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下载规格书 Twyman-Green干涉仪是用于测试光学元件的干涉仪。它是由Frank Twyman和Arthur Green在1916年发明的。
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Verifire HDX干涉仪用于精确的中间空间频率特性分析概述
Zygo的新型VeriFire HDX干涉仪专为极高性能光学元件和系统的中间空间频率成分表征而设计和制造。该系统包括广受欢迎的VeriFire HD的所有强大功能（如QPSI和长寿命稳定激光器），并增加了重要的增强功能，如新的同类较佳成像和高仪器传递函数（ITF）分辨率、中间空间频率内容和高斜率表面偏差的卓越特性，以及Zygo的DynaPhase®动态采集技术（可选），该技术可消除振动引起的问题，并在几乎任何环境中实现精密计量。
Verifire HDX干涉仪用于精确的中间空间频率特性分析参数
- 干涉仪配置 / Interferometer Configuration: : Fizeau Interferometer
- 光源 / Light Source: : Not Specified
- 输出极化 / Output Polarization: : Circular, Elliptical, Random
- 有效值重复性 / RMS Repeatability: : Not Specified
- 有效值精度 / RMS Precision: : Not Specified
Verifire HDX干涉仪用于精确的中间空间频率特性分析图片集
Verifire HDX干涉仪用于精确的中间空间频率特性分析规格书
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图片名称分类制造商参数描述
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波长: 1064 nm
4D Technology的PhaseCam NIR是一种波长为1064 nm的干涉仪，工作温度为16至27摄氏度。PhaseCam NIR的更多详细信息可在下面查看。
- VFI-1200干涉仪Arden Photonics
Arden Photonics的VFI-1200是一种干涉检测系统，设计用于检查劈开或抛光光纤的表面质量和平整度。它的最大视场为1200μm，具有X1.5、X2、X3和X6数码变焦。该干涉仪具有1/1.8英寸光学格式的64MP CMOS阵列图像传感器、12位ADC和525nm LED.它可以实时测量高达8°（2D）和4°（3D）的解理角，测量时间小于7秒。该干涉仪在2D模式下具有检查和条纹模式，并具有自动/手动端角测量功能，可生成3D端面高度图。它可以通过USB 3.0接口进行控制，该接口也可用作电源。VFI-1200采用台式模块，尺寸为240 X 240 X 90 mm，非常适合用于精密切割器制造、切割器维护、激光制造、医疗设备制造、光纤研发、特种光纤制造、角式切割器的开发和测试、设备线尾、LDF切割器制造/维护、光纤端盖制造和多光纤束制造应用。
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波长: 840 nm
Micro-Epsilon的IMS5400-TH70是一款白光干涉仪，专为工业厚度测量而设计。它可以测量0.035-1.4毫米的厚度，测量距离可达70毫米，连续可调速率为100赫兹至6千赫兹。该干涉仪具有波长为840nm的NIR-SLED光源，甚至可以测量光学非致密物体（如抗反射镀膜玻璃）的厚度。IMS5400-TH70提供了与距离无关的测量的决定性优势，从而获得稳定的纳米精度厚度值。目标可以在其测量范围内移动而不影响精度。该干涉仪的厚度测量范围还允许测量薄层、平板玻璃和薄膜。它需要24 V的直流电源，功耗为10 W.该干涉仪采用尺寸为Φ10 X 55 mm的铝制外壳。
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波长: 350 to 535 nm探测器类型: Photodiode
Thorlabs公司的SA200-3B是一款干涉仪，自由光谱范围（FSR）为1.5 GHz，波长为350至535 nm.有关SA200-3B的更多详细信息，请参见下文。
- SA210-3B干涉仪Thorlabs Inc
波长: 350 to 535 nm探测器类型: Photodiode
Thorlabs Inc的SA210-3B是一款干涉仪，自由光谱范围（FSR）为10 GHz，波长为350至535 nm.有关SA210-3B的更多详细信息，请参见下文。
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