扫描仪

Fluoromax系列代表了HORIBA行业领先的分光荧光计性能，是一种方便、经济、易于使用的台式型号。Fluoromax系列凭借其独特的全反射光学系统和光子计数，首次将模块化荧光计的灵敏度引入桌面单元。

Quantamaster 8000系列稳态荧光分光光度计是当今市场上较灵敏的台式荧光计。在信噪比>30，000：1的情况下，它们允许在样品中检测和识别较微小的荧光物质痕迹。它们采用较先进的高通量单色仪，配有三个电动光栅转台，可轻松扩展光谱范围，并配有电动翻转镜，可轻松使用额外的光源和探测器。高性能和开放式架构使其适用于几乎所有可能的应用。

新的AQUALOG是先进能够同时测量吸收光谱和荧光激发-发射矩阵的仪器。EEMS的采集速度比其他仪器快100倍。专用软件可自动进行可追踪的硫酸奎宁单位校准，并校正内部滤波器效应以及瑞利和拉曼散射线，从而能够快速导出到多变量建模程序，包括我们的合作伙伴Eigenvector Research，Inc.的Solo。

Matrix系列屡获殊荣的设计将光学器件保护在专用的密封隔间中。永久对齐的RockSolid™干涉仪和Digitect™探测器电子设备可确保高质量的光谱，即使在较恶劣的环境中也是如此。虽然该仪器是为过程环境设计的，但其小尺寸也使其成为实验室应用的理想仪器。

Rigaku NEX LS采用先进的第三代能量色散X射线荧光（EDXRF）技术，代表了用于卷材或线圈应用的扫描多元素工艺涂层分析仪的下一次进化。能量色散X射线荧光（EDXRF）为了提供卓越的分析性能和可靠性，EDXRF测量头组件源自已建立的Rigaku NEX系列高分辨率台式仪器。凭借其成熟的技术，Rigaku NEX LS可对涂层重量、涂层厚度和/或成分进行快速、无损的多元素分析，适用于从铝（Al）到铀（thickness U）的元素。涂层厚度和成分Rigaku NEX LS专为卷筒纸和卷材应用而设计，能够执行多元素组合、涂层重量或涂层厚度。测量头安装在刚性梁上，并配备有位于滚轮上方的线性横动机构，以使头-面距离恒定。需要时，可直接测量涂层的元素组成。相反，涂层重量（或涂层厚度）可以直接测量（其中元素的计数率与厚度成比例）或通过测量一些基材元素的衰减来间接测量（其中计数率与厚度负相关）。长期以来，台式EDXRF光谱仪一直是脱模涂层、转换器、真空成型塑料制造商和其他使用硅油作为阻挡层、脱模涂层或脱模剂的行业所熟悉的技术。实时扫描，用于更严格的过程控制公差，将用于硅涂层分析的EDXRF技术提升到一个新的水平。硅酮涂层应用于塑料和纸质基材，以改变产品（如标签）或包装的释放特性。如果施加的硅酮太少，或者如果存在硅酮涂层缺失的幅材区域，则在剥离应用中粘合剂剥离性能将受到不利影响，或者真空成形塑料的脱嵌特性将受到损害，从而导致产品报废或在制造和其它下游工艺中中断。如果应用了太多的硅酮，则制造的辊的成本增加，降低了盈利能力，并且在某些情况下影响了较终产品的接受和性能。