测试与测量设备-专业仪器解决方案-光电查

3DScope-V2干涉仪

美国

分类：干涉仪

厂商：Connected Fibers

干涉仪配置: Not Specified 光源: 632 nm or 633nm 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

3D-Scope V2是Data-Pixel发布的较新干涉仪，用于生产环境。它的设计考虑了速度、精度、简单性、鲁棒性和成本，除了自动化和控制命令外，还通过USB2.0高速链路将非压缩、实时和高质量的图像从硬件传输到软件。3Dscope V2是便携式的，仅通过一个USB链接（包括电源）即可连接到笔记本电脑或台式电脑。所有校准步骤都是自动化的，并嵌入到用户友好的软件界面中，以产生无误差和可靠的测量结果。

AccuFiz紧凑型菲佐尔激光干涉仪

美国

分类：干涉仪

厂商：4D Technology

干涉仪配置: Twyman–Green Interferometer 光源: 632 nm or 633nm, 355nm, 532nm, 1053nm, 1064nm, 1550nm, 10.6um 输出极化: Circular 有效值重复性: <0.00005 waves 有效值精度: <0.0005 waves

Accufiz Fizeau干涉仪提供无与伦比的性能、质量和价值组合，用于精确、可重复测量表面形状和透射波前质量。Accufiz激光干涉仪非常容易在有限的实验室空间中使用。紧凑、轻便的设计具有极高的刚性，可在任何方向或环境中实现较大的稳定性。波长范围为355 nm至1.064µm，孔径范围为33至800 mm，采用水平和垂直安装配置，为各种应用和预算提供了合适的选择。可选的600万像素高分辨率相机可捕捉任何商用干涉仪的较高斜率。测量非球面、自由曲面光学元件和高度像差元件。可选的表面隔离源（SIS）增加了测量平面平行光学器件的能力，无需涂层或背面处理以消除不必要的反射。在薄至300µm的光学器件上量化形状光学厚度、透射波前误差和均匀性。

空气间隔 Etalons

美国

分类：干涉仪

厂商：TecOptics, Inc.

干涉仪配置: Not Specified 光源: Not Specified 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: <0.01 waves

空气间隔标准具具有适当等级的熔融石英（UV-可见或IR）基底。衬底上的面外AR涂层和楔形物防止形成无关的干涉图案。与基底光学接触的垫片决定了镜面的平行度和标准具的自由光谱范围。根据应用，间隔物可以是熔融石英或低热膨胀材料，例如ZeroDur或Ule。

AZP 200 HP自动准直测试和阻断装置

美国

分类：干涉仪

厂商：OptoTech Optical Machinery Inc

干涉仪配置: Not Specified 光源: Not Specified 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

AZP 200 HP是一款适用于许多光学生产领域的较佳多功能固井装置。由于各种安装和选项，AZP 200 HP可以完美地适应所有特殊的固井和定心任务。

Daffi Mt数字式自动光纤和插芯干涉仪

法国

分类：干涉仪

厂商：Data-Pixel

干涉仪配置: Not Specified 光源: Not Specified 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

Data-Pixel开发了一条经济高效的干涉仪生产线，可在不影响精度或性能的情况下进行大批量生产。基于我们丰富的干涉仪制造经验，我们将Daffi MT设计为坚固、快速和精确，以满足所有制造或实验室环境。借助BLINK软件平台，Daffi能够测量多光纤连接器和套圈的端面几何形状。Daffi干涉仪附件（法兰和适配器）与DAISI系列完全兼容，允许用户限制3D几何测量单元的成本。BLINK是所有Data-Pixel产品通用的软件平台。专用插件支持干涉测量系列产品：3D Scope-V2、Daffi SF、Daisi-V3、Daffi MT和Daisi MT FP。PDF、HTML和CSV报告功能，具有广泛的数据库支持（SQL Server、MySQL、ODBC、Oracle等）.OLE自动化支持可用于专用应用程序。

Daisi mt fp自动干涉仪

法国

分类：干涉仪

厂商：Data-Pixel

干涉仪配置: Not Specified 光源: Not Specified 输出极化: Not Specified 有效值精度: Not Specified

Daisi MT FP将Daisi MT-V3与Data-Pixel（正在申请专利）的新型浮动Pastille夹具技术相结合。这是多光纤连接器夹具的重大技术突破，非常适合高精度X/Y端面角度测量。使用浮动Pastille夹具，测量结果完全不受光纤电缆和操作员的影响。Floating Pastille非常适合检查安装有重型电缆的连接器。在浮动锭剂的帮助下，Daisi MT-V3现在更易于操作，而不会影响其现有的任何功能：测量精度、再现性、速度和鲁棒性。现在不需要校准，因为它是工厂设置的，每个夹具，由数据像素。

DAISI-MT干涉仪

美国

分类：干涉仪

厂商：Connected Fibers

干涉仪配置: Not Specified 光源: 632 nm or 633nm 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

基于使DAISI获得成功的设计和理念，DAISI-MT包括白色和Redight光源，可在同一系统上测量多光纤套圈和单光纤连接器的端面几何形状。其革命性的设计使其非常适合在生产环境和现场应用中使用。除了自动化和控制命令外，实时和高质量的图像通过USB2.0高速链路以高达每秒100张图像的速度从硬件传输到软件。DAISI-MT是便携式的，可以连接到笔记本电脑或台式电脑。所有校准步骤都是自动化的，并嵌入到用户友好的软件界面中，以产生无误差和可靠的测量。白光干涉仪的机械和电子设计比红光（单色）干涉仪的设计更具挑战性。整个光学系统必须以纳米级的精度和完美的线性方式在许多微米范围内平移。DAISI-MT系统做到了这一点：基于一个30微米行程的闭环压电传感器，在不到10秒的时间内对表面进行快速精确的扫描。

DAISI V2干涉仪

美国

分类：干涉仪

厂商：Connected Fibers

干涉仪配置: Not Specified 光源: 632 nm or 633nm 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

用于测量单光纤和MT-RJ连接器端面几何形状的较终生产干涉仪，配备了革命性的无外部移动部件机械设计。DAISI V2的设计考虑了多年的行业反馈，以满足生产环境中较苛刻的使用要求。除自动化和控制命令外，非压缩、实时和高质量图像通过USB2.0高速链路从硬件传输到软件。DAISI是便携式的，可以连接到笔记本电脑或台式电脑。所有校准步骤都是自动化的，并嵌入到用户友好的软件界面中，以产生无误差和可靠的测量结果。

Daisi-V3数字自动干涉仪

法国

分类：干涉仪

厂商：Data-Pixel

干涉仪配置: Not Specified 光源: Not Specified 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

用于测量单光纤连接器端面几何形状的较终生产干涉仪，配备了革命性的“无外部移动部件”机械设计。该装置结合了X400显微镜和干涉仪，以便在很短的时间内控制抛光后的连接器。有了Blink软件，操作员可以以较简单的方式生成定制的控制报告。DAISI-V3与行业测量标准完全兼容。Blink是所有Data-Pixel产品通用的软件平台。专用插件支持干涉测量系列产品：3D SCOPE-V2、DAISI-V3和DAISI MT-V3。PDF、HTML和CSV报告功能，具有广泛的数据库支持（SQL Server、MySQL、ODBC、Oracle等）.OLE自动化支持可用于专用应用程序。

FDVI Mark IV 3000

美国

分类：干涉仪

厂商：Martin Froeschner & Associates

干涉仪配置: Not Specified 光源: White Light 输出极化: Not Specified 有效值重复性: <0.01 waves 有效值精度: <0.01 waves

新的M，F&A Mark IV全光纤多普勒速度干涉仪系统在测量和记录瞬时速度与时间历程方面提供了增强的能力。两个版本的Mark IV系统现已投入使用。较初的Mark IV系统已在世界各地使用，并在目标表面具有合理反射的情况下提供了出色的结果。在较新版本的Mark IV中，我们升级到了新的超窄线宽激光器，以提高速度分辨率。这些系统还采用了较新的发展，如新的镍金属氢化物电源和充电系统。新的前面板布置包括一个“平衡”旋钮，可轻松均衡“正弦”和“余弦”信号幅度，以及一个数字电池电压监测器。新系统内置在1U机架安装机箱中，如果需要，可以在以后通过添加EDFA轻松升级到Mark IV-3000。Mark IV-3000采用基于相同超窄线宽种子激光器的全新系统架构，但该版本集成了+30 dB的EDFA将来自边缘目标表面的相对较弱的回光提升到在检测端给出高信噪比的水平。反射回光的这种提升相当于在目标上施加3000mW的激光功率。

FiBO 200干涉仪

越南

分类：干涉仪

厂商：Promet Optics

干涉仪配置: Michelson Interferometer 光源: 532nm, 355nm 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

FIBO®200干涉仪是一种经济的解决方案，可用于完整和精确的光纤连接器端面测试。高分辨率3D表面计量和自动缺陷检测结合在一个强大、紧凑的系统中，可在生产车间或现场进行快速、轻松的检测。

FiBO 250干涉仪

越南

分类：干涉仪

厂商：Promet Optics

干涉仪配置: Michelson Interferometer 光源: 532nm, 355nm 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

FIBO®250干涉仪是一种全自动解决方案，用于快速准确的光纤连接器端面测试。3D表面计量和先进的缺陷检测功能结合在一个紧凑的便携式系统中。

FiBO 300干涉仪

越南

分类：干涉仪

厂商：Promet Optics

干涉仪配置: Michelson Interferometer 光源: 355nm, 532nm 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

FIBO®300是一款用于分析光纤端面几何结构的多功能相移干涉仪。只需点击一下即可测量非标准、角度抛光和劈开的裸光纤。FIBO使复杂的干涉测量变得简单且经济实惠。

Fizeau干涉仪IFV-60

英国

分类：干涉仪

厂商：Armstrong Optical

干涉仪配置: Fizeau Interferometer 光源: White Light 输出极化: Linear 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

阿姆斯特朗光学公司（Armstrong Optical）新推出的是一款经过客户验证的相位测量斐索干涉仪（Fizeau Interferometer），采用垂直（向下看）配置，孔径为60mm，IFV-60。如果需要，孔径也可以增加到100。它配有经过认证的Lambda/20传输平面和符合人体工程学设计的样品处理系统。使用我们的合作伙伴TriOptics Berlin提供的备受推崇、功能强大且直观的µShape专业控制、采集和分析软件，可以简单、精确地测量较大的平面和透射窗口。

Fizeau干涉仪IFV-300和IFH-300

英国

分类：干涉仪

厂商：Armstrong Optical

干涉仪配置: Fizeau Interferometer 光源: White Light 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

Armstrong Optical较新推出了一系列经过客户验证的相位测量斐索干涉仪，包括垂直（向下看）和水平配置的300mm（12）孔径IFV-300和IFH-300。这两种配置都配有经过认证的Lambda/20传输平面和符合人体工程学设计的样品处理系统。使用我们的合作伙伴TriOptics Berlin提供的备受推崇、功能强大且直观的µShape专业控制、采集和分析软件，可以简单、精确地测量较大的平面和透射窗口。

GEMINI-2D

意大利

分类：干涉仪

厂商：Nireos

干涉仪配置: Not Specified 光源: White Light 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

Gemini-2D干涉仪是Gemini的高级型号，专门设计用于：在两个产生的光的复制品之间的相对延迟的扫描期间保持恒定的色散固定两个副本之一的绝对到达时间（具有阿秒稳定性）产生光的两个共线副本的能力使Gemini-2D成为时间分辨测量的理想设备，其中保持脉冲持续时间和与另一个光脉冲的同步是保证时间分辨率的关键。

GEMINI超稳定干涉仪

意大利

分类：干涉仪

厂商：Nireos

干涉仪配置: Not Specified 光源: White Light 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

Gemini是一种新颖而紧凑的干涉仪，它可以保证两个生成的光复制品之间具有非常高的鲁棒性和稳定性。

heliInspect H8

瑞士

分类：干涉仪

厂商：Heliotis AG

干涉仪配置: Twyman–Green Interferometer 光源: White Light 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

新型HeliInspect™H8是Heliotis系列无与伦比的光学在线传感器的较新成员。这款工业级白光干涉仪的核心采用了Heliotis下一代3D像素传感器HeliSens™S4。

heliOptics WLI6

瑞士

分类：干涉仪

厂商：Heliotis AG

干涉仪配置: Twyman–Green Interferometer 光源: White Light 输出极化: Not Specified 有效值重复性: <0.01 waves 有效值精度: <0.005 waves

HelioSpetTM H6的设计可满足较苛刻的3D在线检测任务的规格，如测量台阶高度、角度、形状、粗糙度、波纹、波度、缺陷、划痕、磨损平整度、共面性、变形膜厚度（层析成像模式）。得益于Heliotis在工业应用3D传感器方面的长期经验，H6将干涉测量精度与鲁棒性和高吞吐量相结合。

硬盘I-TEST平面度测试装置

美国

分类：干涉仪

厂商：Kiyohara Optics USA

干涉仪配置: Not Specified 光源: Not Specified 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

I-Test硬盘平面度测试装置

球面光学干涉仪 OWI桌面60毫米

美国

分类：干涉仪

厂商：OptoTech Optical Machinery Inc

干涉仪配置: Not Specified 光源: Not Specified 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

紧凑型车间干涉仪OWI Desktop 60 mm是内窥镜检查和微型生产的理想测量机器。

干涉仪SP 5000 TR

德国

分类：干涉仪

厂商：PE Schall GmbH & Co KG

干涉仪配置: Not Specified 光源: Not Specified 输出极化: Linear 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

工业和研究中的许多应用需要高精度的同步位移和角度测量。快速设置和轻松调整尤为重要。三光束激光干涉仪是将三个干涉仪组合在一个设备中的精密长度测量设备。在所有三个测量通道中使用相同的高度稳定的激光频率。因此，可以以亚纳米精度同时测量三个长度值。根据两个长度值之间的差和校准的光束距离，可以高精度地确定相应的角度。该系统采用模块化设计，因此可适用于各种测量任务。干涉仪的测量范围超过5米，具有亚纳米分辨率。对于使用反射器的测量，角度测量范围可达±12.5°。

干涉仪VI-direct 10

美国

分类：干涉仪

厂商：Vermont Photonics

干涉仪配置: Fizeau Interferometer 光源: Not Specified 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

干涉仪是光学生产和质量控制中不可缺少的测量工具。它们用于各种各样的应用。例如，光学表面的平面度和球度检测、半径测量以及光学系统的波前检测。VI系列干涉仪有两种版本：干涉仪VI-Vario和干涉仪VI-Direct。两个版本的不同之处在于仪器中使用的相机类型。干涉仪VI-Vario包含一个模拟摄像机，可连接电视监视器。干涉仪Vi-Direct配有基于USB的数码相机。与模拟摄像机相比，该摄像机具有更高的横向分辨率。它允许干涉图像的三倍数字缩放，因此可以测试较小的部件。另一个优点是降低了对外部干扰（例如振动）的敏感性。

干涉仪VI-direct SL 10

美国

分类：干涉仪

厂商：Vermont Photonics

干涉仪配置: Fizeau Interferometer 光源: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

干涉仪是光学生产和质量控制中不可缺少的测量工具。它们用于各种各样的应用。例如，光学表面的平面度和球度检测、半径测量以及光学系统的波前检测。VI系列干涉仪有两种版本：干涉仪VI-Vario和干涉仪VI-Direct。两个版本的不同之处在于仪器中使用的相机类型。干涉仪VI-Vario包含一个模拟摄像机，可连接电视监视器。干涉仪Vi-Direct配有基于USB的数码相机。与模拟摄像机相比，该摄像机具有更高的横向分辨率。它允许干涉图像的三倍数字缩放，因此可以测试较小的零件。另一个优点是降低了对外部干扰（例如振动）的敏感性。

干涉仪VI-vario 10

美国

分类：干涉仪

厂商：Vermont Photonics

干涉仪配置: Fizeau Interferometer 光源: Not Specified 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

干涉仪是光学生产和质量控制中不可缺少的测量工具。它们用于各种各样的应用。例如，光学表面的平面度和球度检测、半径测量以及光学系统的波前检测。VI系列干涉仪有两种版本：干涉仪VI-Vario和干涉仪VI-Direct。两个版本的不同之处在于仪器中使用的相机类型。干涉仪VI-Vario包含一个模拟摄像机，可连接电视监视器。干涉仪Vi-Direct配有基于USB的数码相机。与模拟摄像机相比，该摄像机具有更高的横向分辨率。它允许干涉图像的三倍数字缩放，因此可以测试较小的零件。另一个优点是降低了对外部干扰（例如振动）的敏感性。

M-WAVE 339 MWIR干涉仪

美国

分类：干涉仪

厂商：M3 Measurement Solutions

干涉仪配置: Not Specified 光源: Not Specified 输出极化: Linear 有效值重复性: <0.001 waves 有效值精度: <0.01 waves

M-Wave 339红外干涉仪是较先进的LUPI（激光不等路径干涉仪），工作在3.39微米。是检测中波红外成像器件/系统和光学材料均匀性的理想仪器。

马赫-泽恩德干涉仪

美国

分类：干涉仪

厂商：Kiyohara Optics USA

干涉仪配置: Not Specified 光源: Not Specified 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: <0.01 waves

马赫-曾德干涉仪

微塔龙

美国

分类：干涉仪

厂商：TecOptics, Inc.

干涉仪配置: Not Specified 光源: 632 nm or 633nm, 355nm, 532nm, 780nm, 1053nm, 1064nm, 1550nm, 10.6um, 543nm, 594nm 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: <0.01 waves

光纤通信要求光学元件极度小型化。针对DWDM（密集波分复用）、线路窄化和信道监控等应用，TecOptics推出了新的微标准具系列。新开发的制造技术使TecOptics能够以低廉的价格提供大量这些微型空气间隔和固体标准具。空气间隔版本具有小至4.5mm X 2mm X 3mm的尺寸，而固体微标准具横截面可以小至2mm。精细度值可以大于100。

微型相移激光干涉仪

美国

分类：干涉仪

厂商：Kiyohara Optics USA

干涉仪配置: Not Specified 光源: 780nm 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

微型移相激光干涉仪

NSLI-543-1 N-Slit激光干涉仪

美国

分类：干涉仪

厂商：Interferometric Optics

干涉仪配置: Not Specified 光源: 543nm 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

通常，基于多棱镜扩束和数字检测，狭缝干涉仪允许透射光学表面的快速干涉测量表征。与传统的逐点非相干显微密度计和逐点非相干显微镜相比，这是一个显著的进步。

NSLI-543-2 N-Slit激光干涉仪

美国

分类：干涉仪

厂商：Interferometric Optics

干涉仪配置: Not Specified 光源: 543nm 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

通常，基于多棱镜扩束和数字检测，狭缝干涉仪允许透射光学表面的快速干涉测量表征。与传统的逐点非相干显微密度计和逐点非相干显微镜相比，这是一个显著的进步。

NSLI-594-1 N-Slit激光干涉仪

美国

分类：干涉仪

厂商：Interferometric Optics

干涉仪配置: Not Specified 光源: 594nm 输出极化: Not Specified 有效值精度: Not Specified

通常，基于多棱镜扩束和数字检测，狭缝干涉仪允许透射光学表面的快速干涉测量表征。与传统的逐点非相干显微密度计和逐点非相干显微镜相比，这是一个显著的进步。

NSLI-594-2 N-Slit激光干涉仪

美国

分类：干涉仪

厂商：Interferometric Optics

干涉仪配置: Not Specified 光源: 594nm 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

通常，基于多棱镜扩束和数字检测，狭缝干涉仪允许透射光学表面的快速干涉测量表征。与传统的逐点非相干显微密度计和逐点非相干显微镜相比，这是一个显著的进步。

NSLI-632-1 N-Slit激光干涉仪

美国

分类：干涉仪

厂商：Interferometric Optics

干涉仪配置: Not Specified 光源: 632 nm or 633nm 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

通常，基于多棱镜扩束和数字检测，狭缝干涉仪允许透射光学表面的快速干涉测量表征。与传统的逐点非相干显微密度计和逐点非相干显微镜相比，这是一个显著的进步。

NSLI-632-2 N-Slit激光干涉仪

美国

分类：干涉仪

厂商：Interferometric Optics

干涉仪配置: Not Specified 光源: 632 nm or 633nm 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

通常，基于多棱镜扩束和数字检测，狭缝干涉仪允许透射光学表面的快速干涉测量表征。与传统的逐点非相干显微密度计和逐点非相干显微镜相比，这是一个显著的进步。

OWI 150 XT球体和非球体入侵干涉仪

美国

分类：干涉仪

厂商：OptoTech Optical Machinery Inc

干涉仪配置: Not Specified 光源: Not Specified 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

高精度Fizeau Workshop干涉仪OWI 150 XT INVERS，用于测试球面和非球面表面。高精度运动学和高达Ø150 mm的工作范围使这台测量机成为生产高端光学产品不可或缺的工具。

µPhase® 1000柔性干涉仪传感器

德国

分类：干涉仪

厂商：TRIOPTICS GmbH

干涉仪配置: Twyman–Green Interferometer 光源: 632 nm or 633nm 输出极化: Random 有效值重复性: <0.01 waves 有效值精度: <0.01 waves

这些高度集成的相移Twyman-Green干涉仪传感器可满足现代质量管理的较苛刻要求。结合μShape™测量和分析软件，这些高性能精密测量仪器可提供有关样品表面偏差或波前像差的信息。

µPhase® 500柔性干涉仪传感器

德国

分类：干涉仪

厂商：TRIOPTICS GmbH

干涉仪配置: Twyman–Green Interferometer 光源: 632 nm or 633nm 输出极化: Random 有效值重复性: <0.01 waves 有效值精度: <0.01 waves

这些高度集成的相移Twyman-Green干涉仪传感器可满足现代质量管理的较苛刻要求。结合µShapeTM测量和分析软件，这些高性能精密测量仪器可提供有关样品表面、波前或测试物镜像差的信息。

µPhase® UNIVERSAL - 用于所有类型的干涉测量的水平设置

德国

分类：干涉仪

厂商：TRIOPTICS GmbH

干涉仪配置: Twyman–Green Interferometer 光源: 632 nm or 633nm, 355nm, 532nm, 780nm, 1053nm, 1064nm 输出极化: Random 有效值重复性: <0.01 waves 有效值精度: <0.01 waves

μPHASE®Universal针对研发中的测量进行了优化，是μPHASE®产品线中较灵活的仪器。水平设计能够测量尺寸、半径和材料不同的各种透镜和部件。

PhaseCam Twyman-Green激光干涉仪

美国

分类：干涉仪

厂商：4D Technology

干涉仪配置: Twyman–Green Interferometer 光源: 632 nm or 633nm, 355nm, 532nm, 1053nm, 1064nm, 1550nm, 10.6um 输出极化: Circular 有效值重复性: <0.001 waves 有效值精度: <0.002 waves

与传统的Fizeau仪器相比，Twyman-Green配置干涉仪具有几个重要的优势：振动不敏感测量可在具有挑战性的环境中使用，如Cryo-Vac测试或长测量路径。设计可以非常紧凑，可在狭小空间或难以接近的位置使用。轴上设计可提供出色的精度，尤其是在测量球形元件时。测试和参考之间的功率比以无损方式调整。PhaseCam动态Twyman-Green激光干涉仪可提供高分辨率测量，即使振动和空气湍流Dynamic Interferometry®使PhaseCams能够在30微秒内捕获完整的波前测量结果，比传统的相移干涉仪快5000倍。PhaseCams结构紧凑，重量轻，使重新配置测试设置变得简单和容易，无需振动隔离。PhaseCam激光干涉仪非常适合大直径光学元件的计量、生产车间质量控制、通常受气流湍流阻碍的洁净室应用、远程操作必不可少的环境室以及移动部件（如可变形反射镜、旋转磁盘或振动膜）的模态分析。

C01型PicoScale传感器头

德国

分类：干涉仪

厂商：SmarAct

干涉仪配置: Not Specified 光源: 1550nm 输出极化: Linear 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

C01是皮级干涉仪的标准传感头类型。由于其准直输出光束、紧凑的外形和各种定制选项，它适用于较常见的应用。每个传感器头（见图1）基于两个主要组件：准直光纤输出光束的透镜系统和将光束分为参考光束和探测光束的分束器。参考光束被内部参考镜反射，该内部参考镜被涂覆到分束器立方体的一侧。探测光束从头部射出并被目标表面反射，以跟踪其相对位移。分束器的前表面标记每个皮级测量的绝对零位置，因为在这里探针和参考光束具有相等的长度。

C03型PicoScale传感器头

德国

分类：干涉仪

厂商：SmarAct

干涉仪配置: Not Specified 光源: 1550nm 输出极化: Linear 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

C03是一种传感头类型，针对中等工作距离进行了优化，并使用回复反射器作为目标。探测光束被放大，使得其发散度减小，并且在目标反射镜处反射之后可以收集更多的光功率。C03传感头类型基于标准C01型传感头，包括光纤准直光学器件和分束器。分束器将光束分成参考光束和探测光束。参考光束被涂在分束器立方体一侧的内部参考镜反射。在C03传感器头中，探测光束在被望远镜（两个透镜）扩展后离开传感器头，以显著降低光束发散度。它被目标表面反射并跟踪其相对位移。分束器的前表面标记每个皮级测量的绝对零位置，因为这里探测光束和参考光束具有相等的长度。

F01型PicoScale传感器头

德国

分类：干涉仪

厂商：SmarAct

干涉仪配置: Not Specified 光源: 1550nm 输出极化: Linear 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

F01是具有聚焦探测光束的传感头类型。这允许测量小目标的位移。此外，传感器头提供高角度公差。如图1所示，在预准直之后，集成分束器将光分成参考光束和探测光束。参考光束被参考反射镜反射，该参考反射镜被涂覆到分束器立方体的一侧。探测光束由透镜系统聚焦并从头部射出。分束器的前表面标记每个皮级测量的绝对零位置，因为这里探测光束和参考光束具有相等的长度。因此，工作距离（WD）不等于距头部的距离（即焦距f），因为透镜系统仅集成到探测光束中。

L01型PicoScale传感器头

德国

分类：干涉仪

厂商：SmarAct

干涉仪配置: Not Specified 光源: 1550nm 输出极化: Linear 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

L01是皮级激光干涉仪的传感头。目标光束用柱面透镜仅沿一个轴聚焦，从而产生线聚焦。这样，传感器头沿着聚焦轴具有相对大的角度工作范围，同时沿着正交轴具有大的直径。通常，这些传感器头用于测量旋转圆柱形物体的偏心运动，并且对其摆动（即旋转轴的倾斜/倾斜）不敏感。

用于缝合的QED Inteferometer QIS

美国

分类：干涉仪

厂商：QED Technologies Inc

干涉仪配置: Not Specified 光源: Not Specified 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

QIS干涉仪完全由QED技术公司设计、制造和建造。它针对拼接进行了优化，使客户能够测量更多零件，并提高了精度、速度和易用性。QED的QIS集成了硬件和软件功能，旨在增强QED计量产品的性能。专有的QIS相干成像系统允许用户获得更高的条纹密度和更大的对比度。QIS先进的光学设计减少了常见的误差，如回扫和放大误差。此外，QIS提供的更大的焦点行程允许测量比通用干涉仪更短半径的零件。QIS也使用与QED的Q-Flex™MRF™系统相同的软件平台QED.NET进行设计。这使得系统之间的无缝通信成为可能。新的1920 X 1920像素，高分辨率相机可以提高点测量能力。这意味着您可以更准确地表征MRF移除函数，使您能够做出更好的制造工艺决策，并更快、更准确地实现收敛。

固体Etalons

美国

分类：干涉仪

厂商：TecOptics, Inc.

干涉仪配置: Not Specified 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: <0.01 waves

固体标准具通常具有熔融石英衬底，其材料等级（例如UV-可见光或IR）取决于光谱区域。通常，对表面进行研磨、抛光和加工，使其平整度优于L/100，表面之间具有类似质量的平行度。电介质（或很少是金属）涂层提供所需精细度所需的反射率。

费佐干涉仪（Verifire Fizeau）

美国

分类：干涉仪

厂商：Zemetrics

干涉仪配置: Fizeau Interferometer 光源: Not Specified 输出极化: Circular 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

Zygo的VeriFire™干涉仪系统可对普莱诺或球面以及光学系统和组件的透射波前进行快速高精度测量。测量玻璃或塑料光学元件（如平面、透镜和棱镜），甚至精密加工的金属和陶瓷表面。VeriFire™系统采用真正的激光斐索设计，扩展了Zygo在表面形状计量方面无与伦比的经验。轴上配置与Zygo的专利采集算法和全功能MX™计量软件相结合，可实现具有高级分析功能的高精度表面形状计量。

Verifire高清干涉仪系统

美国

分类：干涉仪

厂商：Zemetrics

干涉仪配置: Fizeau Interferometer 光源: Not Specified 输出极化: Circular, Elliptical, Random 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

Zygo的VeriFire™HD干涉仪系统提供平面或球面的快速高分辨率测量，以及光学元件和组件的透射波前测量。干涉腔长度被精确调制，同时高速相机捕捉多个条纹图像，这些图像由软件进行分析，以创建被测零件的高度详细的测量结果。

Verifire HDX干涉仪用于精确的中间空间频率特性分析

美国

分类：干涉仪

厂商：Zemetrics

干涉仪配置: Fizeau Interferometer 光源: Not Specified 输出极化: Circular, Elliptical, Random 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

Zygo的新型VeriFire HDX干涉仪专为极高性能光学元件和系统的中间空间频率成分表征而设计和制造。该系统包括广受欢迎的VeriFire HD的所有强大功能（如QPSI和长寿命稳定激光器），并增加了重要的增强功能，如新的同类较佳成像和高仪器传递函数（ITF）分辨率、中间空间频率内容和高斜率表面偏差的卓越特性，以及Zygo的DynaPhase®动态采集技术（可选），该技术可消除振动引起的问题，并在几乎任何环境中实现精密计量。

VT1000 DL干涉仪工作站

德国

分类：干涉仪

厂商：XONOX Technology GmbH

干涉仪配置: Fizeau Interferometer 光源: 632 nm or 633nm 输出极化: Linear 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

Xonox VT1000 DL是一款精密干涉仪工作站，采用功能丰富的下视塔配置。集成的斐索干涉仪提供精确的表面计量，而集成空气轴承的天然花岗岩柱有助于精确的半径测量能力。下视配置较适合用于子孔径抛光技术。