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下载规格书 成像椭圆仪Nanofilm-ep4概述
成像椭圆仪Nanofilm-ep4参数
- 光谱范围 / Spectral Range: : 250 - 1700 nm
- 光谱分辨率 / Spectral Resolution: : 300nm
- 入射角 / Angle Of Incidence: : 1 - 1 deg
成像椭圆仪Nanofilm-ep4图片集
成像椭圆仪Nanofilm-ep4规格书
成像椭圆仪Nanofilm-ep4厂家介绍
自1991年以来，Accurion已成为成像椭偏仪和布鲁斯特角显微镜的做的较好的。我们的主要专长是将光学表面分析与显微镜技术相结合。这使得能够在微观特征（如MEMS、微流体、生物阵列、OLED像素等）上对表面和薄膜进行非接触表征。
我们的系统已用于石墨烯和2D材料、喷墨打印、集成光子学和波导、脂质层等新应用，并且其数量正在增加。
系统的模块化和大量附件允许用于科学研究以及生产线的集成设备。
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图片名称分类制造商参数描述
- 228B OPTICAL WAVELENGTH METER光学计量Bristol Instruments Inc
228光学波长计采用成熟的基于光学干涉仪的设计，以较高精度测量CW激光器的波长。提供两个版本。228A型是较精确的，测量波长的精度为±0.3 pm。对于不太严格的测试要求，228B型是一种价格较低的替代产品，波长精度为±1.0 pm。
- 428A MULTI-WAVELENGTH METER光学计量Bristol Instruments Inc
428多波长测量仪将成熟的基于迈克尔逊干涉仪的技术与快速傅里叶变换分析相结合，以测量多达1000个离散光信号的波长、功率和OSNR。波长测量精度高达±0.3 pm，功率测量精度为±0.5 dB。此外，428系统会自动计算OSNR，使其大于40 dB。
- 438A MULTI-WAVELENGTH METER光学计量Bristol Instruments Inc
438系列多波长计将基于迈克尔逊干涉仪的成熟技术与快速傅里叶变换分析相结合，以测量多达1000个离散光信号的波长、功率和光信噪比。凭借高精度、高达10 Hz的测量速率以及1000至1680 nm的宽工作范围等特性，438型可提供较精确、高效和通用的WDM波长测试，以满足任何制造工程师的需求。
- XPLOR-100 3D Optical Inspection Station光学计量M3 Measurement Solutions
Xplor 100是一种先进的全自动计量装置，设计用于测量和分析可见光和NIR波段的光学基板的气泡和夹杂物。
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