Twyman-Green干涉仪是用于测试光学元件的干涉仪。它是由Frank Twyman和Arthur Green在1916年发明的。
NSLI-632-2 N-Slit激光干涉仪
更新时间:2024-04-19 14:40:59
参数
- 干涉仪配置 / Interferometer Configuration: : Not Specified
- 光源 / Light Source: : 632 nm or 633nm
- 输出极化 / Output Polarization: : Not Specified
- 有效值重复性 / RMS Repeatability: : Not Specified
- 有效值精度 / RMS Precision: : Not Specified
图片集
规格书
厂家介绍
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