白光干涉仪（White Light Interferometers）

基于使DAISI获得成功的设计和理念，DAISI-MT包括白色和Redight光源，可在同一系统上测量多光纤套圈和单光纤连接器的端面几何形状。其革命性的设计使其非常适合在生产环境和现场应用中使用。除了自动化和控制命令外，实时和高质量的图像通过USB2.0高速链路以高达每秒100张图像的速度从硬件传输到软件。DAISI-MT是便携式的，可以连接到笔记本电脑或台式电脑。所有校准步骤都是自动化的，并嵌入到用户友好的软件界面中，以产生无误差和可靠的测量。白光干涉仪的机械和电子设计比红光（单色）干涉仪的设计更具挑战性。整个光学系统必须以纳米级的精度和完美的线性方式在许多微米范围内平移。DAISI-MT系统做到了这一点：基于一个30微米行程的闭环压电传感器，在不到10秒的时间内对表面进行快速精确的扫描。

用于测量单光纤和MT-RJ连接器端面几何形状的较终生产干涉仪，配备了革命性的无外部移动部件机械设计。DAISI V2的设计考虑了多年的行业反馈，以满足生产环境中较苛刻的使用要求。除自动化和控制命令外，非压缩、实时和高质量图像通过USB2.0高速链路从硬件传输到软件。DAISI是便携式的，可以连接到笔记本电脑或台式电脑。所有校准步骤都是自动化的，并嵌入到用户友好的软件界面中，以产生无误差和可靠的测量结果。

波长: 840 nm

Micro-Epsilon的IMS5400-TH70是一款白光干涉仪，专为工业厚度测量而设计。它可以测量0.035-1.4毫米的厚度，测量距离可达70毫米，连续可调速率为100赫兹至6千赫兹。该干涉仪具有波长为840nm的NIR-SLED光源，甚至可以测量光学非致密物体（如抗反射镀膜玻璃）的厚度。IMS5400-TH70提供了与距离无关的测量的决定性优势，从而获得稳定的纳米精度厚度值。目标可以在其测量范围内移动而不影响精度。该干涉仪的厚度测量范围还允许测量薄层、平板玻璃和薄膜。它需要24 V的直流电源，功耗为10 W.该干涉仪采用尺寸为Φ10 X 55 mm的铝制外壳。