ST400光学轮廓仪

ContourX-500光学轮廓仪是世界上较全面的自动化台式系统，用于快速、非接触式3D表面计量。可测量的ContourX-500拥有无与伦比的Z轴分辨率和精度，并以更小的尺寸提供布鲁克白光干涉（WLI）落地式模型的所有行业公认的优势。从精密加工表面和半导体工艺的质量保证/质量控制（QA/QC）计量到眼科和MEMS器件的研发表征，Profiler可针对较广泛的复杂应用轻松定制。

Taylor Hobson Form Talysurf PGI（相位光栅干涉仪）-接触式表面光度仪/设备可测量大垂度透镜（表面形状）、塑料透镜、小型组件、红外玻璃和直径达300mm的晶体，精度高，是光学制造商的优选仪器。1984年首次发布后，Form Talysurf迅速成为光学制造商测量非球面形状误差的优选工具。从那时起，我们已在全球安装了数千台，成为真正的行业标准。我们的专利PGI（相位光栅干涉仪）技术使您能够用短测针测量大垂度。这使我们能够结合非常高的刚度和低力，提供比我们的竞争对手更高的精度和可重复性。

Polytec的TMS-150 TopMap Metro.Lab是一款精密白光干涉仪，具有大垂直测量范围、大视场和纳米分辨率。紧凑的3D工作站可在无接触的情况下轻松测量大型表面和结构的平整度、台阶高度和平行度，即使在柔软和精致的材料上也是如此。

TMS-350 TopMap In.Line的紧凑设计使其能够优雅而轻松地集成到生产线中。该系统测量形状偏差，如平面度或波度，无需接触，可靠且周期短。由于不需要物镜，避免了对光学器件或样品的碰撞和损坏。由于其特殊的光学设计，白光干涉仪可在安全的工作距离内以精确的台阶高度测量深孔内的均匀表面。