MKS发布Ophir® BeamWatch® Plus,用于高功率可见光和近红外激光器的非接触式光束分析器

发布时间:2023-07-04 08:00:00

MKS仪器公司是一家能够改变我们世界的技术的全球供应商,日前宣布推出Ophir® BeamWatch® Plus,这是一种非接触式光束分析系统,用于测量在可见光和近红外范围内工作的高功率工业激光器焦点偏移、焦斑大小和位置。

图片来源:MKS Instruments, Inc.

在LASER World of Photonics上推出的BeamWatch Plus是第二代系统,现在可以测量VIS波长(420 - 635nm)的高功率激光器,主要是绿色和蓝色激光器,此外还有NIR区域(950 - 1100nm)。BeamWatch Plus专为工业材料加工应用中使用的极高功率YAG、光纤二极管激光器而设计,是材料加工和汽车应用中焊接和切割操作的理想选择,如电池片的铜焊接和发夹焊接。

BeamWatch Plus是工业光束剖析器,无需接触激光束就能快速准确地测量激光参数。该系统利用光束引起的瑞利散射进行连续测量。这就提供了聚焦点大小、光束位置和全光束苛性的即时读数,以及在工艺启动期间对焦平面位置的动态测量。频繁地对光束进行测量,而无需关闭工艺或拆除大量工具和夹具。

BeamWatch Plus的测量不是对激光束本身的测量,而是对激光束通过仪器时产生的瑞利散射的测量,"Ophir Photonics公司总经理Reuven Silverman说。"由于与激光束没有接触,BeamWatch Plus没有功率限制。它已经成功地用于没有功率上限的高功率激光器,并测试到100kW。传统的光束测量系统将探针放在光束中,造成潜在的损害,并使测量过程减慢到长达两分钟,以收集数据并描述光束的特征。BeamWatch Plus可即时读取焦点尺寸和光束位置,并在过程启动期间对焦平面位置进行动态测量"。

BeamWatch Plus轮廓分析系统具有高放大率的光学系统,可以测量光斑尺寸低至45µm的光束。这样就可以进行更小、更精确的切割,减少材料的浪费。焦点位置可以每秒测量数次,以跟踪在关键的启动时刻是否有任何焦点移动。该系统提供双轴测量,让用户从两个正交轴上看到激光束。每个轴上的测量值都被计算出来,提供关于激光器如何运行的详细信息。焦距移动可以在两个轴上跟踪,测量结果可以用来确定光束的圆度或散光的存在。
 

图片来源:MKS Instruments, Inc.

BeamWatch Plus软件可以准确地实时分析激光器的瑞利散射所产生的图像。对束腰大小和位置、焦距偏移、M2、发散和其他质量参数进行计算。关键的激光器性能参数与预设的范围进行比较,以提供Go/No-Go读数,以便激光器用户知道何时采取纠正措施。该软件还包括一个用于系统集成的自动化控制接口。

可用性和价格

Ophir BeamWatch Plus光束分析系统现已上市。价格可按要求提供。
 

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