TMS-150 TopMap Metro.Lab白光干涉仪

功能强大的CVS Trevista Flat采用了Trevista圆顶几何形状，并将其简化为平面和紧凑的格式。照明控制器集成到该单元中，使集成到检测系统中变得容易，并使价格敏感的应用成为可能。由于采用扁平设计，不仅可以检测静止物体的表面，还可以检测移动部件的表面。这开启了灵活的处理概念，如玻璃旋转板以及圆柱表面和板材的检查。CVS TREVISTA平板所使用的&aposSHAPE FROM SHADGING&apos技术使其能够检测圆柱形表面上的材料缺陷，而不受光泽和污垢的影响。这个独特的程序从物体表面的阴影中推断出物体三维形状的信息。

Taylor Hobson的新款Intra Touch是其用于表面光洁度、形状和可选轮廓分析的车间测量解决方案系列中的较新产品，它在触摸屏平板电脑上集成了用户友好的TalyProfile软件。

Taylor Hobson Form Talysurf PGI（相位光栅干涉仪）-接触式表面光度仪/设备可测量大垂度透镜（表面形状）、塑料透镜、小型组件、红外玻璃和直径达300mm的晶体，精度高，是光学制造商的优选仪器。1984年首次发布后，Form Talysurf迅速成为光学制造商测量非球面形状误差的优选工具。从那时起，我们已在全球安装了数千台，成为真正的行业标准。我们的专利PGI（相位光栅干涉仪）技术使您能够用短测针测量大垂度。这使我们能够结合非常高的刚度和低力，提供比我们的竞争对手更高的精度和可重复性。

NanoCam SQ动态光学轮廓仪可测量超光滑光学和精密表面的表面粗糙度。非接触式NanoCam SQ是对传统工作站光学轮廓仪所需的杂乱复制方法的巨大改进，并为测量大型光学器件提供了出色的便携性。通过启用机器上的粗糙度计量，NanoCam SQ提高了产量。通过消除运输昂贵的关键任务光学器件的需要，NanoCam降低了损坏的风险。NanoCam SQ光学轮廓仪采用动态干涉测量法（Dynamic Interferometry®），集成了高速光学传感器，测量速度比传统光学轮廓仪快数千倍。由于采集时间非常短，NanoCam SQ可以在振动的情况下进行测量，因此可以将仪器安装在抛光设备、台架或机器人末端执行器上。NanoCam SQ结构紧凑，重量轻，可直接放置在大型光学器件上。有了这种定位的自由度，NanoCam可以测量大型光学器件上任何位置的表面光洁度。NanoCam SQ动态光学轮廓仪包括4Sight高级分析软件。业界领先的4Sight报告ISO 25178表面粗糙度参数（S参数），并提供广泛的2D和3D分析选项、数据过滤、屏蔽、数据库和导入/导出功能。

先进的软件可以轻松地在屏幕上选择要自动扫描的区域。QC选项可用于自动化测试的所有方面，包括模式识别、数据库通信、宏程序和分析配方。更大的X-Y载物台、360°旋转载物台和许多定制配置。