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下载规格书 在新的研究中，波士顿大学光子学与光电子学穆斯塔卡斯讲座教授程继新博士及其合作者正在创造更先进的技术，使显微镜无需特殊染料就能更好地观察微小样本的细节。 他们的研究成果分别发表在《Nature Communications》和《Science Advances》上，帮助科学家们更轻松、更准确地可视化和理解他们的样本。
全部产品分类
概述
FilmTek™2000 SE台式计量系统具有无与伦比的测量性能、多功能性和速度，适用于无图案的薄膜到厚膜应用。它非常适合学术和研发环境。FilmTek™2000 SE结合了光谱椭圆偏振法和DUV多角度偏振反射法，可同时测量薄膜厚度、折射率和消光系数。我们先进的旋转补偿器设计可在整个Δ（Δ）范围内实现精度和准确度，包括接近0°和180°。当无法在布鲁斯特条件附近进行测量时，这可以实现较佳性能，这对于硅或玻璃衬底上非常薄的薄膜的精确测量是必不可少的。数千个波长可在几秒钟内同时收集，集成的自动对焦功能消除了同类椭偏仪所需的手动样品对准的繁琐任务。FilmTek™2000 SE是一个完全集成的封装，配有直观的材料建模软件，即使是较苛刻的测量任务也能简单可靠地完成。FilmTek™软件包括完全用户可定制的样本映射功能，可快速生成任何测量参数的2D和3D数据图。除了用户定义的图案外，标准贴图图案还包括极坐标、X-Y、Rθ或线性。
参数
- 波长范围 / Wavelength Range (reflectance): : 240 - 1700 nm
- 决议 / Resolution: : 0.3nm
- 最短扫描时间 / Minimum Scan Time: : 2sec
规格书
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图片名称分类制造商参数描述
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