PhaseCam Vacuum-Compatible

Daisi MT FP将Daisi MT-V3与Data-Pixel（正在申请专利）的新型浮动Pastille夹具技术相结合。这是多光纤连接器夹具的重大技术突破，非常适合高精度X/Y端面角度测量。使用浮动Pastille夹具，测量结果完全不受光纤电缆和操作员的影响。Floating Pastille非常适合检查安装有重型电缆的连接器。在浮动锭剂的帮助下，Daisi MT-V3现在更易于操作，而不会影响其现有的任何功能：测量精度、再现性、速度和鲁棒性。现在不需要校准，因为它是工厂设置的，每个夹具，由数据像素。

C01是皮级干涉仪的标准传感头类型。由于其准直输出光束、紧凑的外形和各种定制选项，它适用于较常见的应用。每个传感器头（见图1）基于两个主要组件：准直光纤输出光束的透镜系统和将光束分为参考光束和探测光束的分束器。参考光束被内部参考镜反射，该内部参考镜被涂覆到分束器立方体的一侧。探测光束从头部射出并被目标表面反射，以跟踪其相对位移。分束器的前表面标记每个皮级测量的绝对零位置，因为在这里探针和参考光束具有相等的长度。

波长: 632.8 nm

4D Technology的PhaseCam 6010是一款动态Twyman-Green干涉仪，工作波长为632.8 nm.它有一个400万像素的摄像头，可对所有内部功能进行全电动控制，并可对光路测量进行轴上照明和成像。该圆偏振干涉仪具有光纤耦合头和激光源模块，可提供1.5 MW的输出功率，并在FWHM下产生直径为7 mm的光束。PhaseCam 6010具有动态干涉测量技术，该技术使用单个相机高速光学相位传感器在小于30&μs的时间内进行波前测量。该干涉仪的采集速率超过15帧/秒，可在几乎任何条件下使用，无需隔振。PhaseCam 6010功耗高达750 W，采用尺寸为18 X 16.2 X 9.1 cm（测量头）的封装，配有48.3 X 20.3 X 11.9 cm激光源。它是米级望远镜光学系统、大型成像系统校准、真空和环境室测试、测试计算机生成全息图和生产车间质量控制应用的理想选择。

Arden Photonics的VFI-2000是一种干涉检测系统，设计用于检查劈开或抛光光纤的表面质量和平整度。它具有640万像素CMOS图像传感器和12位ADC，采用1/1.8英寸光学格式，可提供2000μm的视场和X6数码变焦。该干涉仪可以在2D和3D中分析直径为400-2000µm的光纤，使用户能够全面了解切割或抛光过程。它可以在7秒内测量高达8°的2D模式（实时）和4°的3D模式的解理角。该干涉仪的高度分辨率为0.01μm，可在自动或手动模式下测量端角。它还具有检查和条纹模式，并且还可以生成3D端面高度图。VFI-2000可通过USB 3.0接口进行控制，该接口也可用作电源。它采用台式模块，尺寸为240 X 240 X 90 mm，非常适合光纤研发、设备尾纤、斜角切割器开发/测试、精密切割器、激光、医疗设备、特种光纤、LDF切割器、光纤端盖和多光纤束制造应用。

波长: 1225 to 1375 nm探测器类型: PIN

Thorlabs公司的INT-MZI-1300是一款干涉仪，自由光谱范围（FSR）为103.3 GHz，波长为1225至1375 nm.有关INT-MZI-1300的更多详细信息，请参阅下文。