光学表面轮廓仪

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  • 光电查
    美国
    光源类型: CW LED, Modulated LED样品反射率: 0.05 - 100 %垂直范围: 10000000nm有效值重复性: <0.01 nm有效值精度: <0.01 nm

    ContourX-100光学轮廓仪以一流的价格为精确和可重复的非接触式表面计量设定了新的基准。小尺寸系统在精简的封装中提供不打折扣的2D/3D高分辨率测量能力,该封装结合了数十年专有的布鲁克白光干涉(WLI)创新技术。新一代增强功能包括新的500万像素摄像头和更新的工作台,可实现更大的拼接能力,以及新的测量模式USI,可为精密加工表面、厚膜和摩擦学应用提供更大的便利性和灵活性。没有比ContourX-100更有价值的台式系统了。

  • 光电查
    美国
    光源类型: CW LED, Modulated LED样品反射率: 0.05 - 100 %垂直范围: 10000000nm有效值重复性: <0.01 nm有效值精度: <0.1nm

    ContourX-200光学轮廓仪完美融合了先进的特性、可定制的选项和易用性,可实现一流的快速、精确和可重复的非接触式3D表面计量。使用更大的FOV 500万像素数码相机和新的电动XY平台,可测量的小尺寸系统提供不打折扣的2D/3D高分辨率测量能力。ContourX-200拥有无与伦比的Z轴分辨率和精度,提供了布鲁克公司专有的白光干涉(WLI)技术的所有行业公认的优势,而没有传统共焦显微镜和竞争标准光学轮廓仪的限制。

  • 光电查
    美国
    光源类型: CW LED, Modulated LED样品反射率: 0.05 - 100 %垂直范围: 10000000nm有效值重复性: <0.01 nm有效值精度: <0.01 nm

    ContourX-500光学轮廓仪是世界上较全面的自动化台式系统,用于快速、非接触式3D表面计量。可测量的ContourX-500拥有无与伦比的Z轴分辨率和精度,并以更小的尺寸提供布鲁克白光干涉(WLI)落地式模型的所有行业公认的优势。从精密加工表面和半导体工艺的质量保证/质量控制(QA/QC)计量到眼科和MEMS器件的研发表征,Profiler可针对较广泛的复杂应用轻松定制。

  • 光电查
    德国
    厂商:STEMMER IMAGING
    光源类型: CW LED样品反射率: 1 - 1 %有效值重复性: <0.001 nm有效值精度: <0.001 nm

    TREVISTA CAM缩小了智能相机的简单应用与苛刻的表面检测任务之间的差距。它基于获得专利的TREVISTA照明,并结合了功能强大的智能相机,预装了Teledyne Dalsa的Inspect或Sherlock机器视觉软件。CVS TREVISTA Cam非常适合需要检查零件的地形和纹理细节的应用,即使它们是具有挑战性的光滑/弯曲表面或装饰零件。预先配置的系统意味着您可以立即打开包装并开始测试。

  • 光电查
    德国
    厂商:STEMMER IMAGING
    光源类型: CW LED样品反射率: 1 - 1 %有效值重复性: <0.001 nm有效值精度: <0.001 nm

    功能强大的CVS Trevista Flat采用了Trevista圆顶几何形状,并将其简化为平面和紧凑的格式。照明控制器集成到该单元中,使集成到检测系统中变得容易,并使价格敏感的应用成为可能。由于采用扁平设计,不仅可以检测静止物体的表面,还可以检测移动部件的表面。这开启了灵活的处理概念,如玻璃旋转板以及圆柱表面和板材的检查。CVS TREVISTA平板所使用的&aposSHAPE FROM SHADGING&apos技术使其能够检测圆柱形表面上的材料缺陷,而不受光泽和污垢的影响。这个独特的程序从物体表面的阴影中推断出物体三维形状的信息。

  • 光电查
    光源类型: CW LED光源波长: 120nm样品反射率: 1 - 1 %有效值重复性: <0.01 nm有效值精度: <0.1nm

    这款较新的便携式车间轮廓系统以Talysurf系列的形式提供了32mm的宽范围,以适应典型组件上的较大功能,并具有足够的分辨率来检测较小的轮廓偏差(120nm)(超精度模式在6.4mm范围内提供25nm)。20mm范围拾取选项提供75nm分辨率(在4mm范围内提供15nm)。

  • 光电查
    光源类型: CW LED样品反射率: 1 - 1 %有效值重复性: <0.01 nm有效值精度: <0.1nm

    Taylor Hobson的新款Intra Touch是其用于表面光洁度、形状和可选轮廓分析的车间测量解决方案系列中的较新产品,它在触摸屏平板电脑上集成了用户友好的TalyProfile软件。

  • 光电查
    光源类型: Coherent Continuous Wave (CW)光源波长: 800nm样品反射率: 1 - 1 %有效值重复性: <0.001 nm有效值精度: <0.001 nm

    Aylor Hobson的Form Talysurf PGI(相位光栅干涉仪)是一款用于高精度自由曲面光学测量的全方位、高分辨率三维自由曲面轮廓仪。它执行自由光学的表面光洁度和形状分析。Taylor Hobson的Form Talysurf®PG Freeform以数十年的测量经验、超精密制造专业知识和FEA优化设计为基础。这些提供了测量轴的低噪音和近乎完美的机械执行。通过新的专用软件界面,可以轻松设置和分析精确的自由形式测量。Form TalySurf®PG Freeform的多功能性使其成为完整的光学计量解决方案。

  • 光电查
    光源类型: Coherent Continuous Wave (CW)样品反射率: 1 - 1 %有效值重复性: <0.001 nm有效值精度: <0.001 nm

    Aylor Hobson Stylus光学轮廓仪:Form Talysurf PGI Matrix易于设置、测试和分析单个或多个零件。该仪器是一种完美的光学表面形状测量系统,可快速准确地测试直径达200毫米的光学元件。模块化系统,可适应不同的预算和技术需求。Form Talysurf PGI Matrix是一款完美的全方位仪器,适用于从小型手机镜头到大型天文光学的全自动2D和3D光学计量。当测量速度和吞吐量是必须时,我们的生产力工具套件为批量测试提供了独特的优势。集成的PGI测量仪技术与复杂的自动化软件和硬件相结合,现在为用户提供了测量自由曲面光学器件的能力,这在以前是不可能的。

  • 光电查
    光源类型: Coherent Continuous Wave (CW)光源波长: 2nm样品反射率: 1 - 1 %有效值重复性: <0.001 nm有效值精度: <0.001 nm

    Taylor Hobson Form Talysurf PGI(相位光栅干涉仪)-接触式表面光度仪/设备可测量大垂度透镜(表面形状)、塑料透镜、小型组件、红外玻璃和直径达300mm的晶体,精度高,是光学制造商的优选仪器。1984年首次发布后,Form Talysurf迅速成为光学制造商测量非球面形状误差的优选工具。从那时起,我们已在全球安装了数千台,成为真正的行业标准。我们的专利PGI(相位光栅干涉仪)技术使您能够用短测针测量大垂度。这使我们能够结合非常高的刚度和低力,提供比我们的竞争对手更高的精度和可重复性。

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    美国
    厂商:4D Technology
    光源类型: Pulsed LED光源波长: 460nm样品反射率: 1 - 100 %垂直范围: 115nm有效值重复性: <0.005 nm

    NanoCam SQ动态光学轮廓仪可测量超光滑光学和精密表面的表面粗糙度。非接触式NanoCam SQ是对传统工作站光学轮廓仪所需的杂乱复制方法的巨大改进,并为测量大型光学器件提供了出色的便携性。通过启用机器上的粗糙度计量,NanoCam SQ提高了产量。通过消除运输昂贵的关键任务光学器件的需要,NanoCam降低了损坏的风险。NanoCam SQ光学轮廓仪采用动态干涉测量法(Dynamic Interferometry®),集成了高速光学传感器,测量速度比传统光学轮廓仪快数千倍。由于采集时间非常短,NanoCam SQ可以在振动的情况下进行测量,因此可以将仪器安装在抛光设备、台架或机器人末端执行器上。NanoCam SQ结构紧凑,重量轻,可直接放置在大型光学器件上。有了这种定位的自由度,NanoCam可以测量大型光学器件上任何位置的表面光洁度。NanoCam SQ动态光学轮廓仪包括4Sight高级分析软件。业界领先的4Sight报告ISO 25178表面粗糙度参数(S参数),并提供广泛的2D和3D分析选项、数据过滤、屏蔽、数据库和导入/导出功能。

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    美国
    厂商:NANOVEA
    光源类型: Coherent Continuous Wave (CW)

    先进的软件可以轻松地在屏幕上选择要自动扫描的区域。QC选项可用于自动化测试的所有方面,包括模式识别、数据库通信、宏程序和分析配方。更大的X-Y载物台、360°旋转载物台和许多定制配置。

  • 光电查
    光源类型: CW LED光源波长: 30nm样品反射率: 1 - 1 %垂直范围: 6nm有效值重复性: <0.01 nm

    新的Surtronic-R系列是一种高速圆度测量站,对于车间来说足够坚固,但对于任何检查室来说都足够精确。Surtronic R-80是一系列圆度测量应用的理想选择,包括航空航天和汽车工程:阀门..连杆..引脚..制动盘..压缩机零件..砂轮..齿轮轴.。皮下注射管..管道接头..冲模和冲床..这些系统是监控制造过程(如车削、磨削、铣削和珩磨)的理想选择。Surtronic R-100圆度系列提供增强的分辨率、专用夹具和额外的软件选项,非常适合轴承行业的大批量生产。Taylor Hobson与轴承制造商密切合作,为轴承座圈、滚珠、滚针和滚子的圆度和形状测量开发了一种灵活的解决方案。

  • 光电查
    德国
    厂商:Polytec GmbH
    光源类型: Pulsed LED光源波长: 525nm样品反射率: 1 - 1 %垂直范围: 70000000nm有效值重复性: <0.001 nm

    Polytec的TMS-150 TopMap Metro.Lab是一款精密白光干涉仪,具有大垂直测量范围、大视场和纳米分辨率。紧凑的3D工作站可在无接触的情况下轻松测量大型表面和结构的平整度、台阶高度和平行度,即使在柔软和精致的材料上也是如此。

  • 光电查
    德国
    厂商:Polytec GmbH
    光源类型: Pulsed LED光源波长: 525nm样品反射率: 1 - 1 %垂直范围: 500000nm有效值重复性: <0.001 nm

    TMS-350 TopMap In.Line的紧凑设计使其能够优雅而轻松地集成到生产线中。该系统测量形状偏差,如平面度或波度,无需接触,可靠且周期短。由于不需要物镜,避免了对光学器件或样品的碰撞和损坏。由于其特殊的光学设计,白光干涉仪可在安全的工作距离内以精确的台阶高度测量深孔内的均匀表面。

  • 光电查
    德国
    厂商:Polytec GmbH
    光源类型: CW LED光源波长: 525nm样品反射率: 1 - 1 %垂直范围: 70000000nm有效值重复性: <0.01 nm

    TMS-500 TopMap Pro.Surf和TMS-500-R TopMap Pro.Surf+是高精度、非接触式测量系统,具有大视场,可快速高效地对精密零件进行表面表征。TopMap Pro.Surf和Pro.Surf+集成了可跟踪校准的白光干涉仪,具有较大的垂直测量范围,可以精确表征陡峭边缘附近的表面,例如钻孔或具有较大台阶的零件。即使对于宏观样品,也可以快速检查平面度和平行度参数,并且具有极好的可重复性。额外的色度共焦传感器可在TopMap Pro.Surf+的单次测量中进行粗糙度评估。