M-WAVE 339 MWIR干涉仪

AZP 200 HP是一款适用于许多光学生产领域的较佳多功能固井装置。由于各种安装和选项，AZP 200 HP可以完美地适应所有特殊的固井和定心任务。

新的M，F&A Mark IV全光纤多普勒速度干涉仪系统在测量和记录瞬时速度与时间历程方面提供了增强的能力。两个版本的Mark IV系统现已投入使用。较初的Mark IV系统已在世界各地使用，并在目标表面具有合理反射的情况下提供了出色的结果。在较新版本的Mark IV中，我们升级到了新的超窄线宽激光器，以提高速度分辨率。这些系统还采用了较新的发展，如新的镍金属氢化物电源和充电系统。新的前面板布置包括一个“平衡”旋钮，可轻松均衡“正弦”和“余弦”信号幅度，以及一个数字电池电压监测器。新系统内置在1U机架安装机箱中，如果需要，可以在以后通过添加EDFA轻松升级到Mark IV-3000。Mark IV-3000采用基于相同超窄线宽种子激光器的全新系统架构，但该版本集成了+30 dB的EDFA将来自边缘目标表面的相对较弱的回光提升到在检测端给出高信噪比的水平。反射回光的这种提升相当于在目标上施加3000mW的激光功率。

通常，基于多棱镜扩束和数字检测，狭缝干涉仪允许透射光学表面的快速干涉测量表征。与传统的逐点非相干显微密度计和逐点非相干显微镜相比，这是一个显著的进步。

L01是皮级激光干涉仪的传感头。目标光束用柱面透镜仅沿一个轴聚焦，从而产生线聚焦。这样，传感器头沿着聚焦轴具有相对大的角度工作范围，同时沿着正交轴具有大的直径。通常，这些传感器头用于测量旋转圆柱形物体的偏心运动，并且对其摆动（即旋转轴的倾斜/倾斜）不敏感。

非接触式镜片测量系统，不损伤镜片表面 镜片表面 - - 坚固的减震设计 设计紧凑，可方便地直接安装在抛光机旁 可直接安装在抛光机旁 - 比测试板更安全、更精确 - 带千分尺螺钉的三轴微调平台 包括我们的高级干涉仪模块OptoTech 微型EL-F数字式检测仪 使用高质量的OptoTech 60mm基准球面仪 测量范围从微型光学元件到4英寸光学元件