OMS LaserScan LS01 扫描式激光多普勒测振仪

671激光波长计采用基于迈克尔逊干涉仪的成熟设计来测量CW激光器的绝对波长。有两个版本可用。671A型是较精确的，测量波长的精度为百万分之±0.2（1000 nm时为±0.0002 nm）。对于不太严格的实验，671B型是一种价格较低的替代产品，精度为百万分之±0.75（1000 nm时为±0.0008 nm）。

828系列高速光学波长计采用干涉仪技术，该技术与用于WDM波长测试应用的其他波长计所采用的技术有很大不同。Fizeau标准具设计用于产生由快速InGaAs光电探测器阵列检测的空间干涉图。使用板载数字信号处理器，干涉测量数据被快速处理为精确的波长测量。这些技术的组合提供了无与伦比的1 kHz持续测量速率。

Nanofilm_RSE是一种特殊类型的椭偏仪，它将样品与参考进行比较。以这种方式，可以测量样品和参考之间的椭圆偏振差。由于参考的取向，在测量过程中不需要移动或调制任何光学元件，并且可以在单次测量中获得完整的高分辨率光谱。通过这种方式，每秒可获得100个光谱。同步X-Y平台能够在几分钟内采集大视场薄膜厚度图。参考光谱椭偏仪将椭偏仪的高灵敏度和层厚区域（0.1nm-10µm）与市场上可用的较高速度相结合。与激光椭偏仪相比，它包括450和900nm之间的光谱信息。这在处理层的一个以上参数是可变的情况下是重要的，例如厚度和光密度。

Xplor 100是一种先进的全自动计量装置，设计用于测量和分析可见光和NIR波段的光学基板的气泡和夹杂物。