由于其在3D人脸识别、增强/虚拟现实、机器人和自动驾驶汽车等人工智能驱动技术中的潜在应用,对近红外(NIR)和短波红外(SWIR)光谱中的高像素、低成本焦平面阵列的需求激增。传统的SWIR光电二极管依赖于晶体锗(Ge)或砷化铟镓(InGaAs),其局限性包括高暗电流和复杂的制造工艺。有机半导体的出现提供了一个很有前途的替代方案,具有更容易制造和可调谐光学特性的潜力。
FDS
更新时间:2024-04-19 14:40:59
FDS概述
光子科学公司的 X 射线 FDS 是一种高分辨率(1392 x 1040 像素)X 射线数字探测器。它配备了直接耦合(微型)光纤输入,可保护传感器免受辐射损伤。
FDS参数
- 有效区域 / Active Area : 50 mm x 40 mm
FDS详述
X 射线数字探测器的有效面积达 50 毫米 x 40 毫米,分辨率为 6 百万像素。相机上安装有一个定制的闪烁体,可探测 12 keV 至 300 keV 的电压。还可提供带有多个模块的阵列版本,分辨率高达 2400 万像素。
X 射线 FDS 6.02 MP 分辨率高达 1.5 fps 或 6 fps(2 x 2 分档),可实现实时采集。集成快门可实现无污点、无快门采集,即使曝光时间低至微秒级。
在线性扫描模式或本地子区域模式下使用时,可实现大于 10 帧/秒的帧频。
设备服务器驱动程序控制可通过现有的图形用户界面进行远程采集。相机具有本地 14 位采集模式和 18 位扩展动态范围模式。
主要特点
阵列尺寸: 多个模块,尺寸为 100 x 80 毫米/200 x 40 毫米
输入尺寸 单个模块尺寸为 50 x 40 毫米
同时集成/读出可实现 100% 占空比采集
闪烁体 Gadox:Tb 适用于 5 至 55 千伏,结构化 CSI 闪烁体适用于 20 至 300 千伏
提供 OEM 版本
应用
X 射线 PCB 测试
X 射线微层析成像
X 射线源鉴定
相位对比成像
X 射线镜和光学器件校准
X 射线射线照相术
FDS规格书
FDS厂家介绍
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