光学计量

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  • 光电查
    美国
    分类:光学计量
    波长范围: 700 - 1650 nm准确性: 0.0465nm重复性: 0.05pm

    228光学波长计采用成熟的基于光学干涉仪的设计,以较高精度测量CW激光器的波长。提供两个版本。228A型是较精确的,测量波长的精度为±0.3 pm。对于不太严格的测试要求,228B型是一种价格较低的替代产品,波长精度为±1.0 pm。

  • 光电查
    美国
    分类:光学计量
    波长范围: 700 - 1650 nm准确性: 0.10nm重复性: 0.15pm

    228光学波长计采用成熟的基于光学干涉仪的设计,以较高精度测量CW激光器的波长。提供两个版本。228A型是较精确的,测量波长的精度为±0.3 pm。对于不太严格的测试要求,228B型是一种价格较低的替代产品,波长精度为±1.0 pm。

  • 光电查
    美国
    分类:光学计量
    波长范围: 1270 - 1650 nm准确性: 0.0465nm重复性: 0.05pm

    428多波长测量仪将成熟的基于迈克尔逊干涉仪的技术与快速傅里叶变换分析相结合,以测量多达1000个离散光信号的波长、功率和OSNR。波长测量精度高达±0.3 pm,功率测量精度为±0.5 dB。此外,428系统会自动计算OSNR,使其大于40 dB。

  • 光电查
    美国
    分类:光学计量
    波长范围: 1270 - 1650 nm准确性: 0.0775nm重复性: 0.15pm

    428多波长测量仪将成熟的基于迈克尔逊干涉仪的技术与快速傅里叶变换分析相结合,以测量多达1000个离散光信号的波长、功率和OSNR。波长测量精度高达±0.3 pm,功率测量精度为±0.5 dB。此外,428系统会自动计算OSNR,使其大于40 dB。

  • 光电查
    美国
    分类:光学计量
    波长范围: 1000 - 1680 nm准确性: 0.0465nm重复性: 0.05pm

    438系列多波长计将基于迈克尔逊干涉仪的成熟技术与快速傅里叶变换分析相结合,以测量多达1000个离散光信号的波长、功率和光信噪比。凭借高精度、高达10 Hz的测量速率以及1000至1680 nm的宽工作范围等特性,438型可提供较精确、高效和通用的WDM波长测试,以满足任何制造工程师的需求。

  • 光电查
    美国
    分类:光学计量
    波长范围: 1000 - 1680 nm准确性: 0.033nm重复性: 0.15pm

    438系列多波长计将基于迈克尔逊干涉仪的成熟技术与快速傅里叶变换分析相结合,以测量多达1000个离散光信号的波长、功率和光信噪比。凭借高精度、高达10 Hz的测量速率以及1000至1680 nm的宽工作范围等特性,438型可提供较精确、高效和通用的WDM波长测试,以满足任何制造工程师的需求。

  • 光电查
    美国
    分类:光学计量
    波长范围: 375 - 1100 nm准确性: 0.0002nm重复性: 0.03pm

    671激光波长计采用基于迈克尔逊干涉仪的成熟设计来测量CW激光器的绝对波长。有两个版本可用。671A型是较精确的,测量波长的精度为百万分之±0.2(1000 nm时为±0.0002 nm)。对于不太严格的实验,671B型是一种价格较低的替代产品,精度为百万分之±0.75(1000 nm时为±0.0008 nm)。

  • 光电查
    美国
    分类:光学计量
    波长范围: 370 - 1100 nm准确性: 0.0008nm重复性: 0.1pm

    671激光波长计采用基于迈克尔逊干涉仪的成熟设计来测量CW激光器的绝对波长。有两个版本可用。671A型是较精确的,测量波长的精度为百万分之±0.2(1000 nm时为±0.0002 nm)。对于不太严格的实验,671B型是一种价格较低的替代产品,精度为百万分之±0.75(1000 nm时为±0.0008 nm)。

  • 光电查
    美国
    分类:光学计量
    波长范围: 1250 - 1650 nm准确性: 0.031nm重复性: 0.03pm

    828系列高速光学波长计采用干涉仪技术,该技术与用于WDM波长测试应用的其他波长计所采用的技术有很大不同。Fizeau标准具设计用于产生由快速InGaAs光电探测器阵列检测的空间干涉图。使用板载数字信号处理器,干涉测量数据被快速处理为精确的波长测量。这些技术的组合提供了无与伦比的1 kHz持续测量速率。

  • 光电查
    美国
    分类:光学计量
    波长范围: 1250 - 1650 nm准确性: 0.10nm重复性: 0.1pm

    828系列高速光学波长计采用干涉仪技术,该技术与用于WDM波长测试应用的其他波长计所采用的技术有很大不同。Fizeau标准具设计用于产生由快速InGaAs光电探测器阵列检测的空间干涉图。使用板载数字信号处理器,干涉测量数据被快速处理为精确的波长测量。这些技术的组合提供了无与伦比的1 kHz持续测量速率。

  • 光电查
    德国
    分类:光学计量
    厂商:Halcyonics GmbH
    光谱范围: 250 - 1700 nm光谱分辨率: 1000nm入射角: 1 - 1 deg

    纳米薄膜_EP4BAM是EP4成像椭偏平台的一种特殊配置。是一种理想的薄膜成像系统,可升级为成像椭偏仪。这是一个完全无需动手的计算机控制系统,使用专有的电机控制电路。Nanofilm_EP4BAM可直接在显示器上显示样品的实时图像,并具有重要的图像处理功能。物镜扫描仪为整体聚焦图像提供了扩展的景深。高功率绿色激光器和出色的物镜相结合,可实现1微米的横向分辨率,这是目前CCD光学探测器的极限。强大的软件使操作变得简单方便。作为一个完整的解决方案,该系统包括计算机、电子设备和所有必要的软件,用于在您现有的槽上或使用我们的集成槽之一开始测量。水槽是一个单独的项目,不包括在标准中。

  • 光电查
    德国
    分类:光学计量
    厂商:Halcyonics GmbH
    光谱范围: 250 - 1700 nm光谱分辨率: 300nm入射角: 1 - 1 deg

    新一代显微薄膜、表面和材料计量工具采用自动归零椭圆偏振术和显微镜相结合的方法,能够以小至1微米的横向分辨率进行表面表征。这能够分辨比大多数非成像椭偏仪小1000倍的样品区域,即使它们使用微点光谱选项。Nanofilm_EP4使用各种独特的功能,允许实时可视化您的表面。您将在微观尺度上看到样品的结构,并测量厚度、折射率和吸收等参数。可以记录选定区域的3D剖面图。与AFM、QCM-D、反射计、拉曼光谱等其他技术的仪器组合有可能从您的样品中获得更多信息。

  • 光电查
    速度范围: 0.005 - 800 mm/sec振动频率范围: 0.01 - 100000 Hz工作距离: 0.01 - 5 m扫描范围: 1 - 1 deg

    OMS LaserPoint LP01-HF(高频)是LP01激光多普勒测振仪的升级版,可将振动频率范围扩展至100 kHz。LP01-HF提供同样易于使用的操作以及同样紧凑的系统尺寸。该系统可以通过将激光束瞄准较远5米的任何距离的目标来立即使用,而不需要任何光学或机械调整。系统输出是与目标速度成正比的模拟电压,可通过示波器、频谱仪或数据采集系统轻松查看。LaserPoint激光测振仪包括两个速度范围和一系列低通滤波器选项,以优化输出信号的质量。

  • 光电查
    速度范围: 0.005 - 800 mm/sec振动频率范围: 0.01 - 20000 Hz工作距离: 0.01 - 5 m扫描范围: 1 - 1 deg

    OMS LaserPoint LP01激光多普勒测振仪是一款易于使用的精密仪器,可对任何表面进行非接触式振动测量。该系统可以通过将激光束瞄准较远5米的任何距离的目标来立即使用,而不需要任何光学或机械调整。系统输出是直接与目标速度成比例的模拟电压,可通过示波器、频谱仪或数据采集系统轻松查看。LaserPoint激光测振仪包括两个速度范围和一系列低通滤波器选项,以优化输出信号的质量。标准LP01系统可测量高达20 kHz的振动频率,而LP01-HF系统可测量高达100 kHz的频率。OMS LaserPoint LP01测振仪基于创新的激光二极管技术,采用自混合架构,无需外部透镜和较少数量的光学元件。这就产生了一个非常坚固和紧凑的测振仪,可以在恶劣的环境中很好地工作。

  • 光电查
    速度范围: 0.005 - 800 mm/sec振动频率范围: 0.1 - 20000 Hz工作距离: 0.5 - 5 m扫描范围: 20 - 20 deg

    OMS LaserScan LS01扫描激光多普勒测振仪是一款小巧、便携、价格极具竞争力且易于使用的精密仪器,可用于任何表面的全场无损检测和非接触式振动测量。LaserScan LS01使用专利的LaserPoint引擎以及计算机控制的扫描镜和综合软件包,可快速生成任何表面的振动图。该系统经过优化,可测量约半米至五米的距离,因此无需调整、镜头附件或物体处理,从而确保较高水平的测量精度。

  • 光电查
    美国
    分类:光学计量
    指数测量范围: 1000 - 14000准确性: -0.00002 - 0.00002重复性: -0.00005 - 0.00005

    Prism Pro-IR是一款先进的红外折射仪。它是表征红外材料色散和折射率特性的理想仪器。

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    德国
    分类:光学计量
    厂商:Halcyonics GmbH
    光谱范围: 450 - 900 nm光谱分辨率: 1000nm入射角: 1 - 1 deg

    Nanofilm_RSE是一种特殊类型的椭偏仪,它将样品与参考进行比较。以这种方式,可以测量样品和参考之间的椭圆偏振差。由于参考的取向,在测量过程中不需要移动或调制任何光学元件,并且可以在单次测量中获得完整的高分辨率光谱。通过这种方式,每秒可获得100个光谱。同步X-Y平台能够在几分钟内采集大视场薄膜厚度图。参考光谱椭偏仪将椭偏仪的高灵敏度和层厚区域(0.1nm-10µm)与市场上可用的较高速度相结合。与激光椭偏仪相比,它包括450和900nm之间的光谱信息。这在处理层的一个以上参数是可变的情况下是重要的,例如厚度和光密度。

  • 光电查
    美国
    分类:光学计量
    指数测量范围: 400 - 1000准确性: -0.001 - 0.001重复性: -0.001 - 0.001

    Xplor 100是一种先进的全自动计量装置,设计用于测量和分析可见光和NIR波段的光学基板的气泡和夹杂物。