全部产品分类
光电查

BladeCam-HR - 基于CMOS的光束分析器

立即咨询获取报价获取报价收藏 收藏 下载规格书 下载规格书
美国
分类:光束分析仪
厂家:DataRay

更新时间:2024-07-13 11:01:14.000Z

型号:

光电查新品推荐

  • 专业选型专业选型
  • 正规认证正规认证
  • 品质保障品质保障

严格把控产品质量,呈现理想的光电产品,确保每一件产品都能满足您的专业需求。

概述

BladeCamTM是一款超薄、便携、USB 2.0供电的光束分析相机,适用于Windows XP和Vista系统以及Intel-Mac系统。它具有宽波长范围和高分辨率,适用于激光光束轮廓分析。

参数

  • 传感器类型 / Sensor Type : CMOS
  • 可衡量的来源 / Measurable Sources : CW
  • 波长范围 / Wavelength Range : 190 - 1150 nm
  • # 像素(宽度) / # Pixels (Width) : 1280
  • # 像素(高度) / # Pixels (Height) : 1024
  • 最大全帧率 / Max Full Frame Rate : 10Hz
  • ADC / ADC : 10-bit

应用

1. CW激光器轮廓分析 2. 激光和基于激光系统的现场服务 3. 光学组件和仪器校准 4. 光束漂移和记录

特征

1. USB 2.0供电,灵活的3米电缆 2. 超薄设计,厚度仅为0.65英寸 3. 10位数字CMOS相机,带片上10位ADC 4. 无窗口传感器,避免干扰 5. 自动快门20,000:1电子快门,50 µs至1000 ms 6. 多相机并行捕获 7. 可现场更换的图像传感器

详述

BladeCamTM是一款由DataRay Inc.推出的超薄便携式光束分析相机,适用于激光光束轮廓分析。它支持宽波长范围(375-1100 nm,可选1475-1620 nm),并提供高分辨率(1.0 µm)。该相机通过USB 2.0供电,具有灵活的3米电缆,方便现场使用。BladeCamTM还具有多相机并行捕获功能、自动电子快门和可现场更换的图像传感器,非常适合用于CW激光器轮廓分析、激光系统现场服务、光学组件校准和光束漂移记录。

规格书

厂家介绍

DataRay,自1988年成立以来,一直是激光光束分析技术的行业先锋。公司专注于设计和制造符合ISO 11146标准的高品质激光光束分析仪,为客户提供无与伦比的准确性和可靠性。凭借灵活的团队和客户至上的服务理念,DataRay不断创新,满足各种应用和波长项目的需求。我们以小巧的组织规模,快速响应市场变化,持续引领光子学行业的发展。

相关产品

图片名称分类制造商参数描述
  • 光电查
    µBeam Analyzer For Microscopic Beams光束分析仪Duma Optronics

    µBEAM是一种光束诊断测量系统,用于实时测量和显示亚微米范围内的小型CW或脉冲激光器、光纤和激光二极管光束轮廓。主要功能包括:测量小于0.5µm(FWHM)的光束,处理CW或脉冲,具有长工作距离,使用高分辨率CCD响应范围,用于快速光束搜索的光学变焦。µBeam应用于CD拾音器、激光二极管、拾音器透镜和光学元件的调整、各种光束参数的评估和测试。使用SAM3-HP光束采样器,还可提供高功率版本的µBeam。

  • 光电查
    µBeam High Power光束分析仪Duma Optronics

    µBeam HP是一种光束诊断测量系统,用于实时测量和显示亚微米范围内的小型CW或脉冲激光器、光纤和激光二极管光束轮廓。主要功能包括:测量小于0.5µm(FWHM)的光束,处理CW或脉冲,具有长工作距离,使用高分辨率CCD响应范围,光学变焦用于快速光束查找。在当今的技术中,越来越多的工业高功率激光器被设计成具有几个微米的微观范围。在较重要的焦点测量这些激光束是一项艰巨的任务,其密度水平超过每平方毫米10兆瓦。新款µBeam HP配有气冷式光束采样器。这使得能够以1nm的分辨率测量微小光束。

  • 光电查
    Beam Monitor BM8304光束分析仪Metrolux GmbH

    低S/N比和高传感器响应线性度是该Metrolux光束剖面仪中采用的传感器的主要特性。该软件提供了国际标准EN-ISO 11145、11146、11670和13694所需的功能,涵盖了激光表征的各个方面。Beam Profiler相机BPC8304使用1.4 Mpixel CCD传感器,方形像素大小为6.45µm。340至1100 nm的波长范围允许分析所有常见的激光波长。数据接口为千兆以太网(GigE)。由于大多数计算机已经提供了GigE接口(与FireWire相反),因此通常不需要添加单独的接口卡。电缆长度可轻松达到100米,便于集成到生产系统中。

  • 光电查
    Beam Profiling And Beam Imaging For X-Ray 1-200 Nm光束分析仪Star Tech Instruments

    在X射线中可视化和测量光束的目标具有新的重要性。Star Tech Instruments开发了新的系统来分析这些光束的功率/能量、均匀性、高分辨率光束轮廓和图像分析。型号µBIP10X是一款真空兼容(1x10-10 Torr)光束轮廓仪和光束成像系统,设计用于1-10 nm的高分辨率。该系统适用于200nm。10倍MAG。1.5 mm的场具有0.6µm的分辨率,并且对非常低的能级敏感。该系统设计用于1.3 X 1.3传感器,但可以针对其他相机格式进行修改。可根据要求提供不同的放大倍率和相机。μBIP系列是STI较新的成像系统,专为使用软X射线而设计-#91;1-2 nm-#93;不应将其用于准分子激光器的较长波长,如193nm或248nm,这将导致严重的内部损伤。较重要的是,该系统设计用于高真空室,使用我们的定制真空法兰组件将光学系统连接到真空室。法兰的额定压力为10-8托。

  • 光电查
    BEAMAGE-3.0 - CMOS Profiling Cameras光束分析仪Gentec-EO

    BEAMAGE-4M激光束轮廓仪基于CMOS相机,并与CW和脉冲激光束特性一起使用。

相关文章