OptoTherm Inc

2002年，我们开发了先进的用于电路板故障分析的热成像系统，此后扩展到半导体故障分析和显微热分析。为了创建包括硬件和软件在内的紧密集成系统，我们设计和制造了自己的长波长热成像相机、红外镜头、热电控制器和图像分析/测试软件。我们目前正在开发一系列新的短波长InGaAs相机，用于半导体失效分析和测试。我们的制造工厂位于美国宾夕法尼亚州塞威克利，自2020年以来，我们一直保持着ISO 9001质量管理体系认证。