散粒噪声（Shot Noise）是一种量子极限强度噪声，它的出现源于电子的离散性。在早期的电子学和电信技术中，人们发现在电流中存在一种随机的、不可预测的噪声。这种噪声与电流的大小无关，但与电流通过的速率有关。这就是散粒噪声的诞生背景。
散粒噪声的理论基础是基于量子力学中的泊松过程。在泊松过程中，每个事件（例如电子通过一个电路）都是独立的，且在任何给定的时间间隔内发生的概率是常数。这意味着电子通过电路的时间间隔是随机的，这就产生了噪声。散粒噪声的强度由以下公式给出：
I = 2eIB
其中，I是噪声电流，e是电子电荷，I是直流电流，B是带宽。这个公式说明，散粒噪声的强度与直流电流和带宽成正比。
散粒噪声在许多科学和工程领域都有应用。例如，在电信技术中，散粒噪声是信号传输中的一个重要因素。在物理学中，散粒噪声可以用来测量电子的基本性质，如电荷和自旋。此外，散粒噪声还在生物学中有应用，例如在神经元的电信号传输中。
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