Prism pro ir 折射仪

228光学波长计采用成熟的基于光学干涉仪的设计，以较高精度测量CW激光器的波长。提供两个版本。228A型是较精确的，测量波长的精度为±0.3 pm。对于不太严格的测试要求，228B型是一种价格较低的替代产品，波长精度为±1.0 pm。

671激光波长计采用基于迈克尔逊干涉仪的成熟设计来测量CW激光器的绝对波长。有两个版本可用。671A型是较精确的，测量波长的精度为百万分之±0.2（1000 nm时为±0.0002 nm）。对于不太严格的实验，671B型是一种价格较低的替代产品，精度为百万分之±0.75（1000 nm时为±0.0008 nm）。

671激光波长计采用基于迈克尔逊干涉仪的成熟设计来测量CW激光器的绝对波长。有两个版本可用。671A型是较精确的，测量波长的精度为百万分之±0.2（1000 nm时为±0.0002 nm）。对于不太严格的实验，671B型是一种价格较低的替代产品，精度为百万分之±0.75（1000 nm时为±0.0008 nm）。

828系列高速光学波长计采用干涉仪技术，该技术与用于WDM波长测试应用的其他波长计所采用的技术有很大不同。Fizeau标准具设计用于产生由快速InGaAs光电探测器阵列检测的空间干涉图。使用板载数字信号处理器，干涉测量数据被快速处理为精确的波长测量。这些技术的组合提供了无与伦比的1 kHz持续测量速率。

新一代显微薄膜、表面和材料计量工具采用自动归零椭圆偏振术和显微镜相结合的方法，能够以小至1微米的横向分辨率进行表面表征。这能够分辨比大多数非成像椭偏仪小1000倍的样品区域，即使它们使用微点光谱选项。Nanofilm_EP4使用各种独特的功能，允许实时可视化您的表面。您将在微观尺度上看到样品的结构，并测量厚度、折射率和吸收等参数。可以记录选定区域的3D剖面图。与AFM、QCM-D、反射计、拉曼光谱等其他技术的仪器组合有可能从您的样品中获得更多信息。