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下载规格书 XRV-124检测器幻影概述
XRV系列X射线和质子束检测系统将精密计量与高能辐射检测相结合，形成了基于胶片测量的完全电子替代方案。现在可以以无与伦比的速度和精度测量铅笔般细的电离辐射束的XYZ位置和矢量。可以在几秒而不是几小时内获得波束矢量、轮廓和发散度。自动化脚本可用于记录射束形状、强度、位置和方向随时间的变化，以便在以后的分析或3D体积重建中使用。XRV系统验证质子和X射线治疗子系统（机器人、准直器、放射源和kV成像仪）是否协同工作，以准确地将辐射输送到不规则形状的病变体积。光束位置测量精确到0.3mm，测量重复性通常为0.04mm。矢量和波束观察软件可实现捕获数据的实时任意角度观察。可以以高达每秒30帧的速率实时捕获多达4，000帧的视频。
XRV-124检测器幻影参数
- 传感器类型 / Sensor Type: : CCD
- 可衡量的来源 / Measurable Sources: : CW, Pulsed
- 波长范围 / Wavelength Range: : 0.01 - 10 nm
- # 像素（宽度） / # Pixels (Width): : 1280
- # 像素（高度） / # Pixels (Height): : 960
- 最大全帧率 / Max Full Frame Rate: : 30Hz
- ADC / ADC: : 8-bit, 12-bit
XRV-124检测器幻影图片集
XRV-124检测器幻影规格书
XRV-124检测器幻影厂家介绍
产品知识: XRV系列X射线和质子束检测系统将精确计量与高能辐射检测相结合，形成了一种完全电子化的薄膜测量替代方案。现在可以以无与伦比的速度和精度测量铅笔状薄电离辐射束的XYZ位置和矢量。光束矢量、轮廓和发散度可以在几秒钟而不是几小时内获得。自动化脚本可用于捕获光束形状、强度、位置和方向随时间的变化，以用于后续分析或三维体积重建。
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