OWI 150 XLC

Daisi MT FP将Daisi MT-V3与Data-Pixel（正在申请专利）的新型浮动Pastille夹具技术相结合。这是多光纤连接器夹具的重大技术突破，非常适合高精度X/Y端面角度测量。使用浮动Pastille夹具，测量结果完全不受光纤电缆和操作员的影响。Floating Pastille非常适合检查安装有重型电缆的连接器。在浮动锭剂的帮助下，Daisi MT-V3现在更易于操作，而不会影响其现有的任何功能：测量精度、再现性、速度和鲁棒性。现在不需要校准，因为它是工厂设置的，每个夹具，由数据像素。

通常，基于多棱镜扩束和数字检测，狭缝干涉仪允许透射光学表面的快速干涉测量表征。与传统的逐点非相干显微密度计和逐点非相干显微镜相比，这是一个显著的进步。

C03是一种传感头类型，针对中等工作距离进行了优化，并使用回复反射器作为目标。探测光束被放大，使得其发散度减小，并且在目标反射镜处反射之后可以收集更多的光功率。C03传感头类型基于标准C01型传感头，包括光纤准直光学器件和分束器。分束器将光束分成参考光束和探测光束。参考光束被涂在分束器立方体一侧的内部参考镜反射。在C03传感器头中，探测光束在被望远镜（两个透镜）扩展后离开传感器头，以显著降低光束发散度。它被目标表面反射并跟踪其相对位移。分束器的前表面标记每个皮级测量的绝对零位置，因为这里探测光束和参考光束具有相等的长度。

F01是具有聚焦探测光束的传感头类型。这允许测量小目标的位移。此外，传感器头提供高角度公差。如图1所示，在预准直之后，集成分束器将光分成参考光束和探测光束。参考光束被参考反射镜反射，该参考反射镜被涂覆到分束器立方体的一侧。探测光束由透镜系统聚焦并从头部射出。分束器的前表面标记每个皮级测量的绝对零位置，因为这里探测光束和参考光束具有相等的长度。因此，工作距离（WD）不等于距头部的距离（即焦距f），因为透镜系统仅集成到探测光束中。

4“、5.2”和6"版本的相移斐索干涉仪