全部产品分类
光电查

XHP70A-00-0000-0D00N40DV

立即咨询获取报价获取报价收藏 收藏 下载规格书 下载规格书
美国
分类:发光二极管
厂家:Cree LED

更新时间:2023-01-06 15:08:00

型号: XHP70A-00-0000-0D00N40DV

XHP70A-00-0000-0D00N40DV概述

Cree LED的XHP70A-00-0000-0D00N40DV是一款正向电压为12 V、正向电流为1050 mA、光通量为1710-1965 LM、反向电压为-5 V的LED.有关XHP70A-00-0000-0D00N40DV的更多详细信息,

XHP70A-00-0000-0D00N40DV参数

  • RoHS / RoHS : Yes
  • 标签 / Tags : Cree® XLamp® XHP70 LEDs
  • 正向电压 / Forward Voltage : 12 V
  • 正向电流 / Forward Current : 1050 mA

XHP70A-00-0000-0D00N40DV规格书

XHP70A-00-0000-0D00N40DV厂家介绍

Cree LED为高功率通用照明、汽车、视频屏幕和专业照明等重点应用提供一流的技术和突破性的解决方案。Cree LED提供业界较广泛的应用优化LED产品组合,在流明密度、强度、功效、光学控制和可靠性方面处于行业领先地位,并以专家设计协助和卓越的销售支持为后盾。

相关内容

相关产品

图片名称分类制造商参数描述
  • 光电查
    C566D-RFE发光二极管Cree LED

    波长: 621 nm

    Cree LED的C566D-RFE是一款正向电压为2.1 V、发光强度为32000000cd、发光强度为MCD 3200 MCD、波长为621 nm的LED.有关C566D-RFE的更多详细信息,请参阅下文。

  • 光电查
    CXA1304-0000- 000N0HC250发光二极管Cree LED

    Cree LED的CXA1304-0000-000N0HC250是一款正向电压为36-42 V、正向电流为100 mA、光通量为475-527 LM、反向电流为0.1 mA的LED.有关CXA1304-0000-000N0HC250的更多详细信息,请参阅下文。

  • 光电查
    CXB1830-0000- 000N0HT427发光二极管Cree LED

    Cree LED的CXB1830-0000-000N0HT427是一款正向电压为35至38 V、正向电流为800 mA、光通量为3440-3768 LM、反向电流为0.1 mA的LED.有关CXB1830-0000-000N0HT427的更多详细信息,请参阅下文。

  • 光电查
    MXA9-PW35-H001发光二极管Lumileds

    来自Lumileds的MXA9-PW35-H001是一款LED,电流为300 mA,正向电压为2.7-3.2 V,正向电流为300 mA,光通量为27-40 LM,反向电压为-5 V.MXA9-PW35-H001的更多详情见下文。

  • 光电查
    SPHWW1HDNC25YHT32F发光二极管Samsung Semiconductors

    Samsung Semiconductors的SPHWW1HDNC25YHT32F是一款LED,正向电压为35.5 V,正向电流为720 mA,光通量为3698至4064 LM,功率为25.6至48.1 W.有关SPHWW1HDNC25YHT32F的更多详细信息,请参见下文。

相关文章

  • 新的研究为更高效和稳定的蓝色OLED显示器开辟了道路

    杜伦大学(Durham University)科学家的一项新研究揭示了一条通往更亮、更高效、更稳定的蓝色有机发光二极管(oled)的意想不到的途径。

  • 钙钛矿led,比oled亮一千倍

    发光二极管(led)已经彻底改变了现代照明和传感技术。从家庭应用到工业应用,led用于所有照明应用,从电视屏幕的室内照明到生物医学。今天广泛使用的有机led (oled),例如在智能手机屏幕上,采用有机薄膜材料作为半导体。然而,它们的最大亮度仍然有限;试想一下,在一个阳光明媚的日子里,你试图阅读你的智能手机屏幕。

  • 用于芯片上的压缩光谱学的高度多色发光阵列

    小型化和多色发光器件阵列为材料科学和应用物理学的感知、成像和计算提供了一种有前途的工具。通过使用传统的发光二极管可以实现一系列的发射颜色,尽管这一过程会受到材料或设备限制。

  • 什么是光电二极管的响应时间?

    光电二极管的响应时间是指光电二极管对入射光强度变化产生可检测的电子响应所需的时间。