L01型PicoScale传感器头

用于测量单光纤连接器端面几何形状的较终生产干涉仪，配备了革命性的“无外部移动部件”机械设计。该装置结合了X400显微镜和干涉仪，以便在很短的时间内控制抛光后的连接器。有了Blink软件，操作员可以以较简单的方式生成定制的控制报告。DAISI-V3与行业测量标准完全兼容。Blink是所有Data-Pixel产品通用的软件平台。专用插件支持干涉测量系列产品：3D SCOPE-V2、DAISI-V3和DAISI MT-V3。PDF、HTML和CSV报告功能，具有广泛的数据库支持（SQL Server、MySQL、ODBC、Oracle等）.OLE自动化支持可用于专用应用程序。

Arden Photonics的VFI-2000是一种干涉检测系统，设计用于检查劈开或抛光光纤的表面质量和平整度。它具有640万像素CMOS图像传感器和12位ADC，采用1/1.8英寸光学格式，可提供2000μm的视场和X6数码变焦。该干涉仪可以在2D和3D中分析直径为400-2000µm的光纤，使用户能够全面了解切割或抛光过程。它可以在7秒内测量高达8°的2D模式（实时）和4°的3D模式的解理角。该干涉仪的高度分辨率为0.01μm，可在自动或手动模式下测量端角。它还具有检查和条纹模式，并且还可以生成3D端面高度图。VFI-2000可通过USB 3.0接口进行控制，该接口也可用作电源。它采用台式模块，尺寸为240 X 240 X 90 mm，非常适合光纤研发、设备尾纤、斜角切割器开发/测试、精密切割器、激光、医疗设备、特种光纤、LDF切割器、光纤端盖和多光纤束制造应用。

波长: 840 nm

Micro-Epsilon的IMS5600-DS是一款波长为840 nm的干涉仪，工作温度为5至70摄氏度，存储温度为-20至70摄氏度。有关IMS5600-DS的更多详细信息，请参见下文。

波长: 1250 to 1625 nm探测器类型: Photodiode

Thorlabs公司的SA30-144是一款干涉仪，自由光谱范围（FSR）为1.5 GHz，波长为1250至1625 nm.有关SA30-144的更多详细信息，请参阅下文。

波长: 630 to 824 nm探测器类型: Photodiode

Thorlabs公司的SA30-73是一款干涉仪，自由光谱范围（FSR）为1.5 GHz，波长为630至824 nm.有关SA30-73的更多详细信息，请参阅下文。