光电查为您提供23个产品。下载资料,获取报价,实现功能、价格及供应的优化选择。
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ST400光学轮廓仪
扫描区域: 25×25mm至400×500mm 高度范围: 2.5μm至25mm 系统尺寸: 20×30×17cm至101×106×195cm 扫描速度: 20mm/s至500mm/s 最大XY速度: 20mm/s至500mm/sNanovea光学轮廓仪是一种高精度测量设备,采用白光色散共焦技术,能够对各种材料和表面进行非接触式测量,提供卓越的高度和横向精度。
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TrueMap v6
现在有各种各样的仪器可用于3D表面测量。这些仪器的部分列表包括触针式轮廓仪、光学轮廓仪、扫描探针显微镜(SPM)、激光共焦显微镜和激光扫描传感器。使用的较佳仪器通常取决于所测量的表面类型和感兴趣的尺度(微米、纳米或埃)。测量仪器只提供了了解表面的先进步。需要软件来可视化和分析测量过程中采集的数据。这些分析可能包括计算和验证表面纹理参数、检查关键尺寸或直观定位表面缺陷的能力。TrueGage创建的TrueMap软件是一种Windows软件解决方案,可提供令人惊叹的3D表面可视化和一套强大的分析工具。它与几乎所有的表面计量仪器兼容。我们目前支持30多种微地形文件格式。请与我们联系以将格式添加到此列表。
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TrueMap v5
现在有各种各样的仪器可用于3D表面测量。这些仪器的部分列表包括触针式轮廓仪、光学轮廓仪、扫描探针显微镜(SPM)、激光共焦显微镜和激光扫描传感器。使用的较佳仪器通常取决于所测量的表面类型和感兴趣的尺度(微米、纳米或埃)。测量仪器只提供了了解表面的先进步。需要软件来可视化和分析测量过程中采集的数据。这些分析可能包括计算和验证表面纹理参数、检查关键尺寸或直观定位表面缺陷的能力。TrueGage创建的TrueMap软件是一种Windows软件解决方案,可提供令人惊叹的3D表面可视化和一套强大的分析工具。它与几乎所有的表面计量仪器兼容。我们目前支持30多种微地形文件格式。请与我们联系以向此列表添加格式。
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PS50 紧凑型光学轮廓仪
扫描区域: 25×25mm至400×500mm 高度范围: 2.5μm至25mm 系统尺寸: 20×30×17cm至101×106×195cm 扫描速度: 20mm/s至500mm/s 最大样品重量: 无上限至34kgNanovea光学轮廓仪是一种先进的非接触式测量设备,采用白光色散技术,能够精确测量表面粗糙度、平整度、形状和纹理等参数。
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NanoCam Sq动态表面轮廓仪
NanoCam SQ动态光学轮廓仪可测量超光滑光学和精密表面的表面粗糙度。非接触式NanoCam SQ是对传统工作站光学轮廓仪所需的杂乱复制方法的巨大改进,并为测量大型光学器件提供了出色的便携性。通过启用机器上的粗糙度计量,NanoCam SQ提高了产量。通过消除运输昂贵的关键任务光学器件的需要,NanoCam降低了损坏的风险。NanoCam SQ光学轮廓仪采用动态干涉测量法(Dynamic Interferometry®),集成了高速光学传感器,测量速度比传统光学轮廓仪快数千倍。由于采集时间非常短,NanoCam SQ可以在振动的情况下进行测量,因此可以将仪器安装在抛光设备、台架或机器人末端执行器上。NanoCam SQ结构紧凑,重量轻,可直接放置在大型光学器件上。有了这种定位的自由度,NanoCam可以测量大型光学器件上任何位置的表面光洁度。NanoCam SQ动态光学轮廓仪包括4Sight高级分析软件。业界领先的4Sight报告ISO 25178表面粗糙度参数(S参数),并提供广泛的2D和3D分析选项、数据过滤、屏蔽、数据库和导入/导出功能。
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NaniteAFM
扫描头类型: 110-μm, 70-μm, 25-μm 最大扫描范围(XY): 110μm, 70μm, 25μm 最大Z范围: 14μm, 5μm XY线性误差: ≤0.6%, ≤12%, ≤0.7% Z测量噪声水平(静态模式): typ. 350pm (max. 500pm), typ. 90pm (max. 150pm), typ. 30pm (max. 50pm)NaniteAFM是一款市场领先的原子力显微镜(AFM),专为定制集成设计,具有极小的尺寸和高性能,适用于多种表面形貌分析。
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JR25便携式光学轮廓仪
扫描区域: 25×25mm至400×500mm 高度范围: 2.5μm至25mm 系统尺寸: 20×30×17cm至101×106×195cm 扫描速度: 20mm/s至500mm/s 最大样品重量: 无上限至34kgNanovea光学轮廓仪是一款高精度测量设备,采用白光色散技术,能够对各种材料和表面进行非接触式测量。
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镜头AFM
扫描头类型: 110-μm, 70-μm 最大扫描范围(XY): 110μm, 70μm 最大Z范围: 22μm, 14μm XY线性误差: <0.6%, <1.2% Z测量噪声水平(静态模式): typ. 350pm (max. 500pm)LensAFM是一款专为直立式光学显微镜设计的全集成原子力显微镜(AFM),能够突破光学显微镜和轮廓仪的分辨率极限,提供3D表面形貌信息及样品物理属性分析。
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Form Talysurf PGI 光学系统
测量范围: 300mm 决议: 0.2nm 斜率: 85° 形状误差: <100nmForm Talysurf PGI Matrix是一款全自动、快速且精确的光学元件测量系统,适用于单个或多个光学部件的测试和分析。
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Form Talysurf PGI矩阵
测量范围: 300mm 决议: 0.2nm 斜率: 85° 形状误差: <100nmForm Talysurf PGI Matrix是一款全自动、快速且精确的光学元件测量系统,适用于单个或多个光学部件的测试和分析。
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Form Talysurf PGI Freeform
测量范围: 最大300mm直径 决议: 0.2nm 斜率: 最大55度 形状误差: <100nm 噪声: <2nm RqForm Talysurf PGI Matrix是一款全自动、快速且精准的光学元件测量系统,适用于单个或多个光学部件的测试和分析。
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ContourX-100三维光学轮廓仪
ContourX-100是一款高精度、非接触式3D光学轮廓仪,专为表面粗糙度测量设计,具有高分辨率和稳定性,适用于多种表面分析需求。
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ContourX-200三维光学轮廓仪
ContourX-200是一款高性能的3D光学轮廓仪,提供非接触式表面纹理测量,具有高分辨率和精确性,适用于多种工业应用。
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ContourX-500三维光学轮廓仪
ContourX-500光学轮廓仪是全球最全面的台式系统之一,专为快速、非接触式3D表面计量而设计。该系统采用Bruker专有的倾斜光学头,能够以最小的跟踪误差测量各种角度的表面特征。
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Candela 8720高灵敏度晶圆检测工具
Candela 8720是一款先进的表面检测系统,专为LED、光通信和其他化合物半导体市场设计,能够捕获各种关键基板和外延缺陷。
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Candela 8420光学表面分析仪
Candela® 8420是一款用于化合物半导体和光电子材料的高级检测系统,采用多通道检测和基于规则的缺陷分类技术,能够快速实现高分辨率成像、晶圆图和自动化缺陷分类。
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Candela 8520高灵敏度高产量晶圆检测工具
Candela 8520是一款专为功率器件材料和应用设计的无图案晶圆检测解决方案,集成了表面和光致发光检测技术,用于先进的基板和外延缺陷表征。
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Alphacen 300
Alphacen 300是一款专为处理大尺寸和重型样品而设计的尖端扫描原子力显微镜(AFM),支持样品尺寸高达300mm,重量可达45kg。
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EXICOR DUV193-150高精度光学测量设备
EXICOR DUV193-150是一款用于深紫外光谱分析的高精度光学测量设备,适用于工业和科研领域的光学元件检测。