测试和测量

光电查提供的光学测试仪器、光学测量仪器包括:干涉仪、激光功率计、单色仪、光延迟线、光功率计、光谱分析仪、光波长计、光谱仪。

光电查为您提供1072个产品。 下载资料,获取报价,实现功能、价格及供应的优化选择。

  • 光电查
    美国
    分类:干涉仪

    DynaFiz 动态计量干涉仪 专为在易振动环境中进行可靠的干涉测量而设计;用途广泛且灵活,可满足从高端望远镜测试到光学系统主动校准的实时相位反馈等各种应用需求。 DynaFiz® 的高光效光学设计与 ZYGO 高功率氦氖激光源相结合,可在 "冻结 "振动的高相机快门速度下运行。这种动态功能可在对传统的时相移技术来说过于剧烈的环境中提供可靠的测量。

  • 光电查
    美国
    分类:干涉仪

    Verifire XL 是一个完整的干涉仪工作站,具有大孔径和小占地面积,可轻松测试直径达 300 毫米的平面光学器件。

  • 光电查
    美国
    分类:光谱仪
    波长范围: 1064 nm显示尺寸: 16.3 x 15.1 x 4.4 cm

    我们为 OEM 开发的 WP 1064 X 光谱仪具有与标准产品相同的高灵敏度,而且结构更加紧凑、坚固,并提供全面的工程支持。 基于专利 VPH 传输光栅的卓越光学设计 f/1.3 输入孔径实现高通量,覆盖拉曼指纹范围 可配置平台:仅光谱仪/集成激光器/激光器+接口光学器件 可选择探测器冷却级别,以平衡噪音水平、功耗和成本 坚固耐用、热稳定的光学工作台确保了出色的单元间可重复性 包括 ENLIGHTEN™ 光谱软件和 SDK!

  • 光电查
    美国
    分类:光谱仪
    波长范围: 830 nm显示尺寸: 17.0 x 17.8 x 5.5 cm

    我们为 OEM 开发的 WP 830 XM 光谱仪具有与标准产品相同的高灵敏度,而且结构更加紧凑、坚固,并提供全面的工程支持。 基于专利 VPH 传输光栅的卓越光学设计 f/1.3 输入孔径实现高通量,覆盖拉曼指纹范围 可配置平台:仅光谱仪/集成激光器/激光器+接口光学器件 坚固耐用、热稳定的光学工作台确保了出色的单元间可重复性 包括 ENLIGHTEN™ 光谱软件和 SDK!

  • 光电查
    美国
    分类:光谱仪
    波长范围: 785 nm显示尺寸: 17.0 x 17.8 x 5.5 cm

    我们为 OEM 开发的 WP 785 XM 光谱仪具有与标准产品相同的高灵敏度,而且结构更加紧凑、坚固耐用,并提供全面的工程支持。 基于专利 VPH 传输光栅的卓越光学设计 f/1.3 输入孔径实现高通量,覆盖拉曼指纹范围 可配置平台:仅光谱仪/集成激光器/激光器+接口光学器件 坚固耐用、热稳定的光学工作台确保了出色的单元间可重复性 包括 ENLIGHTEN™ 光谱软件和 SDK!

  • 光电查
    美国
    分类:光谱仪
    重量: 1.6 kg工作温度显示: 0-40 Degree C显示尺寸: 11.7 x 13.0 x 7.0 cm

    250 - 1850 cm-1 光谱仪范围 高 NA、f/1.3 光学设计,提供卓越的灵敏度和信噪比 与其他紧凑型 InGaAs 光谱仪相比,信号和速度更胜一筹 免费操作软件和 SDK 了解我们的 OEM 就绪型 1064 光谱仪

  • 光电查
    美国
    分类:光谱仪
    重量: 1.8 kg工作温度显示: 0-40 Degree C显示尺寸: 16.5 x 16.2 x 6.7 cm

    250 - 1850 cm-1 光谱仪范围 高 NA、f/1.3 光学设计,具有出色的灵敏度和信噪比 可互换狭缝调节分辨率和灵敏度 免费操作软件和 SDK

  • 光电查
    美国
    分类:光谱仪
    重量: 3 kg工作温度显示: 0-40 Degree C显示尺寸: 24.0 x 13.5 x 7.1 cm

    扩展的 270 - 3600 cm-1 光谱仪范围 高 NA、f/1.3 光学设计,具有出色的灵敏度和信噪比 可互换狭缝调节分辨率和灵敏度 (-IC) 免费操作软件和 SDK

  • 光电查
    美国
    分类:光谱仪
    重量: 1.8 kg工作温度显示: 0-40 Degree C显示尺寸: 16.5 x 16.2 x 6.7 cm

    275 - 2000 cm-1 光谱仪范围 高 NA、f/1.3 光学设计,可实现出色的灵敏度和信噪比 可互换狭缝调节分辨率和灵敏度 免费操作软件和 SDK

  • 光电查
    美国
    分类:光谱仪
    重量: 1.8 kg工作温度显示: 0-40 Degree C显示尺寸: 16.5 x 16.2 x 6.7 cm

    150 - 3200 cm-1 光谱仪范围 高 NA、f/1.3 光学设计,具有出色的灵敏度和信噪比 可互换狭缝调节分辨率和灵敏度 免费操作软件和 SDK

  • 光电查
    美国
    分类:光谱仪
    重量: 1.8 kg工作温度显示: 0-40 Degree C显示尺寸: 16.5 x 16.2 x 6.7 cm

    300 - 3700 cm-1 光谱仪范围 高 NA、f/1.3 光学设计,具有出色的灵敏度和信噪比 可互换狭缝调节分辨率和灵敏度 免费操作软件和 SDK

  • 光电查
    美国
    分类:光谱仪
    重量: 3 kg工作温度显示: 0-40 Degree C显示尺寸: 30.2 x 17.9 x 7.5 cm

    400 - 3200 cm-1 光谱仪范围 高 NA、f/2.0 光学设计,具有出色的灵敏度和信噪比 可互换狭缝调节分辨率和灵敏度 免费操作软件和 SDK

  • 光电查
    美国
    分类:光谱仪
    重量: 3.4 kg波长范围: 1064 nm工作温度显示: 0-40 Degree C显示尺寸: 22.8 x 19.7 x 10.7 cm

    输入光圈选择:f/1.5 用于最大信号,f/2.0 用于分辨率 用户可配置输入耦合、可互换狭缝和保持架系统接口选项 内部光学机械快门,用于自动光学暗收集 与超冷科学相机兼容,可获得极低光拉曼信号并延长测量时间

  • 光电查
    美国
    分类:光谱仪
    重量: 3.4 kg波长范围: 830 nm工作温度显示: 0-40 Degree C显示尺寸: 18.3 x 20.0 x 10.7 cm

    输入光圈选择:f/1.5 用于最大信号,f/2.0 用于分辨率 用户可配置输入耦合、可互换狭缝和保持架系统接口选项 内部光学机械快门,用于自动光学暗收集 与超冷科学相机兼容,可获得极低光拉曼信号并延长测量时间

  • 光电查
    美国
    分类:光谱仪
    重量: 3.4 kg波长范围: 785 nm工作温度显示: 0-40 Degree C显示尺寸: 18.3 x 20.0 x 10.7 cm

    输入光圈选择:f/1.5 用于最大信号,f/2.0 用于分辨率 用户可配置输入耦合、可互换狭缝和保持架系统接口选项 内部光学机械快门,用于自动光学暗收集 与超冷科学相机兼容,可获得极低光拉曼信号并延长测量时间

  • 光电查
    美国
    分类:光谱仪
    重量: 3.4 kg波长范围: 633 nm工作温度显示: 0-40 Degree C显示尺寸: 18.3 x 20.0 x 10.7 cm

    输入光圈选择:f/1.5 用于最大信号,f/2.0 用于分辨率 用户可配置输入耦合、可互换狭缝和保持架系统接口选项 内部光学机械快门,用于自动光学暗收集 与超冷科学相机兼容,可获得极低光拉曼信号并延长测量时间

  • 光电查
    美国
    分类:光谱仪
    重量: 3.4 kg波长范围: 532 nm显示尺寸: 18.3 x 20.0 x 10.7 cm

    输入光圈选择:f/1.5 用于最大信号,f/2.0 用于分辨率 用户可配置输入耦合、可互换狭缝和保持架系统接口选项 内部光学机械快门,用于自动光学暗收集 与超冷科学相机兼容,可获得极低光拉曼信号并延长测量时间

  • 光电查

    inSE-1000 是 Semilab 推出的新型原位光谱椭偏仪。在 ALD 室等真空室中进行蚀刻过程或层沉积时,该工具可通过椭偏光谱分析快速获取层厚度和光学特性。它还可以安装在负载锁定室、冷却室和转移室上,在不干扰真空的情况下进行后处理研究。

  • 光电查

    Semilab 提供的 SE-2000 是一种独有的模块化光学平台,配备有旋转补偿器光学元件的分光椭偏仪。它可以对单层和多层样品以及基片进行非接触式和非破坏性光学测量,从而获得单独的薄膜厚度和光学特性。

  • 光电查
    加拿大
    分类:光谱仪
    光谱分辨率: sub 1 pm at 532 nm

    HyperFine 系列光谱仪基于 LightMachinery 的 VIPA 专利技术,专为测量超精细光谱和微小光谱偏移而设计。LightMachinery 提供的 HyperFine 光谱仪结构紧凑、价格低廉,具有亚微米级分辨率。 该光谱仪是脉冲激光表征以及测量布里渊散射产生的微小光谱偏移的理想选择。通过使用简单的 PC 软件,用户可以实时查看光谱,并保存或导出这些光谱以进行更多分析。通过 LabView 驱动程序,可以将 HyperFine 光谱仪集成到自动实验装置中。

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