尺寸测量

已选
推荐专栏
  • 专业选型
  • 正规认证
  • 品质保障
查看更多 >

光电查为您提供32个产品。下载资料,获取报价,实现功能、价格及供应的优化选择。

  • 新拓三维XTDIC-CONST非接触式三维全场应变测量系统 尺寸测量

    新拓三维XTDIC-CONST非接触式三维全场应变测量系统

    中国大陆
    分类:尺寸测量
    厂家:新拓三维

    基于数字图像相关法(DIC)双目立体视觉,实现物体变形过程中全场位移、全场应变的非接触测量。

  • 基准250 尺寸测量

    基准250

    美国
    分类:尺寸测量
    XYZ行程范围: 300×150×150(标准)/300×150×200(可选) XYZ轴分辨率: 0.1μm(标准)/0.05μm(可选,双轴标尺用于X轴) 最大推荐负载: 25kg 成像选项: 单一放大倍率,固定镜头光学系统,工厂可配置后镜头和可现场更换的前镜头 后镜头(工厂安装): VIEW 2.5X,FOV(mm): 2.78×2.07

    VIEW Benchmark™ 250是一款高性能、可靠的台式光学计量系统,配备先进的光学、照明和图像处理技术,并支持EDFi成像。

  • 3D电线探测仪 尺寸测量

    3D电线探测仪

    瑞典
    分类:尺寸测量
    厂家:LIMAB
    测量对象: Hot/Cold wire 测量范围: 0.5–75mm 采样率: 1200Hz/axis 每秒测量截面数: 20 测量系统精度: +/-0.02mm@2σ

    WireProfiler是一款用于精确测量热轧线材直径、椭圆度和形状的系统,采用高性能激光测微仪,能够快速、准确地测量线材的截面形状。

  • 基准XLT 尺寸测量

    基准XLT

    美国
    分类:尺寸测量
    X轴行程: 900-2000 Y轴行程: 1500-2000 Z轴行程: 150 X、Y、Z轴分辨率: 0.5μm 平台驱动系统: DC伺服电机,X,Y,Z轴

    VIEW Benchmark™ XLT是一款高性能、大行程的非接触式测量系统,专为处理大面积零件或小型零件组而设计,提供先进的光学、照明和图像处理功能。

  • 基准624 尺寸测量

    基准624

    美国
    分类:尺寸测量
    X轴行程: 624 Y轴行程: 624 Z轴行程: 150 X、Y、Z轴分辨率: 0.5μm 可选X、Y、Z轴分辨率: 0.1μm

    VIEW Benchmark™ 624是一款大容量、全自动三轴尺寸测量系统,配备移动桥和光学系统,确保被测部件始终保持静止。

  • 分拣和计量设备 尺寸测量

    分拣和计量设备

    美国
    分类:尺寸测量

    晶片制造商的裸晶片几何计量系统。

  • 管子探测器(TubeProfiler 尺寸测量

    管子探测器(TubeProfiler

    瑞典
    分类:尺寸测量
    厂家:LIMAB
    测量范围: 最大直径60英寸 测量平面数量: 3 测量类型: 外径、椭圆度、形状、长度、直线度 系统尺寸: 1.6米(5英尺) 适用温度条件: 热管和冷管

    TubeProfiler S是一种在线测量系统,用于测量管材的端部、局部和整体直线度,以及外径、椭圆度、形状和长度。它是优化螺纹和矫直操作的理想工具,也可安装在精加工生产线中进行质量控制。

  • Surtronic-R精密高速圆度测量 尺寸测量

    Surtronic-R精密高速圆度测量

    英国
    分类:尺寸测量

    新的Surtronic-R系列是一种高速圆度测量站,对于车间来说足够坚固,但对于任何检查室来说都足够精确。Surtronic R-80是一系列圆度测量应用的理想选择,包括航空航天和汽车工程:阀门..连杆..引脚..制动盘..压缩机零件..砂轮..齿轮轴.。皮下注射管..管道接头..冲模和冲床..这些系统是监控制造过程(如车削、磨削、铣削和珩磨)的理想选择。Surtronic R-100圆度系列提供增强的分辨率、专用夹具和额外的软件选项,非常适合轴承行业的大批量生产。Taylor Hobson与轴承制造商密切合作,为轴承座圈、滚珠、滚针和滚子的圆度和形状测量开发了一种灵活的解决方案。

  • LaserSpeed Pro M系列 尺寸测量

    LaserSpeed Pro M系列

    美国
    分类:尺寸测量
    厂家:NDC Technologies
    工作距离: 300mm(12in) 工作距离: 600mm(24in) 工作距离: 1000mm(39.4in) 速度范围: 0.4至4000m/min(1.3至13100ft/min) 速度范围: 0.8至8000m/min(2.6至26200ft/min)

    LaserSpeed Pro M系列是一款专为测量跳动、无导向运动产品的非接触式长度和速度测量仪,采用激光多普勒测速技术,提供高精度和可靠性。

  • LaserSpeed Pro 8500X/9500X 尺寸测量

    LaserSpeed Pro 8500X/9500X

    美国
    分类:尺寸测量
    厂家:NDC Technologies
    准确性: <±0.03% 重复性: <±0.02% 测量速率: LS Pro 8500: >50,000/s; LS Pro 9500: >100,000/s 加速度率: >500m/s² 起始/结束长度校正: 支持

    LaserSpeed Pro系列是一款非接触式长度和速度测量仪器,采用双光束激光多普勒技术,提供高精度和可靠性,适用于钢铁和有色金属制造行业。

  • LaserSpeed Pro 8500E/9500E 尺寸测量

    LaserSpeed Pro 8500E/9500E

    美国
    分类:尺寸测量
    厂家:NDC Technologies
    准确性: <±0.03% of reading 重复性: <±0.02% 测量速率: LS Pro 8500: >50,000/s; LS Pro 9500: >100,000/s 加速度率: >500m/s² 起始/结束长度校正: 无

    LaserSpeed Pro系列是一款非接触式长度和速度测量仪器,采用双光束激光多普勒技术,提供高精度和可靠性,适用于钢铁和有色金属制造行业。

  • Form Talysurf Intra Contour 尺寸测量

    Form Talysurf Intra Contour

    英国
    分类:尺寸测量

    这款较新的便携式车间轮廓系统以Talysurf系列的形式提供了32mm的宽范围,以适应典型组件上的较大功能,并具有足够的分辨率来检测较小的轮廓偏差(120nm)(超精度模式在6.4mm范围内提供25nm)。20mm范围拾取选项提供75nm分辨率(在4mm范围内提供15nm)。

  • Form Talysurf Intra Touch 尺寸测量

    Form Talysurf Intra Touch

    英国
    分类:尺寸测量

    Taylor Hobson的新款Intra Touch是其用于表面光洁度、形状和可选轮廓分析的车间测量解决方案系列中的较新产品,它在触摸屏平板电脑上集成了用户友好的TalyProfile软件。

  • EpiCurve TT曲率测量系统 尺寸测量

    EpiCurve TT曲率测量系统

    德国
    分类:尺寸测量
    厂家:LayTec AG
    温度范围: 450°C至1300°C (大视窗系统)/精度优于±1K; 500°C至1400°C (窄视窗系统)/精度优于±1K; 其他温度范围可定制 (如1500°C用于UV LED应用, 1800°C用于SiC)

    EpiCurve® TT系列产品是光学原位系统,具有晶圆曲率、修正发射率的晶圆温度和多波长反射率测量功能。

  • CT200 - 中心厚度测量系统 尺寸测量

    CT200 - 中心厚度测量系统

    德国
    分类:尺寸测量
    重量: approx. 30kg

    CT 200是一款精确且坚固的接触式测量系统,专为测量生产和质量检测中的地面、抛光和镀膜光学元件的中心厚度(CT)而设计。

  • EpiTT产品系列 尺寸测量

    EpiTT产品系列

    德国
    分类:尺寸测量
    厂家:LayTec AG

    EpiTT 产品系列包括光学原位系统,用于测量发射率校正的晶圆温度和多波长反射率。EpiTT 还提供双头(EpiTwin TT)、三头(EpiTriple TT)或四个光学头的系统,用于多晶圆环配置。

  • DT140直径测量系统 尺寸测量

    DT140直径测量系统

    德国
    分类:尺寸测量

    DT 140是一款高精度、易于使用的直径测量系统,专为光学元件的直径、圆度和锥度测量而设计,适用于生产和质量检测环境。

  • ClearWave隐形眼镜精确像差仪 尺寸测量

    ClearWave隐形眼镜精确像差仪

    美国
    分类:尺寸测量
    厂家:Lumetrics Inc

    ClearWave是一款用于测试隐形眼镜的波前传感设备,能够测量球面、柱面、轴向以及像差(如彗差和球差),并提供详细的波前图和Zernike系数。