白光干涉仪（White Light Interferometers）

Data-Pixel开发了一条经济高效的干涉仪生产线，可在不影响精度或性能的情况下进行大批量生产。基于我们丰富的干涉仪制造经验，我们将Daffi MT设计为坚固、快速和精确，以满足所有制造或实验室环境。借助BLINK软件平台，Daffi能够测量多光纤连接器和套圈的端面几何形状。Daffi干涉仪附件（法兰和适配器）与DAISI系列完全兼容，允许用户限制3D几何测量单元的成本。BLINK是所有Data-Pixel产品通用的软件平台。专用插件支持干涉测量系列产品：3D Scope-V2、Daffi SF、Daisi-V3、Daffi MT和Daisi MT FP。PDF、HTML和CSV报告功能，具有广泛的数据库支持（SQL Server、MySQL、ODBC、Oracle等）.OLE自动化支持可用于专用应用程序。

Zygo的VeriFire™干涉仪系统可对普莱诺或球面以及光学系统和组件的透射波前进行快速高精度测量。测量玻璃或塑料光学元件（如平面、透镜和棱镜），甚至精密加工的金属和陶瓷表面。VeriFire™系统采用真正的激光斐索设计，扩展了Zygo在表面形状计量方面无与伦比的经验。轴上配置与Zygo的专利采集算法和全功能MX™计量软件相结合，可实现具有高级分析功能的高精度表面形状计量。

Zygo的新型VeriFire HDX干涉仪专为极高性能光学元件和系统的中间空间频率成分表征而设计和制造。该系统包括广受欢迎的VeriFire HD的所有强大功能（如QPSI和长寿命稳定激光器），并增加了重要的增强功能，如新的同类较佳成像和高仪器传递函数（ITF）分辨率、中间空间频率内容和高斜率表面偏差的卓越特性，以及Zygo的DynaPhase®动态采集技术（可选），该技术可消除振动引起的问题，并在几乎任何环境中实现精密计量。

Arden Photonics的VFI-1200是一种干涉检测系统，设计用于检查劈开或抛光光纤的表面质量和平整度。它的最大视场为1200μm，具有X1.5、X2、X3和X6数码变焦。该干涉仪具有1/1.8英寸光学格式的64MP CMOS阵列图像传感器、12位ADC和525nm LED.它可以实时测量高达8°（2D）和4°（3D）的解理角，测量时间小于7秒。该干涉仪在2D模式下具有检查和条纹模式，并具有自动/手动端角测量功能，可生成3D端面高度图。它可以通过USB 3.0接口进行控制，该接口也可用作电源。VFI-1200采用台式模块，尺寸为240 X 240 X 90 mm，非常适合用于精密切割器制造、切割器维护、激光制造、医疗设备制造、光纤研发、特种光纤制造、角式切割器的开发和测试、设备线尾、LDF切割器制造/维护、光纤端盖制造和多光纤束制造应用。