X-fiz 130 PS2

新的M，F&A Mark IV全光纤多普勒速度干涉仪系统在测量和记录瞬时速度与时间历程方面提供了增强的能力。两个版本的Mark IV系统现已投入使用。较初的Mark IV系统已在世界各地使用，并在目标表面具有合理反射的情况下提供了出色的结果。在较新版本的Mark IV中，我们升级到了新的超窄线宽激光器，以提高速度分辨率。这些系统还采用了较新的发展，如新的镍金属氢化物电源和充电系统。新的前面板布置包括一个“平衡”旋钮，可轻松均衡“正弦”和“余弦”信号幅度，以及一个数字电池电压监测器。新系统内置在1U机架安装机箱中，如果需要，可以在以后通过添加EDFA轻松升级到Mark IV-3000。Mark IV-3000采用基于相同超窄线宽种子激光器的全新系统架构，但该版本集成了+30 dB的EDFA将来自边缘目标表面的相对较弱的回光提升到在检测端给出高信噪比的水平。反射回光的这种提升相当于在目标上施加3000mW的激光功率。

干涉仪是光学生产和质量控制中不可缺少的测量工具。它们用于各种各样的应用。例如，光学表面的平面度和球度检测、半径测量以及光学系统的波前检测。VI系列干涉仪有两种版本：干涉仪VI-Vario和干涉仪VI-Direct。两个版本的不同之处在于仪器中使用的相机类型。干涉仪VI-Vario包含一个模拟摄像机，可连接电视监视器。干涉仪Vi-Direct配有基于USB的数码相机。与模拟摄像机相比，该摄像机具有更高的横向分辨率。它允许干涉图像的三倍数字缩放，因此可以测试较小的零件。另一个优点是降低了对外部干扰（例如振动）的敏感性。

通常，基于多棱镜扩束和数字检测，狭缝干涉仪允许透射光学表面的快速干涉测量表征。与传统的逐点非相干显微密度计和逐点非相干显微镜相比，这是一个显著的进步。

固体标准具通常具有熔融石英衬底，其材料等级（例如UV-可见光或IR）取决于光谱区域。通常，对表面进行研磨、抛光和加工，使其平整度优于L/100，表面之间具有类似质量的平行度。电介质（或很少是金属）涂层提供所需精细度所需的反射率。

波长: 3000 to 4400 nm探测器类型: Photodiode

Thorlabs Inc的SA200-30C是一款干涉仪，自由光谱范围（FSR）为1.5 GHz，波长为3000至4400 nm.有关SA200-30C的更多详细信息，请参阅下文。