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2830 ZT 高级半导体薄膜计量解决方案 光谱分析仪

2830 ZT 高级半导体薄膜计量解决方案

分类: 光谱分析仪

厂家: ASD Inc Div of Malvern Panalytical Inc

产地: 英国

更新时间: 2024-08-29 15:13:41

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概述

2830 ZT波长色散X射线荧光(WDXRF)晶片分析仪提供了测量薄膜厚度和成分的先进能力。2830 ZT晶片分析仪专为半导体和数据存储行业而设计,可用于测定厚度达300 mm的各种晶片的层成分、厚度、掺杂剂水平和表面均匀性。请求报价

参数

  • 测量类型 / Measurement Type : Thin film metrology, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Chemical identification
  • 最低电平检测 / Lowest Level Detection (LLD) Range : 0.1 - 1000000 ppm
  • 决议 / Resolution : 35eV

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厂家介绍

我们是马尔文帕纳科。 我们是微观分析领域的专家。 我们致力于释放微观世界的力量,促成宏观世界的改变。 通过利用我们的技术,客户可以创造一个更美好的世界。 改善一切,从为我们提供能量的能源、我们使用的建筑材料,到治病用的药物和我们喜欢的食物。 我们与#领先#的企业、高校和研究机构合作。他们看重的不仅是我们提供的解决方案,还有我们的专业知识、合作理念和诚信态度。 我们是一个多元化的全球组织,我们之中有富有远见的思想家,有充满创意的问题解决达人,也有热爱探究细节的极客。我们团结一心,我们坚信,通过探知微观世界的奥秘,我们能成就一切可能。

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    测量类型: Thin film metrology, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Chemical identification 最低电平检测: 0.1 - 100 ppm 决议: 35eV

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