AP2046B

2830 ZT波长色散X射线荧光（WDXRF）晶片分析仪提供了测量薄膜厚度和成分的先进能力。2830 ZT晶片分析仪专为半导体和数据存储行业而设计，可用于测定厚度达300 mm的各种晶片的层成分、厚度、掺杂剂水平和表面均匀性。请求报价

ArcSpectro VIS-NIR是一种实验室光谱仪，设计用于在整个VIS NIR光谱范围内测量固体样品的漫反射率。该系统包括用于对样品进行漫反射测量的积分球。只需5秒钟即可获得准确的结果。适用于油漆、纺织品或原材料反射率表征。该仪器是测量太阳总反射率（TSR）值的理想仪器。此参数由附带的软件自动计算。

小型、功能强大的便携式XRF分析仪Epsilon 1是一款完全集成的能量色散XRF分析仪，由光谱仪、内置计算机、触摸屏和分析软件组成。在激发和检测技术的较新进展的支持下，Epsilon 1是低成本台式仪器类中的明星产品。Epsilon 1产生快速、经济、精确和准确的数据，对操作员和样品制备的依赖性较小。因此，总运行成本比其他分析技术低得多，例如AAS、ICP和湿化学方法，这些方法成本高并且还需要专门的熟练操作员。

Matrix系列屡获殊荣的设计将光学器件保护在专用的密封隔间中。永久对齐的RockSolid™干涉仪和Digitect™探测器电子设备可确保高质量的光谱，即使在较恶劣的环境中也是如此。虽然该仪器是为过程环境设计的，但其小尺寸也使其成为实验室应用的理想仪器。

QuasiR™4000的设计初衷是为行业提供一种新型的NIR分析解决方案，该解决方案结合了将NIR分析更接近需求点所需的便携性，以及无与伦比的光谱性能，以获得较快、较准确的结果。QuasiR™4000的设计旨在确保直接校准传输，而无需标准化仪器或调整模型以适应过多的仪器变化。QuasiR™4000的核心是我们的PerMALIGN™光学技术，这是一种创新的光学设计，可在从常规到极端的条件下保持对准和性能。我们的技术和设计可确保无与伦比的一致性和直接方法传输，而不会损失性能，因此您可以放心地扩展您的QuasiR™车队。专家们知道，良好的NIR结果总是从良好的采样开始，这意味着大的测量点尺寸和较大可能的采样体积。考虑到这一点，QuasiR™4000的设计采用了增强的23 mm采样面积，比竞争产品大5倍。我们的大采样区带有防刮蓝宝石窗口，有助于产生更好和更可重复的结果。内部背景快门机构允许自动收集背景扫描，而不需要外部参考材料或用户交互。可选的、易于连接的旋转器进一步增加了取样面积，各种取样杯和附件增加了仪器的多功能性。此外，QuasiR™4000还包括一个可容纳比色杯或小瓶的传输室。可选的温度控制可实现广泛的应用。食用油、润滑油和燃料等传输样品可以很容易地进行质量控制或掺假分析。