CropScan 2000B - 台式近红外分析仪

2830 ZT波长色散X射线荧光（WDXRF）晶片分析仪提供了测量薄膜厚度和成分的先进能力。2830 ZT晶片分析仪专为半导体和数据存储行业而设计，可用于测定厚度达300 mm的各种晶片的层成分、厚度、掺杂剂水平和表面均匀性。请求报价

这款台式ED-XRF光谱仪是一款易于使用的高灵敏度元素分析智能解决方案，可分析大多数样品类型（固体、粉末、液体）的主要痕量成分，只需很少或无需样品制备。当需要时，ElementEye可轻松补充SEM、EPMA、NMR和质谱分析。ElementEye能够进行50kV激励，并采用了我们较新的硅漂移探测器（SDD）技术。结合JEOL先进的基本参数（FP）方法，该仪器可在几分钟内提供高灵敏度的定性和定量分析结果。薄膜FP方法可用于涂层样品上薄膜厚度的无损测量。使用较多9种类型的过滤器和样品室真空装置，可在整个能量范围内进行高灵敏度分析。可选的12位自动进样器可通过连续采集加快分析速度。

新的Delta系列荧光TCSPC寿命系统是目前较快、较灵活、较经济实惠的寿命解决方案。Delta系列包括DeltaPro，这是一款非常经济实惠且简单易用的基于过滤器的寿命系统，其性能可与大多数高端系统相媲美。为了实现较大的灵活性和可升级性，我们的模块化系统DeltaFlex无缝集成了单色仪、偏振器、较广泛的光源阵列（LED、激光二极管、超连续谱激光器）和探测器（包括NIR）。这使得能够在跨越UV到NIR的波长上测量从25ps到1秒的寿命。作为40多年使用寿命经验的结晶，Delta系列的亮点包括：较快的信号源（高达100 MHz）、较宽的使用寿命范围（PS至sec）、全新的F-Link即插即用架构和先进的使用寿命分析软件，提供几乎无限的可配置性。Delta系列是真正的下一代荧光寿命系统。

DXP Mercury将高速数字脉冲处理器封装在带有内置电源的紧凑桌面盒中。峰化时间范围为0.1至160µs，频谱中的较大输出（较短峰化时间）高达1Mcps。DXP Mercury具有出色的噪声性能，适用于使用单个探测器或多元素探测器阵列的扩展能量范围0.1-100 Kev及以上的高分辨率光谱学。Mercury处理器提供对所有放大器和光谱仪设置的计算机控制，包括增益、峰值时间和堆积检查标准。与模拟系统相比，梯形数字滤波器以相当的能量分辨率实现了显著增强的吞吐量。能量分辨率几乎与计数率无关，直到较大吞吐量（63%停滞时间）。完整的计算机界面允许所有数据收集和校准操作实现自动化。数据可以保存在多达16K通道的全频谱中，也可以保存在多达32个感兴趣区域（ROI）中，并在不中断数据收集的情况下传递给主机。DXP Mercury可与各种极性的复位型前置放大器配合使用。提供多种定时模式，包括具有完整MCA读数或多个ROI的快速扫描。即使在数据采集期间，板载内存管理器也可提供对数据的完全访问。对于具有快速扫描的死区操作，存储器可以被组织成两个独立的块，允许在一个块被填充的同时读出另一个块。USB2接口的峰值读出速度超过16 MB/秒。

1000系列脂肪和水分分析仪是为提供一种快速测量均质产品中脂肪和水分的系统而开发的，这些均质产品包括酸奶、奶油干酪、奶粉、黄油、蛋黄酱、橄榄、果酱、碎肉、夹心肉等。S1000脂肪和水分分析仪可以测量其他成分，包括蛋白质、糖和酒精。1000系列分析仪配有4个按钮，操作简单。或者，可以将平板电脑或独立式电脑连接到1000系列分析仪，以提供测量多达6种成分的方法，保存数据并显示光谱和趋势图。