扫描仪

2830 ZT波长色散X射线荧光（WDXRF）晶片分析仪提供了测量薄膜厚度和成分的先进能力。2830 ZT晶片分析仪专为半导体和数据存储行业而设计，可用于测定厚度达300 mm的各种晶片的层成分、厚度、掺杂剂水平和表面均匀性。请求报价

高端IrTracer-100傅里叶变换红外（FTIR）光谱仪可满足您对提高FTIR光谱速度和精度的需求。IrTracer-100 FTIR光谱仪将高速度、高灵敏度和高分辨率与增强的可扩展性和易于使用的FTIR软件相结合，可快速轻松地获得制药、食品、化学品和电子等领域样品的高质量FTIR光谱。

Rigaku NEX OL采用先进的第三代能量色散X射线荧光（EDXRF）技术，代表了液流和固定位置网络或线圈应用的工艺元素分析的下一次进化。NEX OL的设计涵盖了从重工业到食品级的过程测量解决方案，可配置用于分类和非分类领域。从铝（Al）到铀（₂U）的分析为了提供卓越的分析性能和可靠性，EDXRF测量头组件源自已建立的Rigaku NEX QC高分辨率台式仪器。凭借这一成熟的技术，Rigaku NEX OL可对从铝（Al）到铀（U）的元素进行快速、无损的多元素分析——从百万分率（ppm）水平到高重量百分比（wt%）浓度。Rigaku NEX OL配备50 kV X射线管和SDD探测器，以及标准化、优化的管式过滤器套件，旨在解决广泛的过程控制应用。

Rigaku NEX QC能量色散X射线荧光（EDXRF）分析仪可快速定量测定各种船用燃料中的硫：非破坏性地分析硫（S）至低ppm水平分析镍（Ni）、钒（V）和铁（Fe）（如需要）分析锌（Zn）以确定燃油是否受到污染半导体探测器具有卓越的可靠性现代触摸屏“图标驱动”用户界面方便的内置热敏打印机低成本，无与伦比的性价比ASTM D4294和ISO 8754测定硫的方法

PC1是一款高灵敏度、紧凑型、计算机控制的光子计数荧光光谱仪，设计用于物理化学、生物化学、生理学、神经化学、分子生物学、环境分析和免疫分析研究。