位移测量计

相关分类

光电查为您提供18个产品。 下载资料,获取报价,实现功能、价格及供应的优化选择。

  • 光电查
    分类:位移测量计
    厂商:
    测量范围: 150 - 300 mm

    View Benchmark™250采用紧凑的台式配置,具有高精度,并配有View的双倍率光学元件和计量级结构。基准点250被设计为在生产车间上使用,以提供用于过程控制的精确测量。其紧凑的尺寸和强大的软件使Benchmark 250成为一种多功能测量系统,可以轻松配置为用于关键尺寸测量的专用量规或用于日常质量监控的通用视觉测量系统。

  • 光电查
    分类:位移测量计
    厂商:
    测量范围: 624 - 624 mm

    View Benchmark™624是一款大容量、全自动3轴三维测量系统。基准624的移动桥设计创建了一个开放的工作包络面,以便于进入测量区域,并允许被测量的零件始终保持静止。凭借其巨大的花岗岩底座和高精度固定透镜光学系统,Benchmark 624提供了您所期望的高级计量系统的准确性和可靠性。

  • 光电查
    分类:位移测量计
    厂商:
    测量范围: 900 - 1500 mm

    View Benchmark™XLT在大行程、非接触式、高精度计量系统中提供View性能和可靠性。基准XLT旨在使用其移动桥设计来处理大面积零件或较小零件的嵌套组。先进的图像处理使基准XLT能够高速、准确和稳健地运行。

  • 光电查
    测量范围: 10 - 51 mm

    Cantron是Polaris系列高精度、坚固耐用且灵活的激光传感器的公认供应商,该系列激光传感器专为需求旺盛的钢铁和金属行业而设计。Polaris系列三角测量传感器是较高精度的激光传感器,可用于成对组合时测量位移、距离或高度、宽度或厚度。智能信号处理实时控制CCD阵列的曝光和激光功率,无论目标的颜色、反射率或纹理如何变化,都能产生出色的动态性能,使其成为在线或离线测量集成的可靠选择。

  • 光电查
    测量范围: 0 - 12 mm测量分辨率: 0.02%

    基于光纤布拉格光栅(FBG)技术,OS5000专门设计用于测量试样表面上两个测量点之间的位移。测量仪的设计非常灵活,可以方便地连接到各种基底上,直接在金属、混凝土和其他表面上进行测量。构成OS5000测量仪的FBG传感器位于坚固的硬质涂层阳极氧化铝外壳内,该外壳可保护传感器免受恶劣环境的影响,并允许在恶劣环境中安装。该测量仪可单独使用,也可作为FBG传感器阵列(可包括应变和温度测量仪、加速度计和其他位移测量仪)的一部分串联使用。与类似的电子仪表网络相比,这种阵列的布线成本低得多,也不那么麻烦。电缆可以直接在外壳内连接,无需单独的接线盒。OS5000提供了所有基于FBG的传感器所固有的许多优势,包括EMI抗扰度——这是振弦式测量仪无法提供的。对于每个测量仪,Micron Optics都提供了传感器信息表,列出了将波长信息转换为工程单位所需的测量仪系数和校准系数。Micron Optics的EnLight传感软件为大型传感器网络提供了计算、记录、显示和传输数据的工具。

  • 光电查
    测量范围: 0 - 50 mm

    基于光纤布拉格光栅(FBG)技术,OS5100专门设计用于测量试样表面上两个测量点之间的位移。测量仪的设计非常灵活,可以方便地连接到各种基底上,直接在金属、混凝土和其他表面上进行测量。构成OS5100测量仪的两个FBG传感器位于坚固的硬质涂层阳极氧化铝外壳内,该外壳可保护传感器免受恶劣环境的影响,并允许在恶劣环境中安装。该测量仪可以单独使用,也可以作为FBG传感器阵列(可包括应变和温度测量仪、加速度计和其他位移测量仪)的一部分串联使用。与类似的电子仪表网络相比,这种阵列的布线成本低得多,也不那么麻烦。电缆可以直接在外壳内连接,无需单独的接线盒。OS5100提供了所有基于FBG的传感器所固有的许多优势,包括EMI抗扰度——这是振弦式测量仪无法提供的。对于每个测量仪,Micron Optics都提供了一份传感器信息表,列出了将波长信息转换为工程单位所需的测量仪系数和校准系数。Micron Optics的EnLight传感软件为大型传感器网络提供了计算、记录、显示和传输数据的工具。

  • 光电查
    测量范围: 0 - 450 mm测量分辨率: 0.02%

    基于光纤布拉格光栅(FBG)技术,OS5500专门设计用于测量试样表面上两个测量点之间的位移。测量仪的设计非常灵活,可以方便地连接到各种基底上,直接在金属、混凝土和其他表面上进行测量。由OS5500测量仪组成的FBG传感器位于坚固的硬质涂层阳极氧化铝外壳内,该外壳可保护传感器免受恶劣环境的影响,并允许在恶劣环境中安装。该测量仪可以单独使用,也可以作为FBG传感器阵列(可包括应变和温度测量仪、加速度计和其他位移测量仪)的一部分串联使用。与类似的电子仪表网络相比,这种阵列的布线成本低得多,也不那么麻烦。电缆可以直接在外壳内连接,无需单独的接线盒。OS5500提供了所有基于FBG的传感器所固有的许多优势,包括EMI抗扰度——这是振弦式测量仪无法提供的。对于每个测量仪,Micron Optics都提供了一份传感器信息表,列出了将波长信息转换为工程单位所需的测量仪系数和校准系数。Micron Optics的EnLight传感软件为大型传感器网络提供了计算、记录、显示和传输数据的工具。

  • 光电查
    加拿大
    分类:位移测量计
    测量范围: 0.3 - 0.3 mm

    PD-1000是一种条纹跟踪干涉仪,由一个控制单元组成,该控制单元包含一个稳定的激光二极管源,使用光纤电缆来传输和接收光信号,并且与光振幅无关。该系统与各种干涉仪兼容,这些干涉仪可以被配置为体光学器件或光纤器件。该系统可以用各种被测量来操作,其中光程长度的变化是由距离或折射率的变化引起的。

  • 光电查
    美国
    分类:位移测量计
    厂商:Optodyne Inc
    测量范围: 15000 - 15000 mm

    Optodyne的MCV-500紧凑型线性机器校准系统可校准CNC机床、CMM(坐标测量机)和其他精密测量机和工作台。这种新型紧凑型校准系统基于专利激光多普勒位移计(LDDMT)技术,易于设置和操作。包括Windows软件、自动补偿(补偿空气温度、气压和材料热膨胀)和附件在内的基本系统以极其实惠的价格打包。该系统非常紧凑,可装入一个小手提箱中。WindowsTM软件可在任何IBM兼容计算机上运行,用户界面友好,旨在根据各种行业标准(如NMTBA、VDI、ISO和ASME B5.54)收集和分析数据。激光系统经过校准,并可追溯到NIST。

  • 光电查
    美国
    分类:位移测量计
    厂商:Optodyne Inc
    测量范围: 0.0000025 - 0.005 mm

    Optodyne的VS-5000系列振动传感器是一种非接触式、高灵敏度的位移、速度和加速度测量方法。作为机械振动的存储示波器,VS-5000满足微电子、航空航天、汽车和研发应用的精密工程要求。单轴(VS-5010)或双轴(VS-5020)系统的测量精度为±0.5 ppm,分辨率为±0.05微英寸,速度高达200英寸/秒,频率响应从Do到400 kHz。该双轴系统(VS-5020)具有极高的信噪比,允许用户同时测量目标和背景现象,同时保持每次测量的完整性。

  • 光电查
    美国
    分类:位移测量计
    厂商:Capacitec Inc
    测量范围: 0.51 - 1.02 mm

    Capacitec的HPB薄型“侧视”钮扣式探头设计用于测量紧密或隐蔽接入位置的位移和零件尺寸变化,以观察接地目标。Button系列探头特别适合放置在非常小的位置,低至0.025英寸(0.65毫米),用于检查薄间隙。探针通常成对使用,以补偿零件未对准和量规定位。Capacitec可以用非接触式“电子测量仪”取代现有的机械接触测量方法,从而提高准确度、可重复性和精度。HPB按钮探头可在宽工作温度范围内进行从低温到1000°C的精确位移测量。Capacitec专门提供定制配置,包括将探头安装到客户的组件和固定装置中的服务。有关更多信息,请咨询Capacitec技术支持团队。

  • 光电查
    美国
    分类:位移测量计
    厂商:Capacitec Inc
    测量范围: 1.27 - 1.91 mm

    Capacitec的HPB薄型“侧视”钮扣式探头设计用于测量紧密或隐蔽接入位置的位移和零件尺寸变化,以观察接地目标。Button系列探头特别适合放置在非常小的位置,低至0.025英寸(0.65毫米),用于检查薄间隙。探针通常成对使用,以补偿零件未对准和量规定位。Capacitec可以用非接触式“电子测量仪”取代现有的机械接触测量方法,从而提高准确度、可重复性和精度。HPB按钮探头可在宽工作温度范围内进行从低温到1000°C的精确位移测量。Capacitec专门提供定制配置,包括将探头安装到客户的组件和固定装置中的服务。有关更多信息,请咨询Capacitec技术支持团队。

  • 光电查
    美国
    分类:位移测量计
    测量范围: 13 - 13 mm测量分辨率: 10um%

    本发明提供了一种易于安装在当前生产设备中的紧凑且轻便的数字线性量规传感器。仪表采用符合IP64防护等级的防尘、防溅结构,可承受恶劣环境。适用于多尘环境和易受滴水和尖刺影响的区域。耐久性测试表明,所有型号均可使用超过650万次滑动。我们在不牺牲耐用性的情况下实现了高精度。

  • 光电查
    测量范围: 110 - 190 mm测量分辨率: 0.25%

    利用传统的图像传感器,对快门的反馈控制不能跟上由工件颜色的变化引起的接收光级的突然变化,将导致瞬间不能执行测量,从而导致响应延迟。借助新开发的ATMOS图像传感器,可以在无需反馈控制的情况下进行测量,这得益于业界首创的算法。由于消除了瞬时无法执行测量和响应延迟,现在可以进行实时测量。

  • 光电查
    测量范围: 2 - 40 mm测量分辨率: 2%

    Atlas系列微型激光三角测量传感器是紧凑、精确的传感器,用于成对组合时测量位移、距离或高度或厚度。智能信号处理实时控制CCD阵列的曝光和激光功率,无论目标的颜色、反射率或纹理如何变化,都能产生出色的动态性能,使其成为在线或离线测量集成的可靠选择。ATLAS传感器结构紧凑,重量轻,在大多数表面类型上具有极高的分辨率和高精度。根据您的需求,Scantron还可以提供用于数据收集和可视化的支持软件。

  • 光电查
    测量范围: 350 - 620 mm

    Antaris系列三角测量传感器专为长距离测量而设计,例如在测量目标非常热的情况下,例如在热钢带上进行热型材或平直度测量。智能信号处理实时控制CCD阵列的曝光和激光功率,无论目标的颜色、反射率或纹理如何变化,都能产生出色的动态性能,使其成为在线或离线测量集成的可靠选择。激光测量传感器可以定制,Antaris波段提供的是一条短线,而不是测量点。通常,长距激光三角测量传感器用于测量金属工业中的平面度、直线度、长度、宽度、高度和位移。

  • 光电查
    美国
    分类:位移测量计
    测量范围: 30 - 30 mm测量分辨率: 10um%

    本发明提供了一种易于安装在当前生产设备中的紧凑且轻便的数字线性量规传感器。仪表采用符合IP64防护等级的防尘、防溅结构,可承受恶劣环境。适用于多尘环境和易受滴水和尖刺影响的区域。耐久性测试表明,所有型号均可使用超过650万次滑动。我们在不牺牲耐用性的情况下实现了高精度。

  • 光电查
    美国
    分类:位移测量计
    测量范围: 13 - 13 mm测量分辨率: 1um%

    本发明提供了一种易于安装在当前生产设备中的紧凑且轻便的数字线性量规传感器。仪表采用符合IP64防护等级的防尘、防溅结构,可承受恶劣环境。适用于多尘环境和易受滴水和尖刺影响的区域。耐久性测试表明,所有型号均可使用超过650万次滑动。我们在不牺牲耐用性的情况下实现了高精度。

相关内容