置、功率和强度分布。软件还提供梁分析设置和结果的报告功能(参见下载中的示例)。

  • 长弓上的光束 光束分析仪
    以色列
    分类:光束分析仪
    厂商:Duma Optronics
    传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 350 - 1310 nm # 像素(宽度): 1200 # 像素(高度): 1920

    Beamon Long-Bow是一个由CCD型光束剖面仪组成的测量站,辅以高倍率光学和计算技术。这是一个功能强大的光束诊断测量系统,用于实时测量和显示连续或脉冲激光。该系统是一种用于检测反射光束的成像光束剖面仪,Beamon Long-Bow可用于远距离目标反射的朗伯光束,以及各种光束参数的评估和测试。测量的主要参数有:光强分布、光束宽度、光束位置和光束形状。该系统配备了强大的变焦光学和校准功能。

  • BeamOn U3创新光束分析器 光束分析仪
    以色列
    分类:光束分析仪
    厂商:Duma Optronics
    传感器类型: CMOS 可衡量的来源: CW 波长范围: 350 - 1600 nm # 像素(宽度): 1200 # 像素(高度): 1920

    Beamon U3由于其独特的功能,实际上是一个各种激光束的总测量站,其235万像素的高分辨率探测器具有12位的动态范围和350-1600 nm的光谱响应,通过全套附件,该设备的通用性大大提高,可以测量高功率和低功率激光以及大光束和极小光束。USB带宽的进步提供了测量波束的高更新率。对于极端的功率水平,可以很容易地连接加压空气冷却光束采样器,以提供几千瓦的激光束测量。

  • BladeCam-HR - 基于CMOS的光束分析器 光束分析仪
    美国
    分类:光束分析仪
    厂商:DataRay
    传感器类型: CMOS 可衡量的来源: CW 波长范围: 190 - 1150 nm # 像素(宽度): 1280 # 像素(高度): 1024

    Dataray公司的基于CMOS相机的激光束轮廓仪BladeCam系列仅为46x46x11.5 mm,是市场上较小的光束轮廓仪!这些CMOS相机可以处理从190到1605nm的波长(取决于型号)。

  • BladeCam-XHR - 基于CMOS的光束分析器 光束分析仪
    美国
    分类:光束分析仪
    厂商:DataRay
    传感器类型: CMOS 可衡量的来源: CW 波长范围: 190 - 1150 nm # 像素(宽度): 2048 # 像素(高度): 1536

    Dataray公司的基于CMOS相机的激光束轮廓仪BladeCam系列仅为46x46x11.5 mm,是市场上较小的光束轮廓仪!这些CMOS相机可以处理从190到1605 nm的波长(取决于型号)

  • BM8304 - 光束监测仪8304 光束分析仪
    德国
    分类:光束分析仪
    厂商:Metrolux GmbH
    传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW 波长范围: 340 - 1100 nm # 像素(宽度): 1392 # 像素(高度): 1040

    低S/N比和高传感器响应线性度是该Metrolux光束剖面仪中采用的传感器的主要特性。该软件提供了国际标准EN-ISO 11145、11146、11670和13694所需的功能,涵盖了激光表征的各个方面。Beam Profiler相机BPC8304使用1.4 Mpixel CCD传感器,方形像素大小为6.45µm。数据接口为千兆以太网(GigE)。由于大多数计算机已经提供了GigE接口(与FireWire相反),因此通常不需要添加单独的接口卡。电缆长度可轻松达到100米,便于集成到生产系统中。

  • CCD光束分析器紫外线监测器 光束分析仪
    日本
    分类:光束分析仪
    传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW 波长范围: 193 - 1100 nm ADC: Other

    紫外激光光束轮廓仪在工业应用中有着良好的记录,可用于半导体和显示器行业中加工激光材料的准分子激光器,以及Nd:YAG激光器的三次、四次和五次谐波。该产品的基本系统由基于UV探测器的相机和先进的BeamLux II软件组成。根据有效面积,可以测量从10um到100mm的光束直径。

  • CCD光束分析器 紫外线监测器 10 光束分析仪
    日本
    分类:光束分析仪
    传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW 波长范围: 157 - 308 nm ADC: Other

    紫外激光束轮廓仪在工业应用中有着良好的记录,可用于半导体和显示器行业中加工激光材料的准分子激光器,以及Nd:YAG激光器的三次、四次和五次谐波。该产品的基本系统由基于紫外探测器和高级BeamLux II软件的相机组成。根据有效面积,可以测量从10um到100mm的光束直径。

  • CCD光束分析器 紫外线监测器K2 光束分析仪
    日本
    分类:光束分析仪
    传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW 波长范围: 10 - 1100 nm ADC: Other

    紫外激光光束轮廓仪在工业应用中有着良好的记录,可用于半导体和显示器行业中加工激光材料的准分子激光器,以及Nd:YAG激光器的三次、四次和五次谐波。该产品的基本系统由基于UV探测器的相机和先进的BeamLux II软件组成。根据有效面积,可以测量从10um到100mm的光束直径。

  • FM100 - 焦点监视器100 光束分析仪
    德国
    分类:光束分析仪
    厂商:Metrolux GmbH
    传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW 波长范围: 248 - 1100 nm # 像素(宽度): 1388 # 像素(高度): 1036

    由于它的多功能性,FM100已经在显示器和半导体行业以及汽车行业的材料加工中用于激光束的常规质量控制。除了集成的高功率衰减器外,FM100还有两个滤波器插槽,用于灵活衰减激光功率。该配置可以针对所有激光波长进行优化,以保证较佳的测量结果。

  • 焦点显示器FM100 光束分析仪
    德国
    分类:光束分析仪
    厂商:Metrolux GmbH
    传感器类型: CCD 可衡量的来源: Pulsed 波长范围: 248 - 1100 nm # 像素(宽度): 1388 # 像素(高度): 1036

    由于其多功能性,FM100已经用于显示器和半导体工业中激光束的常规质量控制,以及汽车工业中的材料加工。除了集成的高功率衰减器外,FM100还有两个滤波器插槽,用于灵活衰减激光功率。该配置可以针对所有激光波长进行优化,以保证较佳的测量结果。

  • Gentec-EO - 激光光束轮廓仪 - Beamage-4M 光束分析仪
    加拿大
    分类:光束分析仪
    厂商:Gentec-EO
    传感器类型: CMOS 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 350 - 1150 nm # 像素(宽度): 2048 # 像素(高度): 2048

    Gentec-EO推出新型BEAMAGE-4M。其圆滑的超薄设计使Beamage-4M能够安装在紧密的光学组件之间。它的USB 3.0连接和改进的算法允许非常快的帧速率。新的4.2百万像素CMOS传感器具有大的1光学格式和小的5.5μm像素间距,可实现高分辨率。较重要的是,创新和改进的PC-BEAMAGE-4M软件对于任何新的或专业的光束仿形用户来说都是简单而直观的。

  • 大型光束剖面系统 - 300毫米 光束分析仪
    美国
    分类:光束分析仪
    厂商:DataRay
    传感器类型: CMOS 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 355 - 1150 nm # 像素(宽度): 2048 # 像素(高度): 2048

    大光束仿形系统是一种完整的解决方案,通过用光束照射旋转的漫反射表面,并使用高质量透镜将强度分布重新成像到相机传感器上,从而测量大光束。LBPS剖面仪通过消除散斑的影响、计算精确的像素倍增因子以及校正几何光束失真,克服了该方法的典型问题。大型光束仿形-直径可达200 mm。LBPS与Dataray的全功能、高度可定制、以用户为中心的软件兼容,该软件无许可费、无限制安装和免费软件更新。LBPS中使用的传感器是Dataray的旗舰产品WinCAMD-LCM4光束仿形相机。LBPS扩展了其测量大型波束的能力。

  • 激光分析望远镜 光束分析仪
    以色列
    分类:光束分析仪
    厂商:Duma Optronics
    传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW 波长范围: 350 - 1600 nm # 像素(宽度): 1040 # 像素(高度): 1392

    LAT(激光分析望远镜)是一种功能强大的测量仪器,能够直接测量激光束或其他光源。LAT将分析并显示入射激光束的角度方向,分辨率低至1微弧度,精度为1毫度(~20微弧度)。内置的后过滤器滑块允许控制撞击探测器区域的激光水平。此外,特殊版本将允许检查十字形准直目标的角度测量。所提供的软件可清晰地显示结果。

  • 激光束剖面仪 光束分析仪
    加拿大
    分类:光束分析仪
    厂商:World Star Tech
    传感器类型: Other 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 400 - 1000 nm # 像素(宽度): 1280 # 像素(高度): 1024

    使用World Star Tech激光束轮廓仪,全面了解系统的光学性能。光束轮廓仪可让您在微观尺度上看到激光束的确切形状和特征。它专为可重复和可靠的数据采集而设计,是制造、维修和装配应用的理想选择。无窗130万像素1/2传感器捕捉光束轮廓,没有标准图像传感器存在的边缘效应。查看小至5.2µm的复杂光束特征。通过实时椭圆计算可视化光束,并通过曲线拟合查看横截面。在易于使用的Windows软件界面上显示感兴趣的关键波束宽度参数,如半高全宽(FWHM)和1/E2。使用具有可自定义测试持续时间和采样率的光束漂移可视化工具,跟踪光束质心随时间的稳定性。将结果导出为各种图像格式或PDF报告。

  • 激光传播监视器LPM200 光束分析仪
    德国
    分类:光束分析仪
    厂商:Metrolux GmbH
    传感器类型: CCD 可衡量的来源: Pulsed 波长范围: 340 - 1100 nm # 像素(宽度): 1388 # 像素(高度): 1036

    激光束源的精确表征和规格对于在激光生产中提供和保持高产品质量是至关重要的。系统集成商可以根据国际标准中定义的参数选择要使用和集成的光束源。Metrolux测量系统是为激光束参数的快速高精度测量而设计的。图像处理软件的远程可控性简化了与生产流程的集成。

  • 线性激光测绘系统-200毫米 光束分析仪
    美国
    分类:光束分析仪
    厂商:DataRay
    传感器类型: CMOS 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 190 - 1150 nm # 像素(宽度): 2048 # 像素(高度): 2048

    线激光剖面测量系统(LLPS)是一套完整的解决方案,用于分析长达200 mm、宽至55µm的线激光。通过使用我们的200 mm线性载物台在光束长度上扫描Dataray的旗舰WinCAMD-LCM4光束轮廓相机,全功能免费软件将显示线激光强度分布的完整图像,以及垂直质心图、线宽图和其他几个有用的测量结果。线激光仿形–长达200毫米线激光仿形系统由Dataray的全功能、高度可定制、以用户为中心的软件支持,该软件无许可费、无限制安装和免费软件更新。软件控制载物台的移动,自动配置线激光扫描的较佳曝光时间,并提供线的分析。

  • 线性激光测绘系统 - 50毫米 光束分析仪
    美国
    分类:光束分析仪
    厂商:DataRay
    传感器类型: CMOS 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 190 - 1150 nm # 像素(宽度): 2048 # 像素(高度): 2048

    线激光剖面测量系统(LLPS)是一套完整的解决方案,用于分析长达200 mm、宽至55µm的线激光。通过使用我们的200 mm线性载物台在光束长度上扫描Dataray的旗舰WinCAMD-LCM4光束轮廓相机,全功能免费软件将显示线激光强度分布的完整图像,以及垂直质心图、线宽图和其他几个有用的测量结果。线激光仿形–长达200毫米线激光仿形系统由Dataray的全功能、高度可定制、以用户为中心的软件支持,该软件无许可费、无限制安装和免费软件更新。软件控制载物台的移动,自动配置线激光扫描的较佳曝光时间,并提供线的分析。

  • LPM200 - 激光传播监视器200 光束分析仪
    德国
    分类:光束分析仪
    厂商:Metrolux GmbH
    传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW 波长范围: 340 - 1100 nm # 像素(宽度): 1388 # 像素(高度): 1036

    LPM200设计用于激光的自动测定和监控。以及具有长瑞利长度的激光束的光束参数,其中标准光束轮廓仪不能提供足够的功能。LPM200系统包括用于对激光束焦散成像的光学系统以及用于扫描该图像的线性平台。两种不同放大率的选择以及各种光学滤波器完成了这个紧凑的测量系统。•数据的采集和分析由经过验证的BeamLux软件使用附带的M²工具进行处理,该工具根据标准ISO 11146进行了测量优化。直接或通过定制的BLFE软件前端远程提供用户控制。该系统与用于Metrolux测量设备的SAMM控制和评估模块相结合,可快速轻松地配置和集成到生产过程中。

  • STANDA - 11Beamage-3 - CMOS光束测绘相机 光束分析仪
    美国
    分类:光束分析仪
    传感器类型: CMOS 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 350 - 1150 nm # 像素(宽度): 2048 # 像素(高度): 1088

    11BEAMAGE系列激光束仿形相机。11BEAMAGE-3 CMOS光束仿形相机是先进款用于激光束仿形的USB 3.0相机。这款基于CMOS的新型相机配备了完全重新设计的软件,具有高度直观的用户界面和强大的数据分析工具。

  • STANDA - 11Beamage-3-IR - CMOS光束测绘相机 光束分析仪
    美国
    分类:光束分析仪
    传感器类型: CMOS 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 1495 - 1595 nm # 像素(宽度): 2048 # 像素(高度): 1088

    11BEAMAGE系列激光束仿形相机。11BEAMAGE-3 CMOS光束仿形相机是先进款用于激光束仿形的USB 3.0相机。这款基于CMOS的新型相机配备了完全重新设计的软件,具有高度直观的用户界面和强大的数据分析工具。

  • TaperCamD-LCM基于CMOS的光束分析器 光束分析仪
    美国
    分类:光束分析仪
    厂商:DataRay
    传感器类型: CMOS 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 355 - 1150 nm # 像素(宽度): 2048 # 像素(高度): 2048

    25 X 25 mm CMOS光束轮廓仪系统,355至1150 nm

  • WinCamD-IR-BB - VOx Microbolometer MWIR光束分析器 光束分析仪
    美国
    分类:光束分析仪
    厂商:DataRay
    传感器类型: Microbolometer 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 2000 - 16000 nm # 像素(宽度): 640 # 像素(高度): 480

    WinCAMD-IR-BB激光光束轮廓仪是一种用于中波红外和远红外范围激光的成像解决方案。WinCAMD-IR-BB光束轮廓仪具有17µm像素、2-16µm波长范围和集成快门,可提供无与伦比的光束轮廓能力。WinCAMD-IR-BB的信噪比超过1000:1,可进行符合ISO11146标准的光束测量。基于微测辐射热计的相机具有非常高的灵敏度,集成的快门允许全自动非均匀性校正。WinCAMD-IR-BB激光束剖面仪由Dataray的全功能、高度可定制、以用户为中心的软件提供支持,该软件无许可费、无限制安装和免费软件更新。该软件支持使用我们的M2DU阶段进行M^2测量。对于更高功率的激光器,Dataray提供了一系列采样、吸收和反射衰减器,用于超过相机较大功率的光束。功率限制。

  • WinCamD-LCM - 基于CMOS的光束分析器 光束分析仪
    美国
    分类:光束分析仪
    厂商:DataRay
    传感器类型: CMOS 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 355 - 1150 nm # 像素(宽度): 2048 # 像素(高度): 2048

    Dataray WinCAMD-LCM CMOS激光束分析仪提供USB 3.0传输速率和高分辨率1英寸。探测器适用于从OEM集成到R&D的各种应用。这款光束轮廓仪可在190至1605 nm范围内使用,在2048×2048有效面积内提供5.5µm像素,更新速率高达60 Hz,并具有光学/TTL(晶体管-晶体管逻辑)触发器。CMOS探测器消除了彗星拖尾,全局快门和触发使能脉冲捕获。USB 3.0接口配有专有的可定制软件。该激光束剖面仪的应用包括CW和脉冲激光剖面仪、激光系统的现场维修、光学组件、仪器校准、光束漂移和记录、质量控制以及使用可用的200 mm平移台进行m²测量。

  • WinCamD-THz基于CMOS的光束分析器 光束分析仪
    美国
    分类:光束分析仪
    厂商:DataRay
    传感器类型: CMOS 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 350 - 1150 nm # 像素(宽度): 2048 # 像素(高度): 2048

    这款来自Dataray Povidesa的激光束轮廓仪是OEM、工业和科学应用中的THz激光束测量解决方案。WinCAM-THz配备了一个完整的用户友好的软件套件,用于激光束轮廓测量。

  • WinCamD-UHR - 基于CMOS的光束分析器 光束分析仪
    美国
    分类:光束分析仪
    厂商:DataRay
    传感器类型: CMOS 可衡量的来源: CW 波长范围: 355 - 1605 nm # 像素(宽度): 1280 # 像素(高度): 1024

    DATARAY公司的基于CMOS的激光束轮廓仪系统该光束轮廓仪可用于从紫外到红外光谱范围的各种激光器。

  • WinCamD-XHR - 基于CMOS的光束分析器 光束分析仪
    美国
    分类:光束分析仪
    厂商:DataRay
    传感器类型: CMOS 可衡量的来源: CW 波长范围: 190 - 1350 nm # 像素(宽度): 2048 # 像素(高度): 1536

    DATARAY公司的基于CMOS的激光束轮廓仪系统该光束轮廓仪可用于从紫外到红外光谱范围的各种激光器。

  • XRV-100数码相机幻影 光束分析仪
    美国
    分类:光束分析仪
    厂商:Logos Systems
    传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 0.01 - 10 nm # 像素(宽度): 1280 # 像素(高度): 960

    XRV系列X射线和质子束检测系统将精密计量与高能辐射检测相结合,形成了基于胶片测量的完全电子替代方案。现在可以以无与伦比的速度和精度测量铅笔般细的辐射束的XYZ位置和矢量。可以在几秒而不是几小时内获得波束矢量、轮廓和发散度。自动化脚本可用于记录射束形状、强度、位置和方向随时间的变化,以便在以后的分析或3D体积重建中使用。XRV系统验证立体定向放射外科子系统(机器人、准直器、直线加速器和kV成像仪)协同工作,以准确地将辐射输送到不规则形状的病变体积。在治疗之前或之后,可以快速验证这些系统中使用的机械叶片准直器的正确操作。光束测量精度为0.2 mm,测量重复性通常为0.02 mm。矢量和波束观察软件可实现捕获数据的实时任意角度观察。所有操作均由随探测器体模提供的笔记本电脑或台式电脑控制。XRV的标准配置是3-30米(较大100英尺)的USB电缆系统,因此系统PC和操作员可以安全地远离治疗室。探测器模型重约8千克(17磅)。

  • XRV-124检测器幻影 光束分析仪
    美国
    分类:光束分析仪
    厂商:Logos Systems
    传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 0.01 - 10 nm # 像素(宽度): 1280 # 像素(高度): 960

    XRV系列X射线和质子束检测系统将精密计量与高能辐射检测相结合,形成了基于胶片测量的完全电子替代方案。现在可以以无与伦比的速度和精度测量铅笔般细的电离辐射束的XYZ位置和矢量。可以在几秒而不是几小时内获得波束矢量、轮廓和发散度。自动化脚本可用于记录射束形状、强度、位置和方向随时间的变化,以便在以后的分析或3D体积重建中使用。XRV系统验证质子和X射线治疗子系统(机器人、准直器、放射源和kV成像仪)是否协同工作,以准确地将辐射输送到不规则形状的病变体积。光束位置测量精确到0.3mm,测量重复性通常为0.04mm。矢量和波束观察软件可实现捕获数据的实时任意角度观察。可以以高达每秒30帧的速率实时捕获多达4,000帧的视频。

  • XRV-2000猎鹰摄影幻影机 光束分析仪
    美国
    分类:光束分析仪
    厂商:Logos Systems
    传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 0.01 - 10 nm # 像素(宽度): 1280 # 像素(高度): 960

    XRV-2000 Falcon光束剖面仪将高能辐射探测与精密二维计量相结合,形成了基于胶片测量的完全电子替代方案。XRV-2000 Falcon以无与伦比的速度和精度测量辐射束的XY位置和轮廓。尺寸高达19×19cm的单束和质子能量层图案可以从垂直和水平方向指向闪烁体表面以进行测量。自动化脚本可用于捕捉光束形状、强度和位置随时间的变化。XRV系统校准质子和放射外科系统或工业辐射源,这些辐射源必须向3D空间中的目标区域提供精确的辐射量。在这些系统中使用的笔形束扫描或机械叶片准直器的正确操作可以被快速验证。光束FWHM直径测量精确到±0.1mm,质心位置精确到±0.2mm。光束观察软件能够实时从任何角度观察捕获的轮廓数据,并进行实时半影和对称式测量。捕获的图像可以导出到ImageJ或其他图像分析软件。所有操作均由随相机幻影提供的笔记本电脑或台式电脑控制。XRV配有一根30米(100英尺)的USB3光纤供电延长电缆,以便系统PC和操作员可以安全地远离辐射源。数码相机Phantom重约3.5千克(7.7磅),存放在作为系统一部分提供的Pelican箱子中。

  • WinCamD-QD SWIR/eSWIR量子点光束分析仪 光束分析仪
    美国
    分类:光束分析仪
    厂商:DataRay
    波长范围: 350-2000nm 像素尺寸: 15µm 分辨率: Up to 1920x1080 动态范围: >2100:1 (33dB opt./66dB elec.) 模数转换器位数: 14-bit

    WinCamD-QD系列使用胶体量子点传感器,为可见光、SWIR和eSWIR光源提供高质量的光束分析。该系列具有15微米像素,350-2000纳米的宽波长范围以及全局快门,提供无与伦比的光束分析能力。

  • WinCamD-IR-BB 2 - 16µm波长范围内的激光束轮廓成像 光束分析仪
    美国
    分类:光束分析仪
    厂商:DataRay
    波长范围: 2 - 16µm 像元尺寸: 640 x 480, 17µm 有效区域: 10.8 x 8.2mm 低辐照能力: ~75µW/cm2 at peak-to-peak noise 帧率: 30fps (7.5fps for export)

    WinCamD-IR-BB是一款用于MWIR和FIR波段激光的成像解决方案,提供2 - 16µm波长范围内的激光束轮廓成像,具备高信噪比和全自动非均匀性校正功能,具备优异的光束轮廓成像能力。适用于MWIR和FIR波段激光测量。

  • TaperCamD-LCM 高分辨率CMOS激光束轮廓仪 光束分析仪
    美国
    分类:光束分析仪
    厂商:DataRay
    波长范围: 355-1150nm 像素数: 4.2MPixel, 2048x2048 pixels 有效区域: 25x25mm 像元尺寸: 12.5μm (effective) 信噪比: 2,500:1

    TaperCamD-LCM是一款具有25 x 25 mm大活动区域、4.2百万像素、12.5 x 12.5 μm(有效)像素、光学和电子触发全局快门的大面积CMOS激光束轮廓仪,具备2500:1的信噪比,是市面上USB端口供电的激光束轮廓测量设备中活动传感器面积最大的。通过高信噪比和全局快门的WinCamD-LCM与高品质光纤锥面的结合,TaperCamD-LCM提供了一个非常紧凑、易于使用的解决方案,适用于测量各种大功率连续波或脉冲激光。

  • BeamMap2 实时光束轮廓测量 光束分析仪
    美国
    分类:光束分析仪
    厂商:DataRay
    波长选项: 190-1150nm, 650-1800nm, 190-1800nm, 190-2500nm 扫描光束直径: 2µm to 4mm (2mm for IGA-X.X) X-Y轮廓和质心: Yes 分辨率: 0.1µm or 0.05% of scan range 准确性: ±<2% or ≤0.5µm

    BeamMap2是一种用于实时光束轮廓测量的扫描狭缝系统,它采用旋转的'puck'上的多个XY狭缝对,在多个z平面上同时测量四个不同z位置的四个光束轮廓。BeamMap2的独特、专利设计特别适用于实时测量焦点位置、M2、光束发散和指向。适用于激光束对准、M2测量和光束发散诊断等多种应用场景。