光谱仪SPIRITS

CropScan 2000B是一款灵活的近红外透射分光光度计，能够测量谷物、油籽、面粉、粗粉和其他加工谷物产品中的蛋白质、油、淀粉、纤维和水分。CropScan 2000B使用一系列专为不同应用设计的样品池。有3个谷物细胞，即8毫米-油菜和亚麻籽，16毫米-小麦，大麦，燕麦，高粱，水稻，扁豆，和24毫米-玉米，大豆，羽扇豆，鹰嘴豆，豆类。有2个用于粉末和浆料的挤压单元。有一个10毫米的液体池，可用于油和其他透明液体。CropScan 2000B具有内置打印机，可连接到外部电子秤，用于测量测试重量。CropNet谷物数据管理软件可与CropScan 2000B一起使用，以存储和管理数据，并将其发布到互联网上，以便使用智能手机、平板电脑或PC进行远程查看。

与XUL系列一样，XRF光谱仪Fischerscope®X-Ray XAN®非常适合分析形状简单的样品。然而，XanSeries的一大优势在于其高质量的半导体探测器。X射线荧光（XRF）不仅可以测量涂层的厚度，还可以分析合金的成分（例如，G。铜）。XanSeries总共包括5台台式XRF光谱仪，涵盖了广泛的应用。XAN215具有高性价比的PIN检测器。它非常适合简单的涂层厚度任务，例如铁或Au/Ni/Cu上的锌。对于使用合金或贵金属的更复杂的应用，我们建议使用我们的带有硅漂移探测器的XRF设备（例如Xan220）：由于其分辨率高得多，它可以可靠地区分金和铂。当您需要检测微量重金属和其他有害物质时，Xan250是您的解决方案。

Rigaku NEX LS采用先进的第三代能量色散X射线荧光（EDXRF）技术，代表了用于卷材或线圈应用的扫描多元素工艺涂层分析仪的下一次进化。能量色散X射线荧光（EDXRF）为了提供卓越的分析性能和可靠性，EDXRF测量头组件源自已建立的Rigaku NEX系列高分辨率台式仪器。凭借其成熟的技术，Rigaku NEX LS可对涂层重量、涂层厚度和/或成分进行快速、无损的多元素分析，适用于从铝（Al）到铀（thickness U）的元素。涂层厚度和成分Rigaku NEX LS专为卷筒纸和卷材应用而设计，能够执行多元素组合、涂层重量或涂层厚度。测量头安装在刚性梁上，并配备有位于滚轮上方的线性横动机构，以使头-面距离恒定。需要时，可直接测量涂层的元素组成。相反，涂层重量（或涂层厚度）可以直接测量（其中元素的计数率与厚度成比例）或通过测量一些基材元素的衰减来间接测量（其中计数率与厚度负相关）。长期以来，台式EDXRF光谱仪一直是脱模涂层、转换器、真空成型塑料制造商和其他使用硅油作为阻挡层、脱模涂层或脱模剂的行业所熟悉的技术。实时扫描，用于更严格的过程控制公差，将用于硅涂层分析的EDXRF技术提升到一个新的水平。硅酮涂层应用于塑料和纸质基材，以改变产品（如标签）或包装的释放特性。如果施加的硅酮太少，或者如果存在硅酮涂层缺失的幅材区域，则在剥离应用中粘合剂剥离性能将受到不利影响，或者真空成形塑料的脱嵌特性将受到损害，从而导致产品报废或在制造和其它下游工艺中中断。如果应用了太多的硅酮，则制造的辊的成本增加，降低了盈利能力，并且在某些情况下影响了较终产品的接受和性能。

APEX Technologies的AP2047B是一款光谱分析仪，波长范围为1520至1630 nm、1265至1345 nm，波长分辨率为80 pm至3.2nm@10至400 GHz，波长精度为±2至±3 pm，动态范围为79 dB（1265 nm至1345 nm）、83 dB（1525 nm至1607 nm），18 nm的扫描时间为1秒。有关AP2047B的更多详细信息，请参见下文。

波长范围: 1525 to 1564 nm谱带: C band

Aragon Photonics的BOSA Lite/Lite+是一款光谱分析仪，波长范围为1525至1564 nm，波长分辨率为160 FM，波长精度为±2.0 pm，动态范围为40至80 dB，光功率范围为-70至13 dBm.有关BOSA Lite/Lite+的更多详细信息，请参阅下文。