全部产品分类
TaperCamD-LCM 高分辨率CMOS激光束轮廓仪 光束分析仪

TaperCamD-LCM 高分辨率CMOS激光束轮廓仪

立即咨询获取报价获取报价收藏 收藏 下载规格书 下载规格书
美国
分类:光束分析仪
厂家:DataRay

更新时间:2024-07-13 11:11:21.000Z

型号: TaperCamD-LCM

光电查新品推荐

  • 专业选型专业选型
  • 正规认证正规认证
  • 品质保障品质保障

严格把控产品质量,呈现理想的光电产品,确保每一件产品都能满足您的专业需求。

概述

TaperCamD-LCM是一款大面积CMOS光束分析仪,具有25 x 25 mm的有效面积,4.2百万像素,12.5 x 12.5 μm(有效)像素,光学和电子触发的全局快门,以及2500:1的信噪比。它结合了WinCamD-LCM的高信噪比和全局快门以及高质量的光纤锥,提供了一个非常紧凑和易于使用的解决方案,用于测量各种大功率连续波或脉冲激光。

参数

  • 波长范围 / Wavelength Range : 355-1150nm
  • 像素数 / Pixel Count : 4.2MPixel, 2048x2048 pixels
  • 有效区域 / Active Area : 25x25mm
  • 像元尺寸 / Pixel Size : 12.5μm (effective)
  • 信噪比 / Signal To RMS Noise : 2,500:1
  • 帧率 / Frame Rate : 60fps @ 512x512, 30fps @ 1024x1024, 12fps @ 2048x2048
  • 接口类型 / Interface Type : Port-powered USB 3.0
  • 外形尺寸 / Dimensions : 57x57x54mm
  • 动态噪声和基线校正软件 / HyperCal™ – Dynamic Noise And Baseline Correction Software : Included
  • 全局快门 / Global Shutter : With TTL trigger
  • 电子自动快门 / Electronic Auto-Shutter : 85μs to 2sec (44dB)
  • 模数转换器 / ADC : 12-bit
  • 触发方式 / Isolated Pulse Triggering : Available
  • 多相机并行捕获 / Parallel Capture On Multiple Cameras : Supported
  • 功率水平显示 / Relative Power Level Display : Available

应用

1.连续波和脉冲激光轮廓测量;2.激光系统现场维护;3.光学组件装配;4.仪器校准;5.光束游移和记录;6.研发;7.OEM集成;8.质量控制。

特征

1.支持355至1150纳米波长范围的CMOS传感器;2.具备高分辨率的4.2百万像素;3.提供大尺寸活动区域;4.具备高信噪比和全局快门;5.支持高帧率捕获;6.USB 3.0端口供电;7.包含HyperCal™动态噪声和基线校正软件;8.全局快门具备TTL触发功能;9.电子自动快门范围宽广;10.12位模数转换器提供精确数据;11.隔离脉冲触发功能;12.可以多摄像头并行捕获。

详述

TaperCamD-LCM是一款由DataRay公司推出的大面积CMOS光束分析仪,具有25 x 25 mm的有效面积和4.2百万像素。其设计结合了高信噪比和全局快门,以及高质量的光纤锥,提供了一个紧凑且易于使用的解决方案。该产品适用于各种大功率连续波或脉冲激光的测量,广泛应用于激光系统现场服务、光学组件装配、仪器校准、光束漂移和记录、研发、OEM集成及质量控制等领域。其动态噪声和基线校正功能以及多摄像头并行捕获功能,使其在实际应用中表现出色。

规格书

厂家介绍

DataRay,自1988年成立以来,一直是激光光束分析技术的行业先锋。公司专注于设计和制造符合ISO 11146标准的高品质激光光束分析仪,为客户提供无与伦比的准确性和可靠性。凭借灵活的团队和客户至上的服务理念,DataRay不断创新,满足各种应用和波长项目的需求。我们以小巧的组织规模,快速响应市场变化,持续引领光子学行业的发展。

相关产品

图片名称分类制造商参数描述
  • 光电查
    µBeam Analyzer For Microscopic Beams光束分析仪Duma Optronics

    µBEAM是一种光束诊断测量系统,用于实时测量和显示亚微米范围内的小型CW或脉冲激光器、光纤和激光二极管光束轮廓。主要功能包括:测量小于0.5µm(FWHM)的光束,处理CW或脉冲,具有长工作距离,使用高分辨率CCD响应范围,用于快速光束搜索的光学变焦。µBeam应用于CD拾音器、激光二极管、拾音器透镜和光学元件的调整、各种光束参数的评估和测试。使用SAM3-HP光束采样器,还可提供高功率版本的µBeam。

  • 光电查
    µBeam High Power光束分析仪Duma Optronics

    µBeam HP是一种光束诊断测量系统,用于实时测量和显示亚微米范围内的小型CW或脉冲激光器、光纤和激光二极管光束轮廓。主要功能包括:测量小于0.5µm(FWHM)的光束,处理CW或脉冲,具有长工作距离,使用高分辨率CCD响应范围,光学变焦用于快速光束查找。在当今的技术中,越来越多的工业高功率激光器被设计成具有几个微米的微观范围。在较重要的焦点测量这些激光束是一项艰巨的任务,其密度水平超过每平方毫米10兆瓦。新款µBeam HP配有气冷式光束采样器。这使得能够以1nm的分辨率测量微小光束。

  • 光电查
    Beam Monitor BM8304光束分析仪Metrolux GmbH

    低S/N比和高传感器响应线性度是该Metrolux光束剖面仪中采用的传感器的主要特性。该软件提供了国际标准EN-ISO 11145、11146、11670和13694所需的功能,涵盖了激光表征的各个方面。Beam Profiler相机BPC8304使用1.4 Mpixel CCD传感器,方形像素大小为6.45µm。340至1100 nm的波长范围允许分析所有常见的激光波长。数据接口为千兆以太网(GigE)。由于大多数计算机已经提供了GigE接口(与FireWire相反),因此通常不需要添加单独的接口卡。电缆长度可轻松达到100米,便于集成到生产系统中。

  • 光电查
    Beam Profiling And Beam Imaging For X-Ray 1-200 Nm光束分析仪Star Tech Instruments

    在X射线中可视化和测量光束的目标具有新的重要性。Star Tech Instruments开发了新的系统来分析这些光束的功率/能量、均匀性、高分辨率光束轮廓和图像分析。型号µBIP10X是一款真空兼容(1x10-10 Torr)光束轮廓仪和光束成像系统,设计用于1-10 nm的高分辨率。该系统适用于200nm。10倍MAG。1.5 mm的场具有0.6µm的分辨率,并且对非常低的能级敏感。该系统设计用于1.3 X 1.3传感器,但可以针对其他相机格式进行修改。可根据要求提供不同的放大倍率和相机。μBIP系列是STI较新的成像系统,专为使用软X射线而设计-#91;1-2 nm-#93;不应将其用于准分子激光器的较长波长,如193nm或248nm,这将导致严重的内部损伤。较重要的是,该系统设计用于高真空室,使用我们的定制真空法兰组件将光学系统连接到真空室。法兰的额定压力为10-8托。

  • 光电查
    BEAMAGE-3.0 - CMOS Profiling Cameras光束分析仪Gentec-EO

    BEAMAGE-4M激光束轮廓仪基于CMOS相机,并与CW和脉冲激光束特性一起使用。

相关文章