全部产品分类
光电查

SLR-322VR

立即咨询获取报价获取报价收藏 收藏 下载规格书 下载规格书
日本
分类:发光二极管

更新时间:2024-06-05 17:19:03

型号: SLR-322VR

概述

来自Rohm Semiconductor的SLR-322VR是具有正向电压2V、正向电流20mA、发光强度CD 0.0036至0.01CD、发光强度MCD 3.6至10MCD、反向电流10uA的LED.有关SLR-322VR的更多详细信息,

参数

  • 颜色 / Colors : Red
  • 透镜类型 / lens type : Flat disc
  • RoHS / RoHS : Yes
  • 正向电压 / Forward Voltage : 2 V
  • 正向电流 / Forward Current : 20 mA
  • 波长 / Wavelength : 630 nm

规格书

厂家介绍

Rohm于1958年在京都成立,较初是一家小型电子元件制造商。1967年,生产扩大到包括晶体管和二极管,1969年,集成电路和其他半导体产品加入到产品线中。两年后(1971年),该公司打破传统的日本商业文化,在硅谷建立了销售办事处和IC设计中心,从而进入美国市场。通过其年轻员工的辛勤工作和热情奉献,业务蓬勃发展,引起了业界的关注。罗姆的海外扩张很快成为其他公司的模板,并较终被接受为普遍的商业惯例。

相关产品

图片名称分类制造商参数描述
  • 光电查
    LXK8-PW30-0206发光二极管Lumileds

    Lumileds的LXK8-PW30-0206是一款LED,电流为175 mA,正向电流为600 mA,光通量为540至650 LM,工作温度为-40至125摄氏度,存储温度为-40至125摄氏度。有关LXK8-PW30-0206的更多详细信息,请参见下文。

  • 光电查
    TLCR6200发光二极管Vishay Intertechnology

    波长: 616 nm

    来自Vishay Intertechnology的TLCR6200是一款LED,正向电压为2.1至2.7 V,正向电流为50 mA,发光强度为400,000,000 CD,发光强度为4000 MCD,波长为616 nm.有关TLCR6200的更多详细信息,请参阅下文。

  • 光电查
    VLMO33S1T2发光二极管Vishay Intertechnology

    波长: 605 nm

    来自Vishay Intertechnology的VLMO33S1T2是一款LED,正向电压为2至2.5 V,正向电流为30 mA,发光强度为180000000 CD,发光强度MCD为180-450 MCD,波长为605 nm.有关VLMO33S1T2的更多详细信息,请参见下文。

  • 光电查
    AP23QBC/D/F-F01发光二极管kingbrightusa

    波长: 470 nm

    KingbrightUSA的AP23QBC/D/F-F01是一款LED,发光强度CD 100 CD,发光强度MCD 0.0001 MCD,波长470 nm,工作温度-40至85摄氏度,存储温度-40至85摄氏度。有关AP23QBC/D/F-F01的更多详细信息,请参见下文。

  • 光电查
    APA1606QWF/G发光二极管kingbrightusa

    波长: 461.53 nm

    来自KingbrightUSA的APA1606QWF/G是一种发光强度CD 450 CD、发光强度MCD 0.00045 MCD、波长461.53 nm、工作温度-40至85摄氏度、存储温度-40至85摄氏度的LED.有关APA1606QWF/G的更多详细信息,请参见下文。

相关文章

  • 什么是光电二极管的响应时间?

    光电二极管的响应时间是指光电二极管对入射光强度变化产生可检测的电子响应所需的时间。

  • 技术报告:LED改变了实验室对光的测量

    国际照明委员会(CIE)发布了与LED照明的实验室测量有关的技术报告CIE 251:2023《光度计校准用LED参考光谱》。

  • 什么是光子晶体管(Phototransistor)?

    光电晶体管是一种对光敏感的晶体管。它由一个光电二极管和一个晶体管组成,用于检测光并将其转换成电信号。

  • 观察结果为提高有机LED的发光效率打开了大门

    电致发光是用电流产生的光,不依靠热或化学反应。这使得电致发光可靠而高效:它们被用作数字手表的背光灯和阿波罗航天飞机制导计算机的显示屏。像OLED一样,发光电化学电池(LEC)--通过电致发光--已经经历了许多技术进步。密切检查导致发光的过程对于提高发光效率至关重要,然而,直到现在还没有直接检查这些过程的实验方法。