Philin Geo - Philin Geo高清发光镜

2830 ZT波长色散X射线荧光（WDXRF）晶片分析仪提供了测量薄膜厚度和成分的先进能力。2830 ZT晶片分析仪专为半导体和数据存储行业而设计，可用于测定厚度达300 mm的各种晶片的层成分、厚度、掺杂剂水平和表面均匀性。请求报价

CropScan 3300H是一款功能强大的近红外透射光谱仪，能够测量谷物和油籽在联合收割机中剥离时的蛋白质、油和水分。CropScan 3300H在谷物从净谷升运器取样时对其进行测量。当光线穿过样品时，谷物落入远程采样头中，在那里停留几秒钟。光纤电缆收集传输的光，并将其发送到位于机舱内的近红外光谱仪。安装在舱内的触摸屏平板电脑控制系统，并实时显示蛋白质、油和水分数据。每7-12秒收集一次数据，并将其显示在触摸屏PC上，显示面元平均值、场平均值和实时蛋白质图谱。该软件将数据发送到互联网上，可以使用PC、平板电脑或智能手机进行监控。联合收割机分析仪上的CropScan 3300H已安装在世界各地的John Deere、Case、New Holland、Claas、Massey Ferguson和Gleaner联合收割机上。

IRAFFINITY-1S FTIR光谱仪的设计考虑到了教学和一般研究实验室。尽管设计紧凑，但它提供了所有FTIR技术的全部功能，包括透射、漫反射和衰减全反射（ATR）。全尺寸样品室可容纳各种附件，以满足各种应用要求。新的LabSolutions IR软件具有直观的用户界面、包含12，000个光谱的广泛光谱库和用户友好的宏，可轻松操作并提高工作效率。此外，还有许多可选程序，包括时程分析和高级显微镜软件，可满足所有现代实验室的需求。

Rigaku NEX OL采用先进的第三代能量色散X射线荧光（EDXRF）技术，代表了液流和固定位置网络或线圈应用的工艺元素分析的下一次进化。NEX OL的设计涵盖了从重工业到食品级的过程测量解决方案，可配置用于分类和非分类领域。从铝（Al）到铀（₂U）的分析为了提供卓越的分析性能和可靠性，EDXRF测量头组件源自已建立的Rigaku NEX QC高分辨率台式仪器。凭借这一成熟的技术，Rigaku NEX OL可对从铝（Al）到铀（U）的元素进行快速、无损的多元素分析——从百万分率（ppm）水平到高重量百分比（wt%）浓度。Rigaku NEX OL配备50 kV X射线管和SDD探测器，以及标准化、优化的管式过滤器套件，旨在解决广泛的过程控制应用。

波长范围: 1200 to 1650 nm谱带: IR

横河电机（Yokogawa Electric Corporation）的AQ6360是一款光谱分析仪，非常适合激光、光学收发器和光学放大器等电信设备的工业制造。它的波长范围为1200至1650纳米，基于衍射光栅技术。该分析仪具有20至-80 dB的宽测量范围和55 dB的动态范围。它支持单模和多模光纤。OSA具有内置分析功能以及以太网和GPIB远程接口。