干涉仪是一种精密的测量设备，它的工作原理是干涉，一种两个或多个波叠加产生干涉图案的现象，其中最初的光强度被重新分配，产生的波有更高、相等或更低的振幅。
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OWI 150 XT球体和非球体入侵干涉仪
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获取报价 收藏 下载规格书 更新时间：2024-04-19 14:40:59
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OWI 150 XT球体和非球体入侵干涉仪概述
高精度Fizeau Workshop干涉仪OWI 150 XT INVERS，用于测试球面和非球面表面。高精度运动学和高达Ø150 mm的工作范围使这台测量机成为生产高端光学产品不可或缺的工具。
OWI 150 XT球体和非球体入侵干涉仪参数
- 干涉仪配置 / Interferometer Configuration: : Not Specified
- 光源 / Light Source: : Not Specified
- 输出极化 / Output Polarization: : Not Specified
- 有效值重复性 / RMS Repeatability: : Not Specified
- 有效值精度 / RMS Precision: : Not Specified
OWI 150 XT球体和非球体入侵干涉仪图片集
OWI 150 XT球体和非球体入侵干涉仪规格书
OWI 150 XT球体和非球体入侵干涉仪厂家介绍
在光学机械制造商的圈子里，Optotech作为Schunk集团的一部分，在技术和工艺工程方面被认为是世界市场的#做的较好的#之一。我们在全球范围内为所有生产领域提供较全面的产品系列，从超微型、微型和微距到平面光学和眼科镜片。Optotech始终提供完整的生产线，从生成到磨边/定心和抛光，一直到测量。
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图片名称分类制造商参数描述
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