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获得专利的C1低能量X射线窗 图像传感器

获得专利的C1低能量X射线窗

分类: 图像传感器

厂家: Amptek Inc

产地: 美国

更新时间: 2024-08-29 22:58:47

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概述

Amptek获得专利的“C系列”X射线窗口利用带有铝涂层的氮化硅(Si3N4),将我们的硅漂移探测器(SDD)的低能量响应扩展到硼(B)。它们仅适用于我们的FASTSDD®。Amptek在推出先进款热电冷却探测器时提供了液氮的替代品。现在有了专利的“C系列”,我们为一般的XRF分析提供了铍(Be)窗口的替代方案,与用于软X射线分析的聚合物窗口相比,我们提供了优越的性能。

参数

  • 活动区域 / Active Area (horizontal) : 6.3mm
  • 活动区域 / Active Area (vertical) : 30mm

图片集

获得专利的C1低能量X射线窗图1
获得专利的C1低能量X射线窗图2
获得专利的C1低能量X射线窗图3
获得专利的C1低能量X射线窗图4

规格书

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厂家介绍

AMPTEK是一家高科技公司,在为卫星、X射线和伽马射线探测、实验室、分析和便携式仪器行业设计和制造较先进的核仪器方面是公认的世界做的较好的。
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