3DScope-V2干涉仪

Daisi MT FP将Daisi MT-V3与Data-Pixel（正在申请专利）的新型浮动Pastille夹具技术相结合。这是多光纤连接器夹具的重大技术突破，非常适合高精度X/Y端面角度测量。使用浮动Pastille夹具，测量结果完全不受光纤电缆和操作员的影响。Floating Pastille非常适合检查安装有重型电缆的连接器。在浮动锭剂的帮助下，Daisi MT-V3现在更易于操作，而不会影响其现有的任何功能：测量精度、再现性、速度和鲁棒性。现在不需要校准，因为它是工厂设置的，每个夹具，由数据像素。

I-Test硬盘平面度测试装置

Arden Photonics的VFI-1200是一种干涉检测系统，设计用于检查劈开或抛光光纤的表面质量和平整度。它的最大视场为1200μm，具有X1.5、X2、X3和X6数码变焦。该干涉仪具有1/1.8英寸光学格式的64MP CMOS阵列图像传感器、12位ADC和525nm LED.它可以实时测量高达8°（2D）和4°（3D）的解理角，测量时间小于7秒。该干涉仪在2D模式下具有检查和条纹模式，并具有自动/手动端角测量功能，可生成3D端面高度图。它可以通过USB 3.0接口进行控制，该接口也可用作电源。VFI-1200采用台式模块，尺寸为240 X 240 X 90 mm，非常适合用于精密切割器制造、切割器维护、激光制造、医疗设备制造、光纤研发、特种光纤制造、角式切割器的开发和测试、设备线尾、LDF切割器制造/维护、光纤端盖制造和多光纤束制造应用。

波长: 1250 to 1625 nm探测器类型: Photodiode

Thorlabs公司的SA30-144是一款干涉仪，自由光谱范围（FSR）为1.5 GHz，波长为1250至1625 nm.有关SA30-144的更多详细信息，请参阅下文。

DynaFiz 动态计量干涉仪 专为在易振动环境中进行可靠的干涉测量而设计；用途广泛且灵活，可满足从高端望远镜测试到光学系统主动校准的实时相位反馈等各种应用需求。 DynaFiz® 的高光效光学设计与 ZYGO 高功率氦氖激光源相结合，可在 "冻结 "振动的高相机快门速度下运行。这种动态功能可在对传统的时相移技术来说过于剧烈的环境中提供可靠的测量。