具有绘图功能的Mercury高性能数字脉冲处理器

DeltaTime TCSPC Lifetime插件提供了任何其他混合荧光解决方案都无法提供的采集速度、灵活性和可负担性。DeltaTime将单色仪、偏振器和其他附件与较广泛的光源（LED、激光二极管、超连续谱激光器）和探测器（包括NIR）无缝集成，在从UV到NIR的波长范围内提供从25ps到1秒的寿命覆盖。作为40多年生命周期经验的结晶，DeltaTime的亮点包括：较快的信号源（高达100 MHz）、较宽的生命周期范围（PS至sec）、几乎无限的可配置性和先进的生命周期分析软件。DeltaTime是我们Delta系列的一部分。真正的下一代荧光寿命系统。

2000系列近红外透射分析仪是一款功能强大的二极管阵列光谱仪，设计用于测量液体、粉末、颗粒和泥浆的透射光谱。2000系列NIT光谱仪可测量多种材料中的O-H（水和酒精）、N-H（蛋白质、酰胺和胺）和C-H键（脂肪、油、表面活性剂、碳水化合物和碳氢化合物）。应用包括石油化工，塑料，聚合物，化学品，纺织品和药品。2000系列的样品池可用于测量液体，泥浆，颗粒，颗粒，粉末，薄膜和编织材料。NTAS（NIR技术分析软件）包含在该系统中，并提供了一个全面的化学计量学软件包

Rigaku NEX LS采用先进的第三代能量色散X射线荧光（EDXRF）技术，代表了用于卷材或线圈应用的扫描多元素工艺涂层分析仪的下一次进化。能量色散X射线荧光（EDXRF）为了提供卓越的分析性能和可靠性，EDXRF测量头组件源自已建立的Rigaku NEX系列高分辨率台式仪器。凭借其成熟的技术，Rigaku NEX LS可对涂层重量、涂层厚度和/或成分进行快速、无损的多元素分析，适用于从铝（Al）到铀（thickness U）的元素。涂层厚度和成分Rigaku NEX LS专为卷筒纸和卷材应用而设计，能够执行多元素组合、涂层重量或涂层厚度。测量头安装在刚性梁上，并配备有位于滚轮上方的线性横动机构，以使头-面距离恒定。需要时，可直接测量涂层的元素组成。相反，涂层重量（或涂层厚度）可以直接测量（其中元素的计数率与厚度成比例）或通过测量一些基材元素的衰减来间接测量（其中计数率与厚度负相关）。长期以来，台式EDXRF光谱仪一直是脱模涂层、转换器、真空成型塑料制造商和其他使用硅油作为阻挡层、脱模涂层或脱模剂的行业所熟悉的技术。实时扫描，用于更严格的过程控制公差，将用于硅涂层分析的EDXRF技术提升到一个新的水平。硅酮涂层应用于塑料和纸质基材，以改变产品（如标签）或包装的释放特性。如果施加的硅酮太少，或者如果存在硅酮涂层缺失的幅材区域，则在剥离应用中粘合剂剥离性能将受到不利影响，或者真空成形塑料的脱嵌特性将受到损害，从而导致产品报废或在制造和其它下游工艺中中断。如果应用了太多的硅酮，则制造的辊的成本增加，降低了盈利能力，并且在某些情况下影响了较终产品的接受和性能。

波长范围: 1526.44 to 1568.77 nm

Viavi Solutions Inc.的OSA-610是一款光谱分析仪，波长范围为1526.44至1568.77 nm，波长分辨率为2.4 pm，动态范围为40至50 dB，扫描时间测量时间：分钟1.0秒，光功率范围为-60 dBm至10 dBm.有关OSA-610的更多详细信息，请参阅下文。

波长范围: 1 to 12 µm谱带: Infrared, Mid-Infrared

Bristol Instruments的771A-MIR激光光谱分析仪是一款光谱分析仪，波长范围为1至12µm，波长分辨率为0至74948114.5 nm（4 GHz（红外为8 GHz）），波长精度为±0.2 ppm（1和5µm），±1 ppm（5至12µm），光功率范围为-53.01至-38.24 dBm（0.005至0.15µW）。有关771A-MIR激光光谱分析仪的更多详细信息，请参见下文。