CVS trevista CAM

功能强大的CVS Trevista Flat采用了Trevista圆顶几何形状，并将其简化为平面和紧凑的格式。照明控制器集成到该单元中，使集成到检测系统中变得容易，并使价格敏感的应用成为可能。由于采用扁平设计，不仅可以检测静止物体的表面，还可以检测移动部件的表面。这开启了灵活的处理概念，如玻璃旋转板以及圆柱表面和板材的检查。CVS TREVISTA平板所使用的&aposSHAPE FROM SHADGING&apos技术使其能够检测圆柱形表面上的材料缺陷，而不受光泽和污垢的影响。这个独特的程序从物体表面的阴影中推断出物体三维形状的信息。

NanoCam SQ动态光学轮廓仪可测量超光滑光学和精密表面的表面粗糙度。非接触式NanoCam SQ是对传统工作站光学轮廓仪所需的杂乱复制方法的巨大改进，并为测量大型光学器件提供了出色的便携性。通过启用机器上的粗糙度计量，NanoCam SQ提高了产量。通过消除运输昂贵的关键任务光学器件的需要，NanoCam降低了损坏的风险。NanoCam SQ光学轮廓仪采用动态干涉测量法（Dynamic Interferometry®），集成了高速光学传感器，测量速度比传统光学轮廓仪快数千倍。由于采集时间非常短，NanoCam SQ可以在振动的情况下进行测量，因此可以将仪器安装在抛光设备、台架或机器人末端执行器上。NanoCam SQ结构紧凑，重量轻，可直接放置在大型光学器件上。有了这种定位的自由度，NanoCam可以测量大型光学器件上任何位置的表面光洁度。NanoCam SQ动态光学轮廓仪包括4Sight高级分析软件。业界领先的4Sight报告ISO 25178表面粗糙度参数（S参数），并提供广泛的2D和3D分析选项、数据过滤、屏蔽、数据库和导入/导出功能。

Polytec的TMS-150 TopMap Metro.Lab是一款精密白光干涉仪，具有大垂直测量范围、大视场和纳米分辨率。紧凑的3D工作站可在无接触的情况下轻松测量大型表面和结构的平整度、台阶高度和平行度，即使在柔软和精致的材料上也是如此。

TMS-500 TopMap Pro.Surf和TMS-500-R TopMap Pro.Surf+是高精度、非接触式测量系统，具有大视场，可快速高效地对精密零件进行表面表征。TopMap Pro.Surf和Pro.Surf+集成了可跟踪校准的白光干涉仪，具有较大的垂直测量范围，可以精确表征陡峭边缘附近的表面，例如钻孔或具有较大台阶的零件。即使对于宏观样品，也可以快速检查平面度和平行度参数，并且具有极好的可重复性。额外的色度共焦传感器可在TopMap Pro.Surf+的单次测量中进行粗糙度评估。

⼀次测量，实现全范围内的粗糙度、波纹度、轮廓分析。指示精度 ±(0.8+2L/100)μm；直线度 ≤0.3μm/100mm；Z1轴轮廓指示精度 ≤±(0.8+|0.12H|)μm； Z1粗糙度指示精度 ≤±(8nm+3.5%)