全部产品分类
ARCspectro VIS-NIR DR分光光度计用于测量VIS和NIR的漫反射(360-2500nm)。 光谱分析仪

ARCspectro VIS-NIR DR分光光度计用于测量VIS和NIR的漫反射(360-2500nm)。

立即咨询获取报价获取报价收藏 收藏 下载规格书 下载规格书
德国
分类:光谱分析仪

更新时间:2024-04-19 14:40:59

型号:

ARCspectro VIS-NIR DR分光光度计用于测量VIS和NIR的漫反射(360-2500nm)。概述

ArcSpectro VIS-NIR是一种实验室光谱仪,设计用于在整个VIS NIR光谱范围内测量固体样品的漫反射率。该系统包括用于对样品进行漫反射测量的积分球。只需5秒钟即可获得准确的结果。适用于油漆、纺织品或原材料反射率表征。该仪器是测量太阳总反射率(TSR)值的理想仪器。此参数由附带的软件自动计算。

ARCspectro VIS-NIR DR分光光度计用于测量VIS和NIR的漫反射(360-2500nm)。参数

  • 标准测量范围 / Standard Measurement Range: : 4000 - 27800 cm-1
  • 最大分辨率 / Max Resolution: : 3cm-1

ARCspectro VIS-NIR DR分光光度计用于测量VIS和NIR的漫反射(360-2500nm)。图片集

ARCspectro VIS-NIR DR分光光度计用于测量VIS和NIR的漫反射(360-2500nm)。图1
ARCspectro VIS-NIR DR分光光度计用于测量VIS和NIR的漫反射(360-2500nm)。图2
ARCspectro VIS-NIR DR分光光度计用于测量VIS和NIR的漫反射(360-2500nm)。图3
ARCspectro VIS-NIR DR分光光度计用于测量VIS和NIR的漫反射(360-2500nm)。图4
ARCspectro VIS-NIR DR分光光度计用于测量VIS和NIR的漫反射(360-2500nm)。图5

ARCspectro VIS-NIR DR分光光度计用于测量VIS和NIR的漫反射(360-2500nm)。规格书

ARCspectro VIS-NIR DR分光光度计用于测量VIS和NIR的漫反射(360-2500nm)。厂家介绍

我们是欧洲领先的设计合作伙伴,提供定制解决方案以满足您的特定要求。访问我们独特的技术专业知识、以咨询设计为主导的方法和增值解决方案,以帮助在设计的任何阶段支持和交付您的项目。

相关内容

相关产品

图片名称分类制造商参数描述
  • 光电查
    Epsilon 1 Small, powerful and portable XRF analyzer光谱分析仪ASD Inc Div of Malvern Panalytical Inc

    小型、功能强大的便携式XRF分析仪Epsilon 1是一款完全集成的能量色散XRF分析仪,由光谱仪、内置计算机、触摸屏和分析软件组成。在激发和检测技术的较新进展的支持下,Epsilon 1是低成本台式仪器类中的明星产品。Epsilon 1产生快速、经济、精确和准确的数据,对操作员和样品制备的依赖性较小。因此,总运行成本比其他分析技术低得多,例如AAS、ICP和湿化学方法,这些方法成本高并且还需要专门的熟练操作员。

  • 光电查
    Mercury High Performance Digital Pulse Processor With Mapping Features光谱分析仪XIA LLC

    DXP Mercury将高速数字脉冲处理器封装在带有内置电源的紧凑桌面盒中。峰化时间范围为0.1至160µs,频谱中的较大输出(较短峰化时间)高达1Mcps。DXP Mercury具有出色的噪声性能,适用于使用单个探测器或多元素探测器阵列的扩展能量范围0.1-100 Kev及以上的高分辨率光谱学。Mercury处理器提供对所有放大器和光谱仪设置的计算机控制,包括增益、峰值时间和堆积检查标准。与模拟系统相比,梯形数字滤波器以相当的能量分辨率实现了显著增强的吞吐量。能量分辨率几乎与计数率无关,直到较大吞吐量(63%停滞时间)。完整的计算机界面允许所有数据收集和校准操作实现自动化。数据可以保存在多达16K通道的全频谱中,也可以保存在多达32个感兴趣区域(ROI)中,并在不中断数据收集的情况下传递给主机。DXP Mercury可与各种极性的复位型前置放大器配合使用。提供多种定时模式,包括具有完整MCA读数或多个ROI的快速扫描。即使在数据采集期间,板载内存管理器也可提供对数据的完全访问。对于具有快速扫描的死区操作,存储器可以被组织成两个独立的块,允许在一个块被填充的同时读出另一个块。USB2接口的峰值读出速度超过16 MB/秒。

  • 光电查
    QUASIR™ 2000E FIBER OPTIC FT-NIR SPECTROMETER光谱分析仪Galaxy Scientific Inc

    QuasiR™2000便携式光纤FT-NIR近红外光谱仪的设计初衷是为行业提供一种新型的NIR分析解决方案——该解决方案结合了将NIR分析更接近需求点所需的便携性,以及无与伦比的光谱性能,以获得较快、较准确的结果。QuasiR™2000提供了广泛的技术创新,包括我们的PerMALIGN™干涉仪光学器件、行业领先的采样附件设计,以及软件和算法的新概念,如用于低浓度靶向筛查的Advanced-ID™软件。QuasiR™2000的设计旨在确保直接校准传输,而无需标准化仪器或调整模型以适应过多的仪器变化。QuasiR™2000的核心是我们的PerMALIGN™光学技术,这是一种创新的光学设计,可在从常规到极端的条件下保持对准和性能。我们的技术和设计可确保无与伦比的一致性和直接方法传输,而不会损失性能,因此您可以放心地扩展您的QuasiR™车队。

  • 光电查
    AP2041B光谱分析仪Apex Technologies

    波长范围: 1525 to 1607 nm

    APEX Technologies的AP2041B是一款光谱分析仪,波长范围为1525至1607 nm,波长分辨率为0.04至160 pm@5 MHz至20 GHz,波长精度为±2至±3 pm,动态范围为83 dB,18 nm扫描时间为1秒。有关AP2041B的更多详细信息,请参见下文。

  • 光电查
    OSA203B光谱分析仪Thorlabs Inc

    波长范围: 1.0 to 2.6 µm

    Thorlabs Inc的OSA203B是一款光谱分析仪,波长范围为1.0至2.6µm,波长分辨率光谱分辨率:7.5 GHz(0.25 cm-1),波长精度光谱精度:±2 ppmf,动态范围光抑制比:30 dB,光功率范围10 MW(10 dBm)。有关OSA203B的更多详细信息,请参见下文。

相关文章

  • 新型高光谱相机技术为塑料回收带来了希望

    由于用于制造塑料的材料以及染料和阻燃剂等添加剂的多样性,塑料回收带来了重大挑战。据Newtec Engineering A/S公司的研发主管Bjarke Jørgensen称,要提高回收率,需要将塑料分离成成分纯正的部分。Jørgensen说,目前要求塑料碎片的纯度至少达到95%。

  • 纳米级光谱学支持光电子器件架构

    基于异质结构的二维半导体作为电子行业潜在的下一代材料正在吸引人们的注意。然而,由于其准粒子本身的物理特性不能被精确控制,这些材料的商业化具有挑战性。

  • 量子材料的Floquet工程

    量子材料是具有独特的电子、磁性或光学特性的材料,它是由电子在量子力学水平上的行为所支撑的。研究表明,这些材料与强激光场之间的相互作用可以激发出奇异的电子状态。

  • 什么是光热光谱学(Photothermal Spectroscopy)?

    一种被称为光热光谱的光学分析技术是研究暴露在辐射下的样品中因吸收光线而产生的热量的有力工具。