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iKon-M SO高能量检测 科学和工业相机

iKon-M SO高能量检测

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更新时间:2024-04-19 14:40:59

型号:

iKon-M SO高能量检测概述

Andor的IKON系列结合了>95%QE背照式传感器、低噪声读出电子元件和业界领先的免维护深度TE冷却至-100°C,具有出色的灵敏度性能。它具有高分辨率1和420万像素大面积传感器选项(分别具有13和13.5µm像素),可在VUV和软X射线范围内同时实现高动态范围和高空间分辨率成像。方便的16点刀口密封6可旋转CF-152法兰为任何兼容的真空室接口提供了坚固和高效的密封。IKON-M和-L还提供USB2接口和LabVIEW或EPICS兼容性,可无缝集成到复杂设置中。

iKon-M SO高能量检测参数

  • 传感器类型 / Sensor Type: : CCD
  • 检测方法 / Detection Method: : Direct Detection
  • # 像素(宽度) / # Pixels (Width): : 1024
  • # 像素(高度) / # Pixels (Height): : 1024
  • 像素大小 / Pixel Size (Square): : 13um
  • 位深度 / Bit Depth: : 16bit
  • 全帧速率 / Full Frame Rate: : 4.4fps
  • X 射线能量范围 / X-Ray Energy Range: : 1 - 10000 eV

iKon-M SO高能量检测规格书

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