FiBO 300干涉仪

阿姆斯特朗光学公司（Armstrong Optical）新推出的是一款经过客户验证的相位测量斐索干涉仪（Fizeau Interferometer），采用垂直（向下看）配置，孔径为60mm，IFV-60。如果需要，孔径也可以增加到100。它配有经过认证的Lambda/20传输平面和符合人体工程学设计的样品处理系统。使用我们的合作伙伴TriOptics Berlin提供的备受推崇、功能强大且直观的µShape专业控制、采集和分析软件，可以简单、精确地测量较大的平面和透射窗口。

高精度Fizeau Workshop干涉仪OWI 150 XT INVERS，用于测试球面和非球面表面。高精度运动学和高达Ø150 mm的工作范围使这台测量机成为生产高端光学产品不可或缺的工具。

波长: 632.8 nm

普惠测量系统公司（Pratt&Whitney Measurement Systems）的LMS200是一种激光干涉仪，通过将测量探头位置与632.8nm红色氦氖激光光源的波长进行比较来测量内部和外部尺寸。该专利激光路径与测量轴一致，消除了阿贝误差。它有一个花岗岩底座，其热膨胀系数比钢小十倍以上，使该干涉仪成为高度稳定的测量源。该干涉仪的精度为0.05+0.5Lµm，重复性为0.04µm.它的测量范围高达200 mm，直接读数范围为200 mm.LMS200干涉仪有一个碳化钨平板（1/10波）测量探头，带有Ø0.25金刚石尖端。探头是电动和远程控制的，以提高系统稳定性并消除操作员的影响。它可以测量最大尺寸为293 X 203 mm的样品，并具有14克的探针接触力。该干涉仪具有两步校准功能，这是一种先进的省时功能，允许使用两个实验室级别的可追踪量块进行校准，从开始到结束仅需30秒。它可以在直接读取或比较器模式下工作，并具有可编程自动循环功能，支持用户定义的恒定吞吐速率。该干涉仪根据命令存储所有测量结果的总和，并可显示统计数据，指示计算的平均值和一个标准偏差。LMS200需要110/120至220/240 V的交流电源，并消耗1-2 A的电流。它采用尺寸为56 X 41 X 79 cm的封装，非常适合测量球/球体、磁带/磁盘基板、光学元件、聚乙烯薄膜、量块/滑规、涂层厚度标准、塞规和销规、丝线、薄膜厚度、量块堆叠、网格厚度、纺织品和精密零件。

波长: 380 to 430 nm

Toptica Photonics的FPI-100-0400-1是一款法布里-珀罗干涉仪，工作波长为380至430 nm.它的自由频谱范围（FSR）为1 GHz，频率分辨率为2.5 GHz.该共焦扫描干涉仪具有7mm的孔径、超过400的典型精细度和具有99.8%反射率的标准镜。它有一个内置的光电探测器单元，设计用于测量和控制连续波（CW）激光器的模式分布。该干涉仪具有FC/APC光纤连接器，是电信和光谱分析应用的理想选择。