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参照光谱椭圆仪纳米薄膜-rse 光学计量

参照光谱椭圆仪纳米薄膜-rse

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德国
分类:光学计量
厂家:Halcyonics GmbH

更新时间:2024-04-19 14:40:59

型号:

参照光谱椭圆仪纳米薄膜-rse概述

Nanofilm_RSE是一种特殊类型的椭偏仪,它将样品与参考进行比较。以这种方式,可以测量样品和参考之间的椭圆偏振差。由于参考的取向,在测量过程中不需要移动或调制任何光学元件,并且可以在单次测量中获得完整的高分辨率光谱。通过这种方式,每秒可获得100个光谱。同步X-Y平台能够在几分钟内采集大视场薄膜厚度图。参考光谱椭偏仪将椭偏仪的高灵敏度和层厚区域(0.1nm-10µm)与市场上可用的较高速度相结合。与激光椭偏仪相比,它包括450和900nm之间的光谱信息。这在处理层的一个以上参数是可变的情况下是重要的,例如厚度和光密度。

参照光谱椭圆仪纳米薄膜-rse参数

  • 光谱范围 / Spectral Range: : 450 - 900 nm
  • 光谱分辨率 / Spectral Resolution: : 1000nm
  • 入射角 / Angle Of Incidence: : 1 - 1 deg

参照光谱椭圆仪纳米薄膜-rse图片集

参照光谱椭圆仪纳米薄膜-rse图1
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参照光谱椭圆仪纳米薄膜-rse图10
参照光谱椭圆仪纳米薄膜-rse图11
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参照光谱椭圆仪纳米薄膜-rse图13
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参照光谱椭圆仪纳米薄膜-rse图20
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参照光谱椭圆仪纳米薄膜-rse图26
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参照光谱椭圆仪纳米薄膜-rse图29
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参照光谱椭圆仪纳米薄膜-rse图31
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参照光谱椭圆仪纳米薄膜-rse图33
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参照光谱椭圆仪纳米薄膜-rse图36
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参照光谱椭圆仪纳米薄膜-rse图38
参照光谱椭圆仪纳米薄膜-rse图39
参照光谱椭圆仪纳米薄膜-rse图40

参照光谱椭圆仪纳米薄膜-rse规格书

参照光谱椭圆仪纳米薄膜-rse厂家介绍

自1991年以来,Accurion已成为成像椭偏仪和布鲁斯特角显微镜的做的较好的。我们的主要专长是将光学表面分析与显微镜技术相结合。这使得能够在微观特征(如MEMS、微流体、生物阵列、OLED像素等)上对表面和薄膜进行非接触表征。 我们的系统已用于石墨烯和2D材料、喷墨打印、集成光子学和波导、脂质层等新应用,并且其数量正在增加。 系统的模块化和大量附件允许用于科学研究以及生产线的集成设备。

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