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激光束剖面仪 光束分析仪
精品

激光束剖面仪

分类: 光束分析仪

厂家: World Star Tech

产地: 加拿大

更新时间: 2024-07-12 20:22:34

光学性能 光束分析 制造 服务 组装

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概述

使用World Star Tech激光束轮廓仪,全面了解系统的光学性能。光束轮廓仪可让您在微观尺度上看到激光束的确切形状和特征。它专为可重复和可靠的数据采集而设计,是制造、维修和装配应用的理想选择。无窗130万像素1/2传感器捕捉光束轮廓,没有标准图像传感器存在的边缘效应。查看小至5.2µm的复杂光束特征。通过实时椭圆计算可视化光束,并通过曲线拟合查看横截面。在易于使用的Windows软件界面上显示感兴趣的关键波束宽度参数,如半高全宽(FWHM)和1/E2。使用具有可自定义测试持续时间和采样率的光束漂移可视化工具,跟踪光束质心随时间的稳定性。将结果导出为各种图像格式或PDF报告。

参数

  • 传感器类型 / Sensor Type : Other
  • 可衡量的来源 / Measurable Sources : CW, Pulsed
  • 波长范围 / Wavelength Range : 400 - 1000 nm
  • # 像素(宽度) / # Pixels (Width) : 1280
  • # 像素(高度) / # Pixels (Height) : 1024
  • ADC / ADC : 10-bit

应用

1. 制造 2. 服务 3. 组装

特征

1. 1.3百万像素无窗传感器 2. 实时椭圆计算 3. 光束漂移可视化工具

详述

World Star Tech Laser Beam Profiler 是一款高精度的光束分析设备,适用于制造、服务和组装应用。该设备配备了1.3百万像素的无窗传感器,能够捕捉无干涉效应的光束轮廓,并可视化小至5.2µm的光束特征。通过实时椭圆计算和曲线拟合功能,用户可以查看光束的横截面,并追踪光束中心的稳定性。设备支持多种光束宽度表示方式,并能够导出结果为各种图像格式或PDF报告。

规格书

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厂家介绍

成立于1996年,专注于传感器、测量、生物医学和激光照明领域的激光应用。今天,我们是激光模块和激光传感器的领先制造商和设计商。我们的产品线包括从405 nm到1064 nm的各种功率范围的激光模块和系统。我们经验丰富、技术精湛的专业技术人员将帮助您解决较复杂的激光设计问题。

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图片 名称 分类 制造商 参数 描述
  • µBeam Analyzer For Microscopic Beams 光束分析仪 用于微观光束的µBeam分析仪 光束分析仪 Duma Optronics

    传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 350 - 1310 nm

    µBEAM是一种光束诊断测量系统,用于实时测量和显示亚微米范围内的小型CW或脉冲激光器、光纤和激光二极管光束轮廓。主要功能包括:测量小于0.5µm(FWHM)的光束,处理CW或脉冲,具有长工作距离,使用高分辨率CCD响应范围,用于快速光束搜索的光学变焦。µBeam应用于CD拾音器、激光二极管、拾音器透镜和光学元件的调整、各种光束参数的评估和测试。使用SAM3-HP光束采样器,还可提供高功率版本的µBeam。

  • µBeam High Power 光束分析仪 高功率µBeam 光束分析仪 Duma Optronics

    传感器类型: CCD 可衡量的来源: CW, Pulsed 波长范围: 350 - 1310 nm

    µBeam HP是一种光束诊断测量系统,用于实时测量和显示亚微米范围内的小型CW或脉冲激光器、光纤和激光二极管光束轮廓。主要功能包括:测量小于0.5µm(FWHM)的光束,处理CW或脉冲,具有长工作距离,使用高分辨率CCD响应范围,光学变焦用于快速光束查找。在当今的技术中,越来越多的工业高功率激光器被设计成具有几个微米的微观范围。在较重要的焦点测量这些激光束是一项艰巨的任务,其密度水平超过每平方毫米10兆瓦。新款µBeam HP配有气冷式光束采样器。这使得能够以1nm的分辨率测量微小光束。

  • Beam Monitor BM8304 光束分析仪 光束监视器 BM8304 光束分析仪 Metrolux GmbH

    传感器类型: CCD 可衡量的来源: Pulsed 波长范围: 340 - 1100 nm

    低S/N比和高传感器响应线性度是该Metrolux光束剖面仪中采用的传感器的主要特性。该软件提供了国际标准EN-ISO 11145、11146、11670和13694所需的功能,涵盖了激光表征的各个方面。Beam Profiler相机BPC8304使用1.4 Mpixel CCD传感器,方形像素大小为6.45µm。340至1100 nm的波长范围允许分析所有常见的激光波长。数据接口为千兆以太网(GigE)。由于大多数计算机已经提供了GigE接口(与FireWire相反),因此通常不需要添加单独的接口卡。电缆长度可轻松达到100米,便于集成到生产系统中。

  • Beam Profiling And Beam Imaging For X-Ray 1-200 Nm 光束分析仪 用于1-200Nm的X射线的光束分析和光束成像 光束分析仪 Star Tech Instruments

    传感器类型: Other 可衡量的来源: CW 波长范围: 1 - 200 nm

    在X射线中可视化和测量光束的目标具有新的重要性。Star Tech Instruments开发了新的系统来分析这些光束的功率/能量、均匀性、高分辨率光束轮廓和图像分析。型号µBIP10X是一款真空兼容(1x10-10 Torr)光束轮廓仪和光束成像系统,设计用于1-10 nm的高分辨率。该系统适用于200nm。10倍MAG。1.5 mm的场具有0.6µm的分辨率,并且对非常低的能级敏感。该系统设计用于1.3 X 1.3传感器,但可以针对其他相机格式进行修改。可根据要求提供不同的放大倍率和相机。μBIP系列是STI较新的成像系统,专为使用软X射线而设计-#91;1-2 nm-#93;不应将其用于准分子激光器的较长波长,如193nm或248nm,这将导致严重的内部损伤。较重要的是,该系统设计用于高真空室,使用我们的定制真空法兰组件将光学系统连接到真空室。法兰的额定压力为10-8托。

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